本发明专利技术公开了一种用于深腔小平面的测量装置及使用方法，包括尺身、尺框、盖板、游标框架和连接结构，尺身设置为T型结构，所述尺框设置为Y型开口结构，尺身和尺框同轴设置，尺身设置在尺框内，尺身和尺框通过连接，尺身和尺框的末端通过游标框架连接，所述游标框架通过连接结构连接尺身和尺框，尺身和尺框分别和待测量的对称结构端面接触，所述尺身上设置有读数坐标。将测量装置的轴线与待测量平面垂直，将测量装置的第一接触面抵住第一对称结构的端面，将测量装置的第一端面抵住第二对称结构的端面；待测量装置达到稳定后，通过尺身设置的读数坐标进行读数，得到待测量高度差。解决了以往测量的难题，大大缩短了装配周期，提高生产效率。产效率。产效率。
【技术实现步骤摘要】
一种用于深腔小平面的测量装置及使用方法
[0001]本专利技术涉及深腔高度测量领域，具体为一种用于深腔小平面高度差的测量装置及使用方法。
技术介绍
[0002]如果使用深度尺测量，则微量的偏斜也易造成较大误差；如果使用游标卡尺测量，由于待测平面尺寸小，游标卡尺与零件之间为小平面接触，难以对两个环形结构件的端面进行快速精确地定位，且测量环境位于深腔底部，空间狭窄，难以进行复杂手动辅助定位操作，测量效率较低。
[0003]因此，对于深腔小平面零组件的高度差的测量，不能使用传统装置测量，而需要参照零件结构设计出其它可以测量的设备。
[0004]如何合理利用该类零组件的零件结构解决深腔小平面高度差测量的问题，从而进行快速精确的测量，这对组件装配显得尤为重要。
[0005]如图1、图3所示，具体当我们在某涡扇发动机低压涡轮单元体装配中，低压涡轮轴前端与风扇轴相联，通过套齿传递扭矩，轴向靠凸肩与低压转子连接螺帽固定，依靠端面定位。低压涡轮轴与转子支承锥盘用螺栓相连，止口定位。此时，需要测量低压涡轮轴前端与低涡转子连接螺母前端的轴向高度差ZL，该高度差由两套设的圆环形端部造成，本案例测量位置处于一深腔处，深度大约有300mm，平面宽度约为1mm，属于深腔小平面，测量的高度差较小，在本示例中高度差为2.5mm，且低涡转子连接螺母和低压涡轮轴前端壁厚均为1mm，在维修单元体内腔深度大约有300mm，半径R值为60mm，若使用深度尺测量高度差ZL，由于待测平面处于内腔深处，深度较大(300mm)，而测量的高度差较小，深度尺测量易造成较大误差；若使用游标卡尺测量，由于低压涡轮轴前端壁厚仅为1mm，无法提供稳定精确地定位面，这就导致现有的读数装置会导致测量工具的使用受限，且测量误差较大的问题。
[0006]因此，现急需一种对深腔小平面高度差进行快速精确测量的装置。
技术实现思路
[0007]针对现有技术中存在深腔环境下的对称结构的端面高度差测量测量困难，且误差较大的问题，本专利技术提供一种用于深腔小平面的测量装置及使用方法，通过该测量装置的结构设置，有效的解决了对于深腔环境下的双圆环结构的端面高度差测量，该测量装置的使用方便快捷。解决了以往测量的难题，大大缩短了装配周期，提高生产效率。
[0008]本专利技术是通过以下技术方案来实现：
[0009]一种用于深腔小平面的测量装置，包括尺身、尺框、盖板、游标框架和连接结构，所述尺身设置为T型结构，所述尺框设置为Y型开口结构，所述尺身和尺框同轴设置，所述尺身设置在尺框内，所述尺身和尺框通过连接，所述尺身和尺框的末端通过游标框架连接，所述游标框架通过连接结构连接尺身和尺框，所述尺身和尺框分别和待测量的对称结构端面接触，所述尺身上设置有读数坐标。
[0010]进一步的，所述尺身包括第一端面，所述尺框包括第一接触面，所述第一接触面和第一端面平行。
[0011]进一步的，所述尺身和尺框之间的配合连接，通过尺框上的滑轨和尺身的侧壁配合连接。
[0012]进一步的，所述待测量的对称结构包括第一对称结构和第二对称结构，所述第一对称结构和第二对称结构设置为同心圆，所述第一对称结构直径小于第二对称结构，所述第一对称结构高度大于第二对称结构。
[0013]进一步的，所述尺身和尺框分别和待测量的对称结构端面接触时，所述尺身和待测量的第一对称结构的端面接触，所述尺框和待测量的第二对称结构的端面接触。
[0014]进一步的，所述尺框的宽度小于待测量结构所处深腔的内缘宽度。
[0015]进一步的，所述盖板通过连接结构设置在尺框上，所述、尺身、尺框依次连接。
[0016]进一步的，所述尺框和尺身的长度长于带测量结构所处深腔的深度。
[0017]进一步的，所述游标框架的一侧设置有调节螺母，所述调节螺母贯穿连接游标框架和尺身。
[0018]一种基于上述用于深腔小平面的测量装置的使用方法，其特征在于，所述使用方法包括以下步骤：
