【技术实现步骤摘要】
一种器件的封装结构
[0001]本技术涉及电子元器件
技术介绍
[0002]半导体器件的金属陶瓷封装结构通常包括螺栓形和平板形。螺栓形管壳基本特点是其螺栓部分与散热器螺孔紧密配合,实现单面散热,因而通常适用于300A以下的器件。平板形管壳器件的基本特点是管壳与散热器平面接触实现双面散热,因而适用于200A以上的器件。
[0003]高结温特性是半导体器件的关键指标之一,目前,对于200A以上且2000V以下的高结温多芯并联器件,市场上多采用双面散热的平板形管壳,不能充分发挥器件芯片的高结温特性,因此如何提高管壳的散热能力,已成为需要解决的问题。
技术实现思路
[0004]为了解决传统金属陶瓷封装结构存在的上述问题,本技术提供了一种器件的封装结构。
[0005]本技术为实现上述目的所采用的技术方案是:一种器件的封装结构,包括有管帽1和管座2,管帽1盖置于管座2上,管帽1包括阴极压块1
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1和阴极法兰1
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2,阴极法兰1
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2同心焊接于阴极压块1
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1的外缘;管座2包括阳极压块2
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1、缓冲框2
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2、陶瓷体2
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3、封接框2
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4、散热体2
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5和阳极法兰2
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6,缓冲框2
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2内缘同心焊接于阳极压块2
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1的外缘,缓冲框2
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2外缘同心焊接于陶瓷体2< ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种器件的封装结构,其特征在于:包括有管帽(1)和管座(2),管帽(1)盖置于管座(2)上,管帽(1)包括阴极压块(1
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1)和阴极法兰(1
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2),阴极法兰(1
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2)同心焊接于阴极压块(1
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1)的外缘;管座(2)包括阳极压块(2
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1)、缓冲框(2
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2)、陶瓷体(2
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3)、封接框(2
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4)、散热体(2
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5)和阳极法兰(2
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6),缓冲框(2
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2)内缘同心焊接于阳极压块(2
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1)的外缘,缓冲框(2
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2)外缘同心焊接于陶瓷体(2
【专利技术属性】
技术研发人员:赵岩,纪伟,曲成研,
申请(专利权)人:阜新飞宇电子科技有限公司,
类型:新型
国别省市:
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