一种用于大载荷特长试件变形的光栅测量机构制造技术

本实用新型专利技术公开了一种用于大载荷特长试件变形的光栅测量机构，包括支撑架，所述支撑架顶部外壁分别固定有第一安装框和第二安装框，第一安装框和第二安装框顶部外壁分别固定有第一电葫芦和第二电葫芦，第一电葫芦和第二电葫芦分别通过拉绳连接有第一活动框和第二活动框，第一安装框和第二安装框一侧外壁分别固定有电动滑轨，电动滑轨内壁滑动连接有活动架，活动架顶部和底部内壁分别滑动连接有测量光栅本体。本实用新型专利技术在活动架上安装的相对的一组测量光栅本体在随着活动架来回移动时就能够一直进行对射，当特长试件外形发生变化时，就会阻挡测量光栅本体之间进行对射，从而能够快速精准的检测到特长试件的变形位置。能够快速精准的检测到特长试件的变形位置。能够快速精准的检测到特长试件的变形位置。

【技术实现步骤摘要】
一种用于大载荷特长试件变形的光栅测量机构


[0001]本技术涉及光栅测量
，尤其涉及一种用于大载荷特长试件变形的光栅测量机构。

技术介绍

[0002]在对某些尺寸较大长度较长的特长试件进行大载荷的压力变形测试后，需要对特长试件外壁的变形程度进行检测，从而根据特长试件的变形程度来判断其承载能力和抗疲劳性能，由于特长试件往往长度较长，工作人员在对其进行大载荷压力变形测试后往往是通过手动使用水平尺等工具来测量特长试件是否出现变形，这种检测方法需要消耗大量人力，同时由于特长试件长度较长，人工检测往往会出现较大误差，因此需要一种能够对不同尺寸的特长试件是否变形进行快速精准检测的机构，来提高特长试件的大载荷压力变形测试的检测效率。

