本申请涉及一种碳化硅双脉冲低温测试低杂感装置，其包括冷却箱，冷却箱内设置有被测模块，冷却箱外对应被测模块的位置设置有密封板，密封板能够对冷却箱进行密封，密封板集成了驱动板和主功率连接板；密封板上驱动板对应被测模块设置；冷却箱外对应密封板的位置设置有热空气通道，热空气通道与密封板上表面相互抵接。本申请具有被测碳化硅模块即使再低温的环境下，被测主回路和信号回路还能保持低杂感。从而保证测试精度的效果。从而保证测试精度的效果。从而保证测试精度的效果。
【技术实现步骤摘要】
一种碳化硅双脉冲低温测试低杂感装置
[0001]本申请涉及低温检测的领域，尤其是涉及一种碳化硅双脉冲低温测试低杂感装置。
技术介绍
[0002]目前的碳化硅测试平台，由于碳化硅的开关特性，电流的上升和下降速度十分快，测量设备应有足够小的杂感主回路/信号回路，才能保证碳化硅模块在测试的时候可以全量程被准确的测试。随着测试要求的日益增加，低温测试已经越来越多的被客户需要。
[0003]针对上述中的相关技术，专利技术人认为低温测试需要把模块放入低温箱中进行测试，以保证碳化硅被测模块到达－40
°
。但同时又需要把主回路和信号回路连线引出，这样就会增大主回路和信号回路的杂感。由于可见低温测试，和碳化硅低杂感是相互矛盾的存在。
技术实现思路
[0004]为了使被测碳化硅模块即使再低温的环境下，被测主回路和信号回路还能保持低杂感。从而保证测试精度，本申请提供一种碳化硅双脉冲低温测试低杂感装置。
[0005]本申请提供的一种碳化硅双脉冲低温测试低杂感装置采用如下的技术方案：
[0006]一种碳化硅双脉冲低温测试低杂感装置，包括冷却箱，冷却箱内设置有被测模块，冷却箱外对应被测模块的位置设置有密封板，密封板能够对冷却箱进行密封，密封板集成了驱动板和主功率连接板；密封板上驱动板对应被测模块设置；冷却箱外对应密封板的位置设置有热空气通道，热空气通道与密封板上表面相互抵接。
[0007]通过采用上述技术方案，被热模块置于冷却箱内，密封板上的驱动板和主功率连接板设置于温室中，保证了驱动回路杂感最低且驱动波形最好的状态；由于密封板下表面都在零下40度的恒温室中，而上表面位于常温中，上下表面存在温差，从而不可避免的产生凝露的现象，通过热空气通道，对密封罐上表面进行热传导，解决上表面的凝露问题。
[0008]可选的，密封板采用多层叠层PCB结构；密封板与母线之间通过铜柱连接，铜柱杂感＝4nh；密封板为材质PCB板，厚度为3mm。
[0009]通过采用上述技术方案，主功率连接板正负极通过铜柱连接于主回路板与外界母线电容，能够将整体电路的杂感进行降低，使信号回路杂感最低，驱动波形最好的，密封板使用多层叠层PCB结构，进一步减少杂感电感；驱动板设置的位置正对被测模块，使被测模块信号能够第一时间传导至驱动板上。
[0010]可选的，冷却箱对应密封板的位置开设有锁位槽，锁位槽为键槽，冷却箱对应锁位槽的位置设置有锁位块，锁位块与密封板相互抵接，锁位块靠近密封板的一端开设有导向斜面，导向斜面以锁位块的下端为起点，趋向靠近密封板的一侧倾斜向上设置，锁位块上方设置有推动锁位块抵接于密封板的弹性件，锁位块内设置有竖直设置的导向杆，锁位块对应导向杆的位置开设有导向槽，导向杆能够滑移连接于导向槽内。
[0011]通过采用上述技术方案，当冷却箱对被测模组进行检测，密封板前后温度较大，容易导致密封板的形变，通过弹性件推动锁位块沿竖直方向进行运动，导向杆和导向槽相互配合，限定锁位块的滑移方向，通过弹性件推动锁位块对密封板进行密封。
[0012]可选的，冷却箱对应密封板的位置设置有固定螺栓，冷却箱体内对应固定螺栓的位置设有塑料壳体，塑料壳体能够与固定螺栓螺纹连接，密封板对应塑料壳体的位置设置有定位孔，固定螺栓能够插设于定位孔内。
[0013]通过采用上述技术方案，通过固定螺栓对密封板进行密封，通过固定螺栓插设于定位孔内实现对密封板相对位置的固定，设置于冷却箱体内的塑料壳体减少固定螺栓将外界空气导热至冷却箱体内，导致箱体内温度发生改变，从而导致被测模块检测效果不佳。
[0014]可选的，冷却箱对应密封板的上方设置有热空气管道，热空气通道与密封板之间设置有水袋，水袋上设置温度计，温度计能够对水袋进行温度检测，恒温水袋与外界的空气相互抵接，水袋与密封板相互抵接。
[0015]可选的，冷却箱内设置有制冷机，制冷机的交换口与热空气管道之间设置有导热管，导热管外设置有空压机，导热管内设置有气体单向阀。
[0016]通过采用上述技术方案，制冷机产生的热量通过空压机送往热空气管道的，增加气体热能利用率，随后使用气体单向阀防止热空气管道内气体回流，通过温度机对水袋进行观察，通过水袋进行温度的传导，因水的比热容大于空气的比热容，通过水袋减少密封板的温度骤变的几率，防止密封板因为温度骤变而导致的损坏。
