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本发明涉及一种电子器件老化测试装置，包括箱体、设在箱体内且具有进风口和回风口的试验舱、设在试验舱外围且与进风口和回风口连通的循环风道、循环风机，循环风道壁上设有新风口和排风口，排风口设在回风口下游，新风口设在循环风机上游，新风口位于排风口与...
该专利属于海拓仪器（江苏）有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过海拓仪器（江苏）有限公司授权不得商用。

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