一种八引脚运放芯片测试探针卡制造技术

本实用新型专利技术涉及芯片测试技术领域,公开了一种八引脚运放芯片测试探针卡，包括PCB板，PCB板上设有测试单元；测试单元包括芯片接触座、信号转接座、第一切换支路、四个第二切换支路和第三切换支路；第一切换支路包括第一电阻和第一切换开关，第二切换支路包括第二电阻、第三电阻和第二切换开关，第三切换支路包括第六电阻和第三切换开关，在实际使用时，将芯片测试座上的端子与待测试的芯片引脚电连接，通过控制测试单元的第一切换支路、第二切换支路和第三切换支路中切换开关的通断便能向待测试的芯片发送测试信号或者从待测试的芯片接收返回信号，不用人工控制何时向待测试的芯片输入测试信号和接收待测试芯片的返回信号，简化了测试流程。化了测试流程。化了测试流程。

【技术实现步骤摘要】
一种八引脚运放芯片测试探针卡


[0001]本技术涉及芯片测试
，具体涉及一种八引脚运放芯片测试探针卡。

技术介绍

[0002]芯片在封装前需要使用探针卡对芯片进行测试，来筛出芯片上中的不良产品。由于芯片总类繁多，而不同芯片所需要的测试电路也不同。对于芯片中的运放芯片，其在测试时需要使用人工改变运放芯片的引脚与外围电路的通断，或者通过人工来改变外围信号与运放芯片对应引脚的通断，整个操作过程繁琐，自动化程度低、效率较低。

