一种电感线圈短路检测系统、方法及存储介质技术方案

本发明专利技术公开了一种电感线圈短路检测系统、方法及存储介质，通过在主控设备的控制下，使得本地控制器可操作测试设备进行打开或闭合动作，以调整固定并放置好待测试PCB，然后操作LCR测试仪对待测试PCB中内置电感线圈进行测量，以得到其电感值、品质因素、阻抗值，根据这三个参数与线圈短路之间的关系来定义并计算得到实测综合因子。当实测综合因子不属于综合因子判定区间内，则说明内置电感线圈的电感值、品质因素、阻抗值与合格的电感值、品质因素、阻抗值存在较大差异，从而确定待测试PCB的内置电感线圈存在短路，反之则说明待测试PCB合格。合格。合格。

【技术实现步骤摘要】
一种电感线圈短路检测系统、方法及存储介质


[0001]本专利技术涉及PCB检测
，尤其是涉及一种电感线圈短路检测系统、方法及存储介质。

技术介绍

[0002]随着物联网的快速发展，电子产品日益趋向于微型化，多功能化和互联化，并且电子产品的应用数量也在指数式上升。在过去，电子设备中的许多功能性元件是独立制造的，只有在组装阶段才通过贴片、插件等方式安装在PCB上。为应对电子设备上越来越密集的线路设计，工业界研发了在PCB制作时内置电感、电容、电阻的先进封装技术。其中面向消费电子的典型应用是手机无线充电功能，其基本原理是在PCB上采用蚀刻形成的线路替代分立式电感线圈元件，这不仅能够缩小电感的大小，也可以在PCB上电感区域实现其他功能的布线。
[0003]电感线路间存在微短路的PCB产品应用到终端产品上产生潜在故障风险，会引起产品工作时效率降低，严重发热，功耗增加等问题，因此对于内置电感线圈的PCB，其短路检测问题一直困扰着PCB产业界。由于线路间的细小蚀刻残铜产生的微短路引起的电阻变化量在毫欧量级，而电感线圈整体的电阻在欧姆量级，微短路引起的电阻差异十分微小。一般普通电测机甚至四线电测机都只测量电阻值来判断电路的开短路，因此受到测试阻值精度限制，难以准确判断产品的合格情况。
[0004]近年业界对电感线圈PCB产品的检测方法主要采用光学检测法，包括使用Automated Optical Inspection(AOI)检测，但这种方法受限于AOI光学景深的限制，会经常漏检，特别是对于厚铜线圈的漏检现象更为严重；以及在Final Quality Control(FQC)工序时取用外观检查机(Automated Visual Inspection，AVI)检测，但这种方法易受阻焊层的颜色及厚度影响，也会经常出现漏检。

