光学校准机自动测量方法技术

本发明专利技术是有关一种光学校准机自动测量方法，是使该光学校准机在测量待测物程序中，可由程序自行判断是否测量的方法，它是在电荷耦合组件模块拍摄待测物的画面后，该程序即会自行判断该电荷耦合组件模块所拍摄的画面是否有反射亮点，而自动进行测量，由于可由该程序判断有亮点后即自行进行测量，因此不用担心使用者是否忘了要按执行指令开关，并可节省测量程序，避免该使用者操作不当或忽略步骤操作。（*该技术在2022年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种光学校准机自动测量方法，在该光学校准机测量待测物程序中由程序自行判断是否测量，包含下列步骤：（ａ）激活软件；（ｂ）电荷耦合组件模块进行拍摄待测物画面；（ｃ）程序自行判断该电荷耦合组件模块所拍摄的画面是否有反射亮点；以及（ ｄ）若是，自动进行测量，并在测量后回至步骤（ｂ）。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：陈汉钊，陈徵君，陈伯睿，
申请(专利权)人：建兴电子科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：71[中国|台湾]