[0019]S1：将测量装置的轴线与待测量平面垂直；
[0020]S2：将测量装置的第一接触面抵住第一对称结构的端面；
[0021]S3：将测量装置的第一端面抵住第二对称结构的端面；
[0022]S4：待测量装置达到稳定后，通过尺身设置的读数坐标进行读数，得到待测量高度差。
[0023]与现有技术相比，本专利技术具有以下有益的技术效果：
[0024]本专利技术提供一种用于深腔小平面的测量装置及使用方法，通过该测量装置的结构设置，有效的解决了对于深腔环境下的对称结构的端面高度差测量，该测量装置的使用方便快捷。解决了以往测量的难题，大大缩短了装配周期，提高生产效率。
[0025]进一步的，本专利技术的测量装置的定位点在于第二对称结构连接时设置了两个定位面，在实际的使用中能够对测量效果起到保证，在第一对称结构通过采用一体的平面对内环的第一端面进行定位，该部分的结构设置在保证测量效果的同时，还能够为测量装置自身的稳定性起到保证。
[0026]进一步的，采用本测量装置的使用方法能够有效保证实际的测量结果，大大减少误差的产生，同时，将尺身和尺框的长度高于带测量端面的深度的设置，能够有效规避深腔狭窄空间对操作的影响，该设置能够有效扩大操作空间，保证读数的准确性。
附图说明
[0027]为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0028]图1为低涡转子连接螺母和低压涡轮轴进行测量时的深腔环境；
[0029]图2为低涡转子连接螺母和低压涡轮轴进行测量时的位置关系示意图；
[0030]图3为本专利技术实施例提供的一种用于深腔小平面高度差的测量装置的结构示意图；
[0031]图4为专利技术实施例提供的一种用于深腔小平面高度差的测量装置的尺身的结构示意图；
[0032]图5为专利技术实施例提供的一种用于深腔小平面高度差的测量装置的尺框的结构示意图；
[0033]图6为专利技术实施例提供的一种用于深腔小平面高度差的测量装置测量时的位置结构简图；
[0034]图7为专利技术实施例提供的一种用于深腔小平面高度差的测量装置测量时和待测结构的位置结构简图；
[0035]图8为专利技术实施例提供的一种用于深腔小平面高度差的测量装置实际工作的位置结构图；
[0036]图中：尺身1、尺框2、盖板3、游标框架4、第一螺钉5、第二螺钉6、第一端面11、第二端面12、第一接触面21、第一对称结构31、第二对称结构32、低压涡轮轴41、低涡转子连接螺母42。
具体实施方式
[0037]在下文中，仅简单地描述了某些示例性实施例。正如本领域技术人员可认识到的那样，在不脱离本专利技术的精神或范围的情况下，可通过各种不同方式修改所描述的本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种用于深腔小平面的测量装置，其特征在于，包括尺身(1)、尺框(2)、盖板(3)、游标框架(4)和连接结构，所述尺身(1)设置为T型结构，所述尺框(2)设置为Y型开口结构，所述尺身(1)和尺框(2)同轴设置，所述尺身(1)设置在尺框(2)内，所述尺身(1)和尺框(2)通过盖板(3)连接，所述尺身(1)和尺框(2)通过游标框架(4)连接，所述游标框架(4)通过连接结构连接尺身(1)和尺框(2)，所述尺身(1)和尺框(2)分别和待测量的对称结构端面接触，所述尺身(1)上设置有读数坐标。2.根据权利要求1所述的一种用于深腔小平面的测量装置，其特征在于，所述尺身(1)包括第一端面(11)，所述尺框(2)包括第一接触面(21)，所述第一接触面(21)和第一端面(11)平行。3.根据权利要求1所述的一种用于深腔小平面的测量装置，其特征在于，所述尺身(1)和尺框(2)之间的配合连接，通过尺框(2)上的滑轨和尺身(1)的侧壁配合连接。4.根据权利要求1所述的一种用于深腔小平面的测量装置，其特征在于，所述待测量的对称结构包括第一对称结构(31)和第二对称结构(32)，所述第一对称结构(31)和第二对称结构(32)设置为同心圆，所述第一对称结构(31)直径小于第二对称结构(32)，所述第一对称结构(31)高度大于第二对称结构(32)。5.根据权利要求1所述的...
【专利技术属性】
技术研发人员：张闫飞，杜忠华，崔宝锋，黄健，雷星左，孔令珊，
申请(专利权)人：中国航发动力股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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