本发明专利技术涉及一种电子器件老化测试装置，包括箱体、设在箱体内且具有进风口和回风口的试验舱、设在试验舱外围且与进风口和回风口连通的循环风道、循环风机，循环风道壁上设有新风口和排风口，排风口设在回风口下游，新风口设在循环风机上游，新风口位于排风口与循环风机间，新风口和排风口之间设有挡板装置；挡板装置具有至少两种工作状态，当其处于第一状态时，新风口和排风口被遮挡，循环风道打开；当其处于第二状态时，新风口和排风口打开，循环风道被遮挡。本发明专利技术可令新风沿原有循环风的流动路径进行散热，不仅可快速散热，还确保产品间温度均匀一致，提高测试结果准确性，同时取消外接设备，确保测试环境稳定，减少能源消耗，降低测试成本。低测试成本。低测试成本。
【技术实现步骤摘要】
一种电子器件老化测试装置
[0001]本专利技术涉及一种电子器件老化测试装置，适用于电子器件老化测试
技术介绍
[0002]随着5G通信、半导体芯片、航空航天技术等高精尖技术产业的蓬勃发展，被广泛应用于此类行业的精密电子元器件的重要性也日益显现，为了能够把控各类电子器件产品的品质，产品出厂前通常要对其进行老化测试。目前常规的老化测试通常是将产品置于高温环境中，并对产品施加上电压负载，通过高温加速激活产品的失效机制来确定产品的可靠性。但是，由于电子器件加上负载后自身就会散发热量，尤其是半导体芯片等发热量较大的产品，通常都能达到10KW左右的发热量，自身散发的热量在产品周围堆积后就会导致产品实际所处的环境温度与所需的测试温度存在较大误差，并且多个产品之间所处的环境温度也各不相同，进而导致测试结果的准确性降低。
[0003]现有的电子器件老化测试装置中通常是通过在试验舱内设置连通外界的新风口和排风口，部分测试装置还会在新风口或排风口外接鼓风或抽风设备，通过外接设备将试验舱内堆积的热量驱散，达到散热降温的目的。然而，此类方案中的新风不管是直接进入试验舱还是直接由试验舱排出，都容易造成舱内靠近新风口或排风口处的产品散热效果好，而其他位置产品的散热效果差，无法解决产品间温度差异大的问题。并且外接设备进行强排，虽然可以快速降温，但同时也会使产品间的温度差异进一步加大，导致舱内温度更加不均匀，无法确保测试结果的准确性。
[0004]除上述情况外，也有部分测试装置是将新风口和排风口设置在循环风道中，然而此类方式如果不外接设备辅助散热，箱内气流并不能顺畅地排出箱体，散热效果较差，而增设外接设备则会导致箱内气流紊乱，破坏稳定的测试环境。进一步地，上述几种情况中，增设外接设备进行辅助散热均会增加能源消耗，进而提高测试的成本。
技术实现思路
[0005]为了解决上述现有技术存在的缺陷，本专利技术提出了一种电子器件老化测试装置。
[0006]本专利技术采用的技术方案是：一种电子器件老化测试装置，包括箱体、设置在箱体内且具有至少一组进风口和回风口的试验舱、设置在试验舱内的用于连接被测电子器件的测试电路单元、与试验舱相邻并连接测试电路单元以提供电源的电控箱、设置在试验舱外围且两端分别与进风口和回风口连通的循环风道、设置在循环风道内的循环风机、设置在循环风道内的加热装置，循环风机驱动气流自循环风道依次经过进风口、试验舱、回风口后回到循环风道，实现箱体内的气流循环，不仅可以通过带有热量的循环风使试验舱内的环境达到测试需求，还可以通过循环风为产品散热，防止产品周围形成积温，同时可以确保箱体内各处的测试温度均匀。循环风道的壁上开设有供外界空气进入循环风道的新风口和用于供循环风道内气体排出至外界的排风口，排风口设置在回风口的沿气流方向的下游，新风口设置在循环风机的沿气流方向的上游，且新风口的设置位置位于排风口和循环风机之