技术实现思路

[0005]本专利技术旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一。为此，本专利技术提出一种电感线圈短路检测系统，解决了难以实现对内置电感线圈PCB进行短路检测的问题。
[0006]本专利技术还提供一种电感线圈短路检测方法和一种计算机可读存储介质。
[0007]根据本专利技术的第一方面实施例的电感线圈短路检测系统，包括：
[0008]测试设备，具有测试端和放置平台，所述放置平台用于放置待测试PCB，所述测试端至少用于获取所述待测试PCB中内置电感线圈的谐振频率；
[0009]本地控制器，与所述测试设备电性连接，用于调整所述测试端与所述待测试PCB之间的距离；
[0010]LCR测试仪，与所述测试设备电性连接，用于测量所述待测试PCB中内置电感线圈的电感值、品质因素、阻抗值；
[0011]主控设备，分别与所述本地控制器、所述LCR测试仪电性连接，所述主控设备，用于
根据所述内置电感线圈的电感值、品质因素、阻抗值短路判定结果，所述短路判定结果表征所述待测试PCB中内置电感线圈的短路状态。
[0012]根据本专利技术实施例的电感线圈短路检测系统，至少具有如下有益效果：
[0013]通过在主控设备的控制下，使得本地控制器可操作测试设备进行打开或闭合动作，以调整固定并放置好待测试PCB，然后操作LCR测试仪对待测试PCB中内置电感线圈进行测量，以得到其电感值、品质因素、阻抗值，根据这三个参数与线圈短路之间的关系来定义并计算得到实测综合因子。当实测综合因子不属于综合因子判定区间内，则说明内置电感线圈的电感值、品质因素、阻抗值与合格的电感值、品质因素、阻抗值存在较大差异，从而确定待测试PCB的内置电感线圈存在短路，反之则说明待测试PCB合格。因此，通过利用本专利技术实施例的电感线圈短路检测系统，可以准确检测出内置电感线圈存在短路缺陷的PCB，从而防止PCB产品应用到终端产品上产生潜在故障风险，引起产品工作时效率降低、发热严重、功耗增加等问题。
[0014]根据本专利技术的一些实施例，所述测试设备包括：
[0015]针床治具，用于放置所述待测试PCB；
[0016]PCB电测机，至少用于获取所述待测试PCB中内置电感线圈的谐振频率。
[0017]根据本专利技术的一些实施例，所述针床治具的材料采用抗干扰屏蔽材料。
[0018]根据本专利技术的一些实施例，还包括打印设备，所述打印设备与所述主控设备电性连接，所述打印设备用于打印输出短路判定结果。
[0019]根据本专利技术的第二方面实施例的电感线圈短路检测方法，应用于如本专利技术第一方面实施例任一所述的电感线圈短路检测系统，包括以下步骤：
[0020]获取所述待测试PCB中内置电感线圈的电感值、品质因素、阻抗值，所述电感值、所述品质因素、所述阻抗值由所述LCR测试仪测量得到；
[0021]根据所述电感值、所述品质因素、所述阻抗值确定与所述待测试PCB中内置电感线圈对应的实测综合因子；
[0022]根据预先获取的综合因子判定区间和所述实测综合因子得到短路判定结果，所述短路判定结果表征所述待测试PCB中内置电感线圈的短路状态。
[0023]根据本专利技术实施例的电感线圈短路检测方法，至少具有如下有益效果：
[0024]将本专利技术实施例的电感线圈短路检测方法应用至本专利技术实施例的电感线圈短路检测系统中，使得在主控设备的控制下，本地控制器可操作测试设备进行打开或闭合动作，以调整固定并放置好待测试PCB，然后操作LCR测试仪对待测试PCB中内置电感线圈进行测量，以得到其电感值、品质因素、阻抗值，根据这三个参数与线圈短路之间的关系来定义并计算得到实测综合因子。当实测综合因子不属于综合因子判定区间内，则说明内置电感线圈的电感值、品质因素、阻抗值与合格的电感值、品质因素、阻抗值存在较大差异，从而确定待测试PCB的内置电感线圈存在短路，反之则说明待测试PCB合格。因此，通过利用本专利技术实施例的电感线圈短路检测系统，可以准确检测出内置电感线圈存在短路缺陷的PCB，从而防止PCB产品应用到终端产品上产生潜在故障风险，引起产品工作时效率降低、发热严重、功耗增加等问题。
[0025]根据本专利技术的一些实施例，获取所述综合因子判定区间，包括以下步骤：
[0026]分别获取多个合格PCB中内置电感线圈的谐振频率，并根据多个所述谐振频率确
定测试频率，每个所述谐振频率皆由所述测试端测量得到；
[0027]获取每个所述合格PCB中内置电感线圈的电感值、品质因素、阻抗值，每个所述电感值、所述品质因素、所述阻抗值皆由所述LCR测试仪在所述测试频率下测量得到；
[0028]根据每个所述电感值、所述品质因素、所述阻抗值确定每个与所述合格PCB中内置电感线圈对应的合格综合因子；
[0029]根据多个所述合格综合因子确定综合因子判定区间。
[0030]根据本专利技术的一些实施例，所述根据所述电感值、所述品质因素、所述阻抗值确定与所述待测试PCB中内置电感线圈对应的实测综合因子，包括以下步骤：
[0031]对所述电感值、所述品质因素、所述阻抗值求乘积以得到所述本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种电感线圈短路检测系统，其特征在于，包括：测试设备，具有测试端和放置平台，所述放置平台用于放置待测试PCB，所述测试端至少用于获取所述待测试PCB中内置电感线圈的谐振频率；本地控制器，与所述测试设备电性连接，用于调整所述测试端与所述待测试PCB之间的距离；LCR测试仪，与所述测试设备电性连接，用于测量所述待测试PCB中内置电感线圈的电感值、品质因素、阻抗值；主控设备，分别与所述本地控制器、所述LCR测试仪电性连接，所述主控设备，用于根据所述内置电感线圈的电感值、品质因素、阻抗值短路判定结果，所述短路判定结果表征所述待测试PCB中内置电感线圈的短路状态。2.根据权利要求1所述的电感线圈短路检测系统，其特征在于，所述测试设备包括：针床治具，用于放置所述待测试PCB；PCB电测机，至少用于获取所述待测试PCB中内置电感线圈的谐振频率。3.根据权利要求2所述的电感线圈短路检测系统，其特征在于，所述针床治具的材料采用抗干扰屏蔽材料。4.根据权利要求1所述的电感线圈短路检测系统，其特征在于，还包括打印设备，所述打印设备与所述主控设备电性连接，所述打印设备用于打印输出短路判定结果。5.一种电感线圈短路检测方法，应用于如权利要求1至4任一所述的电感线圈短路检测系统，其特征在于，包括以下步骤：获取所述待测试PCB中内置电感线圈的电感值、品质因素、阻抗值，所述电感值、所述品质因素、所述阻抗值由所述LCR测试仪测量得到；根据所述电感值、所述品质因素、所述阻抗值确定与所述待测试PCB中内置电感线圈对应的实测综合因子；根据预先获取的综合因子判定区间和所述实测综合因子得到短路判定结果，所述短路判定结果表征所述待测试PCB中...

【专利技术属性】
技术研发人员：邝植勤，谢新，刘艳，
申请(专利权)人：鹤山市世安电子科技有限公司，
类型：发明
国别省市：