技术实现思路

[0003]本技术的目的是为了解决现有技术中存在的缺点，而提出的一种用于大载荷特长试件变形的光栅测量机构。
[0004]为了实现上述目的，本技术采用了如下技术方案：
[0005]一种用于大载荷特长试件变形的光栅测量机构，包括支撑架，所述支撑架顶部外壁分别固定有第一安装框和第二安装框，第一安装框和第二安装框顶部外壁分别固定有第一电葫芦和第二电葫芦，第一电葫芦和第二电葫芦分别通过拉绳连接有第一活动框和第二活动框，第一安装框和第二安装框一侧外壁分别固定有电动滑轨，电动滑轨内壁滑动连接有活动架，活动架顶部和底部内壁分别滑动连接有测量光栅本体，测量光栅本体两侧外壁分别固定有固定片，固定片固定于活动架的两侧外壁上。
[0006]作为本技术再进一步的方案：所述第一安装框一侧外壁固定有控制面板，第一电葫芦、第二电葫芦、电动滑轨和测量光栅本体分别与控制面板电性连接。
[0007]作为本技术再进一步的方案：所述第一活动框底部内壁滑动连接有放置台，放置台两侧外壁分别焊接有第二固定板，第二固定板固定于第一活动框的底部内壁上。
[0008]作为本技术再进一步的方案：所述第一活动框和第二活动框一侧外壁分别焊接有连接板，连接板顶部外壁滑动连接有安装板，安装板顶部外壁转动连接有支撑转盘。
[0009]作为本技术再进一步的方案：所述支撑架顶部外壁固定有导向杆，活动架底部外壁滑动连接于导向杆的顶部外壁上。
[0010]作为本技术再进一步的方案：所述支撑架顶部外壁固定有支撑板，第一活动框和第二活动框底部外壁分别粘接有弹性块。
[0011]作为本技术再进一步的方案：所述第一活动框和第二活动框内壁分别滑动连接有第一压板，第一压板一侧外壁固定有第二压板。
[0012]作为本技术再进一步的方案：所述第一压板顶部外壁焊接有第一固定板，第
一固定板固定于第二活动框的两侧内壁上。
[0013]本技术的有益效果为：
[0014]1.工作人员将做完大载荷压力变形测试的特长试件的两端分别放置在第一活动框和第二活动框的底部内壁上，随后通过控制面板控制第一电葫芦和第二电葫芦运行，从而将第一活动框和第二活动框内部放置的特长试件向上抬升适当高度，随后可根据特长试件的尺寸对活动架上各个测量光栅本体的位置进行调整，调整后将固定片通过螺丝固定在活动架的两侧，随后即可通过控制面板控制电动滑轨带动活动架整体来回移动，在活动架上安装的相对的一组测量光栅本体在随着活动架来回移动时就能够一直进行对射，当特长试件外形发生变化时，就会阻挡测量光栅本体之间进行对射，从而能够快速精准的检测到特长试件的变形位置，提高了测量机构的检测效率。
[0015]2.工作人员将特长试件放入第一活动框和第二活动框内部时，首先将特长试件的一端放置到放置台上，随后将特长试件向前推动，让特长试件的一端抵达支撑转盘顶部，随后继续向前推动特长试件，直到特长试件的另一端移动到放置台顶部，此时支撑转盘和放置台会对特长试件的两端进行支撑，同时工作人员可通过可转动的支撑转盘和可以左右滑动的放置台来对特长试件进行角度调整，从而提高测量光栅本体检测的准确度。
[0016]3.工作人员将特长试件放置到第一活动框和第二活动框上后，即可将第一压板和第二压板整体压在特长试件顶部，随后通过螺丝将第一压板固定在第一活动框和第二活动框的内壁上，从而配合支撑转盘和放置台对特长试件进行限位，避免在进行测量时特长试件发生晃动。
附图说明
[0017]图1为本技术提出的一种用于大载荷特长试件变形的光栅测量机构的主视结构示意图；
[0018]图2为本技术提出的一种用于大载荷特长试件变形的光栅测量机构的侧视结构示意图；
[0019]图3为本技术提出的一种用于大载荷特长试件变形的光栅测量机构的安装框结构示意图；
[0020]图4为本技术提出的一种用于大载荷特长试件变形的光栅测量机构的活动框结构示意图；
[0021]图5为本技术提出的一种用于大载荷特长试件变形的光栅测量机构的电路流程示意图。
[0022]图中：1
‑
支撑架、2
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支撑板、3
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第一安装框、4
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控制面板、5
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第一活动框、6
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第一电葫芦、7
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电动滑轨、8
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活动架、9
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第二电葫芦、10
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第二活动框、11
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第二安装框、12
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测量光栅本体、13
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导向杆、14
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固定片、15
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安装板、16
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支撑转盘、17
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连接板、18
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弹性块、19
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第一压板、20
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第一固定板、21
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第二压板、22
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放置台、23
‑
第二固定板。
具体实施方式
[0023]下面结合具体实施方式对本专利的技术方案作进一步详细地说明。
[0024]下面详细描述本专利的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终
相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，仅用于解释本专利，而不能理解为对本专利的限制。
[0025]在本专利的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本专利和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本专利的限制。
[0026]在本专利的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”、“设置”应做广义理解，例如，可以是固定相连、设置，也可以是可拆卸连接、设置，或一体地连接、设置。对于本领本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于大载荷特长试件变形的光栅测量机构，包括支撑架（1），其特征在于，所述支撑架（1）顶部外壁分别固定有第一安装框（3）和第二安装框（11），第一安装框（3）和第二安装框（11）顶部外壁分别固定有第一电葫芦（6）和第二电葫芦（9），第一电葫芦（6）和第二电葫芦（9）分别通过拉绳连接有第一活动框（5）和第二活动框（10），第一安装框（3）和第二安装框（11）一侧外壁分别固定有电动滑轨（7），电动滑轨（7）内壁滑动连接有活动架（8），活动架（8）顶部和底部内壁分别滑动连接有测量光栅本体（12），测量光栅本体（12）两侧外壁分别固定有固定片（14），固定片（14）固定于活动架（8）的两侧外壁上。2.根据权利要求1所述的一种用于大载荷特长试件变形的光栅测量机构，其特征在于，所述第一安装框（3）一侧外壁固定有控制面板（4），第一电葫芦（6）、第二电葫芦（9）、电动滑轨（7）和测量光栅本体（12）分别与控制面板（4）电性连接。3.根据权利要求2所述的一种用于大载荷特长试件变形的光栅测量机构，其特征在于，所述第一活动框（5）底部内壁滑动连接有放置台（22），放置台（22）两侧外壁分别焊接有第二固定板（23），第二固定板（23）固定于第一活动...

【专利技术属性】
技术研发人员：张云山，王建明，
申请(专利权)人：上海冶苑计量测试设备有限公司，
类型：新型
国别省市：