间，具体的，这里的设置位置是指当挡板装置处于第一工作状态时（下文将要描述）沿气流方向上的相对位置，并不特指结构上的相对位置，新风口和排风口之间设置有用于打开或遮挡新风口和排风口并用于打开或封堵位于排风口和新风口之间的循环风道的挡板装置。
[0007]挡板装置具有至少两种工作状态，当其处于第一工作状态时，新风口和排风口被遮挡，循环风道被打开，此时测试装置处于正常测试过程，循环风机驱动箱内气流在试验舱和循环风道中循环流动，保证箱内测试温度均匀温度；当挡板装置处于第二工作状态时，新风口和排风口被打开，循环风道被遮挡，此时测试装置处于散热过程，由于新风口与排风口之间的循环风道被封堵，且新风口设置于循环风机上游，外界新风会在循环风机的驱动下由新风口进入循环风道，并通过进风口从循环风道中进入试验舱，并从该进风口对应的回风口再次进入循环风道，确保新风可以均匀的带走试验舱内产品周围堆积的热量，而再次进入循环风道的气流会沿循环风道流动至排风口，由于新风口与排风口之间的循环风道被封堵，气体不会继续循环，而是由排风口排出箱体。本专利技术将排风口、挡板装置、新风口依次设置在试验舱回风口与循环风机之间，并通过挡板装置切换工作状态，使老化测试装置在正常测试时，循环风能够正常循环流动，确保试验舱内温度均匀；在散热时，外界新风可以在循环风机的抽吸下顺利进入循环风道，并沿箱体内原有循环风的流动路径进行散热，且能够顺利排出至外界，不仅可以快速将箱体内的热量带走，还确保了各个产品之间的温度均匀且一致，提高了测试结果的准确性；同时通过测试装置原有的循环风机驱动新风，不仅可以避免外接设备扰乱箱内原有的循环风流动路径，确保新风口与排风口的进排风通畅，提高散热效果，同时进一步保证箱内测试环境稳定，同时也减少了能源消耗，降低了测试成本。
[0008]进一步地，挡板装置还具有处于第一工作状态和第二工作状态之间的至少一种第三工作状态，当挡板装置处于第三工作状态时，新风口和排风口被部分遮挡，循环风道被部分打开，此时测试装置处于可调整的散热状态，由于新风口被部分遮挡，所以会有少量外界新风被循环风机抽吸至循环风道中，而此时循环风道被部分打开，箱体内会有部分参与过循环的气流在继续循环，外界新风流入循环风道后会与循环风道内原有的循环风混合，并在循环风机驱动下进入试验舱为电子器件进行散热，而由于排风口也是部分遮挡，由试验舱再次进入循环风道的气流在流至排风口时会出现分流，一部分经由排风口排出箱体，完成散热，另一部分则会流过挡板装置打开的缺口，并与后续进入的新风混合，重新进行循环，在调节挡板装置时，新风口、排风口的开度是同步且相同的，即同时增大或同时减少，而循环风道的开度是与前两者同步且相反的，即新风口和排风口的开度增大时，循环风道的开度随之减小，新风口和排风口的开度减小时，循环风道的开度随之增大，通过挡板装置调节新风口和排风口以及循环风道的开度，就可以调节进风与排风的风量以及气流在排风口处的分流比例，便于根据被测产品实际发热情况灵活调整排风强度，提高测试装置的使用灵活性和通用性。
[0009]更进一步地，挡板装置包括沿垂直于其设置位置的气流方向转动连接在循环风道内壁上的转轴、固定连接在转轴一侧并用于打开或遮挡新风口的第一挡板、固定连接在转轴另一侧并用于打开或封堵循环风道的第二挡板、固定设置于第二挡板的贴近循环风道内壁的侧边且垂直于第二挡板并用于打开或遮挡排风口的第三挡板、与转轴相连接并用于驱动转轴转动的驱动组件，当挡板装置处于第一工作状态时，第一挡板完全遮挡新风口，第二
