一种芯片扇出型低厚度封装结构制造技术

技术编号:36404313 阅读:20 留言:0更新日期:2023-01-18 10:12
本实用新型专利技术涉及半导体封装技术领域,具体地说是一种芯片扇出型低厚度封装结构。一种芯片扇出型低厚度封装结构,所述封装结构包括第一重新布线层、功能芯片叠片结构、第一封装层,所述第一重新布线层的上方设有功能芯片叠片结构,功能芯片叠片结构的外部包裹第一封装层,所述功能芯片叠片结构由若干功能芯片组成,所述若干功能芯片呈阶梯状错位分布,所述功能芯片的下端一侧设有焊盘,所述功能芯片的焊盘通过导电结构与第一重新布线层电连接。本实用新型专利技术同现有技术相比,本实用新型专利技术减薄封装体的厚度,采用深孔导电结构或金属连接柱使功能芯片与外界实行电连接,大大提高了产品的运行速度,增强数据处理能力,采用扇出型封装,缩小了封装体的面积。小了封装体的面积。小了封装体的面积。

【技术实现步骤摘要】
一种芯片扇出型低厚度封装结构


[0001]本技术涉及半导体封装
,具体地说是一种芯片扇出型低厚度封装结构。

技术介绍

[0002]传统的芯片封装还是将芯片通过直接贴装在基板的表面上,然后采用金属线键合工艺实现芯片焊盘与基板电性能连接。基板作为芯片封装的核心材料之一,其成本占据整个封装材料成本的30%

50%。为了应对电子设备朝着多元化、小型化和功能化的方向发展,基板中的设计会越来越复杂,而且层数也会随之增加,这不仅导致基板的厚度增加,影响了总体的封装厚度,还致使基板的价格进一步提高。此外,传统金属线的键合工艺也会产生产品的延时性,导致效率低下。

技术实现思路

[0003]为了解决上述技术问题,本技术设计了一种芯片扇出型低厚度封装结构,采用深孔导电结构或金属连接柱使功能芯片与外界实行电连接,大大提高了产品的运行速度,增强数据处理能力。
[0004]本技术提供了一种芯片扇出型低厚度封装结构,所述封装结构包括第一重新布线层、功能芯片叠片结构、第一封装层,所述第一重新布线层的上方设有功能芯片叠片结构,功能芯本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种芯片扇出型低厚度封装结构,其特征在于:所述封装结构包括第一重新布线层(1)、功能芯片叠片结构(2)、第一封装层(3),所述第一重新布线层(1)的上方设有功能芯片叠片结构(2),功能芯片叠片结构(2)的外部包裹第一封装层(3),所述功能芯片叠片结构(2)由若干功能芯片(4)组成,所述若干功能芯片(4)呈阶梯状错位分布,所述功能芯片(4)的下端一侧设有焊盘(5),所述功能芯片(4)的焊盘(5)通过导电结构(6)与第一重新布线层(1)电连接,所述第一重新布线层(1)的下端设有金属凸块(7)。2.根据权利要求1所述的一种芯片扇出型低厚度封装结构,其特征在于:所述第一重新布...

【专利技术属性】
技术研发人员:李太龙邵滋人付永朝
申请(专利权)人:紫光宏茂微电子上海有限公司
类型:新型
国别省市:

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