技术实现思路

[0003]鉴于
技术介绍
的不足，本技术是提供了一种八引脚运放芯片测试探针卡，对型号为C132
‑
008运放芯片进行测试，不用人工控制芯片引脚与外围电路的通断。
[0004]为解决以上技术问题，本技术提供了如下技术方案：一种八引脚运放芯片测试探针卡，包括PCB板，所述PCB板上设有至少一个测试单元；
[0005]所述测试单元包括芯片接触座、信号转接座、第一切换支路、四个第二切换支路、第三切换支路、电容C1和电容C2；
[0006]所述第一切换支路包括第一电阻和第一切换开关，所述第一电阻一端与第一切换开关的第二输出端电连接；所述第二切换支路包括第二电阻、第三电阻和第二切换开关，所述第二切换开关的第一输出端分别与第二电阻一端和第三电阻一端电连接，第二电阻另一端与第二切换开关的第二输出端电连接，第三电阻另一端接地；所述第三切换支路包括第六电阻和第三切换开关，所述第六电阻一端与所述第三切换开关的公共端电连接；
[0007]所述芯片接触座的第一端子与第一电阻另一端电连接；所述第一切换开关的公共端与芯片接触座的第二端子电连接；芯片接触座的第二端子、第三端子、第五端子和第六端子分别与一个第二切换支路的第二切换开关的公共端电连接；芯片接触座的第七端子与第六电阻另一端电连接，所述第三切换开关的第二输出端与芯片接触座的第六端子电连接；芯片接触座的第四端子通过电容C1接地，芯片接触座的第八端子通过电容C2接地；
[0008]芯片接触座的第一端子、第四端子、第八端子、第七端子和四个第二切换支路的第二电阻另一端分别与信号转接座上的不同端子电连接。
[0009]在某种实施方式中，所述PCB板上设有四个测试单元。
[0010]在某种实施方式中，一个测试单元的信号转接座位于PCB板的左侧，两个测试单元的信号转接座位于PCB板的底部，一个测试单元的信号转接座位于PCB板的右侧。
[0011]在某种实施方式中，所述PCB板上设有十二个继电器，分别为第一继电器～第十二继电器，所述继电器包括两常开常闭通道；
[0012]两个测试单元的第一切换支路的第一切换开关是第一继电器的两常开常闭通道，另外两个测试单元的第一切换支路的第一切换开关是第二继电器的两常开常闭通道；
[0013]两个测试单元的第三切换支路的第三切换开关是第四继电器的两常开常闭通道，
另外两个测试单元的第三切换支路的第三切换开关是第四继电器的两常开常闭通道；
[0014]将四个测试单元作为第一测试单元～第四测试单元；
[0015]第一测试单元的四个第二切换支路的第二切换开关分别是第五继电器的一个常开常闭通道、第六继电器的一个常开常闭通道、第七继电器的一个常开常闭通道和第八继电器的一个常开常闭通道；
[0016]第二测试单元的四个第二切换支路的第二切换开关分别是第五继电器的另一个常开常闭通道、第六继电器的另一个常开常闭通道、第七继电器的另一个常开常闭通道和第八继电器的另一个常开常闭通道；
[0017]第三测试单元的四个第二切换支路的第二切换开关分别是第九继电器的一个常开常闭通道、第十继电器的一个常开常闭通道、第十一继电器的一个常开常闭通道和第十二继电器的一个常开常闭通道；
[0018]第四测试单元的四个第二切换支路的第二切换开关分别是第九继电器的另一个常开常闭通道、第十继电器的另一个常开常闭通道、第十一继电器的另一个常开常闭通道和第十二继电器的另一个常开常闭通道。
[0019]在某种实施方式中，所述第一继电器～第十二继电器的控制线圈两端与信号转接座上的端子电连接。
[0020]本技术与现有技术相比所具有的有益效果是：在实际使用时，通过将芯片测试座上的端子与待测试的芯片引脚电连接，通过控制测试单元的第一切换支路、第二切换支路和第三切换支路中切换开关的通断便能向待测试的芯片发送测试信号或者从待测试的芯片接收返回信号，不用人工控制何时向待测试的芯片输入测试信号和不用人工控制何时接收待测试芯片的返回信号，简化了测试流程。
附图说明
[0021]图1为实施例中的测试单元的芯片座、第一切换支路、第二切换支路和第三切换支路的电路图；
[0022]图2为实施例中的一个信号转接座的示意图；
[0023]图3为十二个继电器的控制线圈的接线示意图。
具体实施方式
[0024]现在结合附图对本技术作进一步详细的说明。这些附图均为简化的示意图，仅以示意方式说明本技术的基本结构，因此其仅显示与本技术有关的构成。
[0025]如图1
‑
2所示，一种八引脚运放芯片测试探针卡，包括PCB板，所述PCB板上设有至少一个测试单元；
[0026]测试单元包括芯片接触座J1、信号转接座SET1、第一切换支路1、四个第二切换支路2、第三切换支路3、电容C1和电容C2；
[0027]第一切换支路1包括第一电阻R1和第一切换开关K5_S12A，第一电阻R1一端与第一切换开关K5_S12A的第二输出端电连接；第二切换支路2包括第二电阻R2、第三电阻R3和第二切换开关K6_S12A，第二切换开关K6_S12A的第一输出端分别与第二电阻R2一端和第三电阻R3一端电连接，第二电阻R2另一端与第二切换开关K6_S12A的第二输出端电连接，第三电
阻R3另一端接地；第三切换支路3包括第六电阻R6和第三切换开关K5_2_S12A，第六电阻R6一端与第三切换开关K5_2_S12A的公共端电连接；需要注意的是，为便于区分，图1中的其余三个第二切换支路2中的第二电阻和第三电阻并不是用R2和R3表示，其余三个第二切换支路2中的第二切换开关并不是用K6_S12A表示；
[0028]芯片接触座J1的第一端子PIN1与第一电阻R1另一端电连接；第一切换开关K5_S12A的公共端与芯片接触座J1的第二端子PIN2电连接；芯片接触座J1的第二端子PIN2、第三端子PIN3、第五端子PIN5和第六端子PIN6分别与一个第二切换支路2的第二切换开关K6_S12A的公共端电连接；芯片接触座J1的第七端子PIN7与第六电阻R6另一端电连接，第三切换开关K5_2_S12A的第二输出端与芯片接触座J1的第六端子PIN6电连接；芯片接触座J1的第四端子PIN4通过电容C1接地，芯片接触座J1的第八端子PIN8通过电容C2接地；
[0029]芯片接触座J1的第一端子PIN1本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种八引脚运放芯片测试探针卡，其特征在于，包括PCB板，所述PCB板上设有至少一个测试单元；所述测试单元包括芯片接触座、信号转接座、第一切换支路、四个第二切换支路、第三切换支路、电容C1和电容C2；所述第一切换支路包括第一电阻和第一切换开关，所述第一电阻一端与第一切换开关的第二输出端电连接；所述第二切换支路包括第二电阻、第三电阻和第二切换开关，所述第二切换开关的第一输出端分别与第二电阻一端和第三电阻一端电连接，第二电阻另一端与第二切换开关的第二输出端电连接，第三电阻另一端接地；所述第三切换支路包括第六电阻和第三切换开关，所述第六电阻一端与所述第三切换开关的公共端电连接；所述芯片接触座的第一端子与第一电阻另一端电连接；所述第一切换开关的公共端与芯片接触座的第二端子电连接；芯片接触座的第二端子、第三端子、第五端子和第六端子分别与一个第二切换支路的第二切换开关的公共端电连接；芯片接触座的第七端子与第六电阻另一端电连接，所述第三切换开关的第二输出端与芯片接触座的第六端子电连接；芯片接触座的第四端子通过电容C1接地，芯片接触座的第八端子通过电容C2接地；芯片接触座的第一端子、第四端子、第八端子、第七端子和四个第二切换支路的第二电阻另一端分别与信号转接座上的不同端子电连接。2.根据权利要求1所述的一种八引脚运放芯片测试探针卡，其特征在于，所述PCB板上设有四个测试单元。3.根据权利要求2所述的一种八引脚运放芯片测试探针卡，其特征在于，一个测试单元的信号转接座位于PCB板的左侧，两个测试单元的信号转接座位于PCB板的底部，一个测试单元的信号转接座位于PCB板...

【专利技术属性】
技术研发人员：周国成，
申请(专利权)人：无锡矽鹏半导体检测有限公司，
类型：新型
国别省市：