挡板完全打开循环风道，第三挡板完全遮挡排风口；当挡板装置处于第三工作状态时，第一挡板部分遮挡新风口，第二挡板部分封堵循环风道，第三挡板部分遮挡排风口；当挡板装置处于第二工作状态时，第一挡板完全打开新风口，第二挡板完全封堵循环风道，第三挡板完全打开排风口。通过上述结构可以简单便捷地实现新风口、排风口、循环风道三者开度的联动调节，不仅简化了测试装置的结构，也降低了其生产成本。需要说明的是，虽然这里所说的是“完全遮挡”和“完全打开”，但是由于制造、加工、安装等所存在的误差，因此这里并不能由此而限定为理论本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种电子器件老化测试装置，其特征在于：包括箱体（1）、设置在所述箱体（1）内且具有至少一组进风口（21）和回风口（22）的试验舱（2）、设置在所述试验舱（2）内的用于连接被测电子器件的测试电路单元、与所述试验舱（2）相邻并连接所述测试电路单元以提供电源的电控箱、设置在所述试验舱（2）外围且两端分别与所述进风口（21）和所述回风口（22）连通的循环风道（3）、设置在所述循环风道（3）内的循环风机（4）、设置在所述循环风道（3）内的加热装置（6），所述循环风机（4）驱动气流自所述循环风道（3）依次经过所述进风口（21）、所述试验舱（2）、所述回风口（22）后回到所述循环风道（3），所述循环风道（3）的壁上开设有供外界空气进入所述循环风道（3）的新风口（31）和用于供所述循环风道（3）内气体排出至外界的排风口（32），所述排风口（32）设置在所述回风口（22）的沿气流方向的下游，所述新风口（31）设置在所述循环风机（4）的沿气流方向的上游，且所述新风口（31）的设置位置位于所述排风口（32）和所述循环风机（4）之间，所述新风口（31）和所述排风口（32）之间设置有用于打开或遮挡所述新风口（31）和所述排风口（32）并用于打开或封堵位于所述排风口（32）和所述新风口（31）之间的所述循环风道（3）的挡板装置（5）；所述挡板装置（5）具有至少两种工作状态，当其处于第一工作状态时，所述新风口（31）和所述排风口（32）被遮挡，所述循环风道（3）被打开；当所述挡板装置（5）处于第二工作状态时，所述新风口（31）和所述排风口（32）被打开，所述循环风道（3）被遮挡。2.根据权利要求1所述的电子器件老化测试装置，其特征在于：所述挡板装置（5）还具有处于所述第一工作状态和所述第二工作状态之间的至少一种第三工作状态，当挡板装置（5）处于第三工作状态时，所述新风口（31）和所述排风口（32）被部分遮挡，所述循环风道（3）被部分打开。3.根据权利要求2所述的电子器件老化测试装置，其特征在于：所述挡板装置（5）包括沿垂直于其设置位置的气流方向转动连接在所述循环风道（3）内壁上的转轴（51）、固定连接在所述转轴（51）一侧并用于打开或遮挡所述新风口（31）的第一挡板（52）、固定连接在所述转轴（51）另一侧并用于打开或封堵所述循环风道（3）的第二挡板（53）、固定设置于所述第二挡板（53）的贴近所述循环风道（3）内壁的侧边且垂直于所述第二挡板（53）并用于打开或遮挡所述排风口（32）的第三挡板（54）、与所述转轴（51）相连接并用于驱动所述转轴（51）转动的驱动组件（55），当所述挡板装置（5）处于第一工...
【专利技术属性】
技术研发人员：刘冬喜，陈宽勇，
申请(专利权)人：海拓仪器江苏有限公司，
类型：发明
国别省市：
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