[0017]可选的，锁位槽上开设有多个复位槽，相邻复位槽相互平行，复位槽内复位弹簧，复位槽内滑移连接有复位块，复位弹簧能够推动复位块趋向远离冷却箱的方向进行滑移，复位块上设置有同步运动的转动杆，转动杆上设置有同步运动且同步转动的转动轮，转动轮的转动方向与密封板的推动方向相同；冷却箱上开设有卡位槽，冷却箱对应卡位槽的位置固接有压板，压板与卡位槽之间的间隙与密封板的厚度相同。
[0018]通过采用上述技术方案，当密封板滑移对冷却箱进行封闭时，密封板与转动轮相互抵接，密封板的上表面与压板相互抵接，使密封板能够与锁位槽相互抵接，且在密封板滑移时，通过压板对密封板进行滑移方向的限位，滑移密封板时密封板与转动板的外周面相互抵接，从而带动转动杆和转动轮同步转动，当密封板与压板相互抵接时，密封板推动转动轮和复位块沿复位槽的方向进行滑移；复位弹簧收到挤压，复位弹簧具有推动转动轮复位的作用力。
[0019]综上所述，本申请包括以下至少一种有益技术效果：
[0020]1.被热模块置于冷却箱内，密封板上的驱动板和主功率连接板设置于温室中，保证了驱动回路杂感最低且驱动波形最好的状态；由于密封板下表面都在零下40度的恒温室中，而上表面位于常温中，上下表面存在温差，从而不可避免的产生凝露的现象，通过热空气通道，对密封罐上表面进行热传导，解决上表面的凝露问题；
[0021]2.当冷却箱对被测模组进行检测，密封板前后温度较大，容易导致密封板的形变，通过弹性件推动锁位块沿竖直方向进行运动，导向杆和导向槽相互配合，限定锁位块的滑移方向，通过弹性件推动锁位块对密封板进行密封；
[0022]3.当密封板滑移对冷却箱进行封闭时，密封板与转动轮相互抵接，密封板的上表面与压板相互抵接，使密封板能够与锁位槽相互抵接，且在密封板滑移时，通过压板对密封
板进行滑移方向的限位，滑移密封板时密封板与转动板的外周面相互抵接，从而带动转动杆和转动轮同步转动，当密封板与压板相互抵接时，密封板推动转动轮和复位块沿复位槽的方向进行滑移；复位弹簧收到挤压，复位弹簧具有推动转动轮复位的作用力。
附图说明
[0023]图1是本实施例中一种碳化硅双脉冲低温测试低杂感装置的整体示意图。
[0024]图2是本实施例中一种碳化硅双脉冲低温测试低杂感装置突出密封板的局部示意图。
[0025]图3是本实施例中一种碳化硅双脉冲低温测试低杂感装置突出冷却箱的整体示意图。
[0026]图4是本实施例中一种碳化硅双脉冲低温测试低杂感装置突出弹簧架的局部示意图。
[0027]图5是本实施例中一本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种碳化硅双脉冲低温测试低杂感装置，其特征在于：包括冷却箱(1)，冷却箱(1)内设置有被测模块(14)，冷却箱(1)外对应被测模块(14)的位置设置有密封板(13)，密封板(13)能够对冷却箱(1)进行密封，密封板(13)集成了驱动板和主功率连接板；密封板(13)上驱动板对应被测模块(14)设置；冷却箱(1)外对应密封板(13)的位置设置有热空气通道，热空气通道与密封板(13)上表面相互抵接。2.根据权利要求1所述的一种碳化硅双脉冲低温测试低杂感装置，其特征在于：所述密封板(13)采用多层叠层PCB结构；密封板(13)与母线(15)之间通过铜柱(16)连接，铜柱(16)杂感＝4nh；密封板(13)为材质PCB板，厚度为3mm。3.根据权利要求1所述的一种碳化硅双脉冲低温测试低杂感装置，其特征在于：所述冷却箱(1)对应密封板(13)的位置开设有锁位槽(12)，锁位槽(12)为键槽，冷却箱(1)对应锁位槽(12)的位置设置有锁位块(22)，锁位块(22)与密封板(13)相互抵接，锁位块(22)靠近密封板(13)的一端开设有导向斜面(25)，导向斜面(25)以锁位块(22)的下端为起点，趋向靠近密封板(13)的一侧倾斜向上设置，锁位块(22)上方设置有推动锁位块(22)抵接于密封板(13)的弹性件(21)，锁位块(22)内设置有竖直设置的导向杆(23)，锁位块(22)对应导向杆(23)的位置开设有导向槽(24)，导向杆(23)能够滑移连接于导向槽(24)内。4.根据权利要求1所述的一种碳化硅双脉冲低温测试低杂感装置，其特征在于：所述冷却箱(1)对应密封板(13)的位置设置有固定螺栓(4)，...
【专利技术属性】
技术研发人员：陈俊，李宝华，
申请(专利权)人：忱芯电子苏州有限公司，
类型：新型
国别省市：
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