本实用新型专利技术涉及一种用于带电可靠性测试装置的保温密封结构，包括测试箱、保温板、嵌设在保温板上的转接组件，转接组件包括保温块、转接板、连接测试箱内电路板的第一连接器、连接测试箱外电路板的第二连接器，保温块嵌设在保温板中，保温块的厚度小于等于保温板的厚度，转接板嵌设在保温块中，第一与第二连接器分别与转接板两端电连接，保温板的内侧面和外侧面均设置有密封板，密封板分别覆盖在保温块内侧和外侧，且密封板的尺寸大于保温块的内侧面或外侧面的尺寸，本实用新型专利技术可设置足够厚度的保温板及密封板，确保测试箱保温密封，使数据采集模块在常温下工作，使测试箱可随意进行各种复杂环境的带电测试，降低了测试成本，提高了测试效率。高了测试效率。高了测试效率。
【技术实现步骤摘要】
一种用于带电可靠性测试装置的保温密封结构
[0001]本技术涉及一种用于带电可靠性测试装置的保温密封结构，适用于电子器件可靠性测试领域。
技术介绍
[0002]在5G通信、半导体、光通信等高精密产业中，一些电子元器件在投入市场前都需要进行多种产品测试，以保证产品的质量。其中，可靠性测试主要是验证产品在高低温，高湿度等复杂环境下运行的性能指标，监测其在通电运行过程中的电变量，以及发生的化学或物理变化等，以便于筛选出其中的不良品。目前的测试设备大多只能进行普通的高温或者低温老化测试，无法对被测元器件进行通电监测，或者是将数据采集模块整体放置在测试腔内，令数据采集模块与被测元器件共同处于在复杂的环境中，但这会造成数据采集模块的使用寿命缩短，并且无法进行潮湿环境的测试；而部分测试设备会预留模块接口，由元器件厂家自行安装通电，但此类设备的保温密封效果较差，尤其是进行低温测试时，预留的模块接口部位会产生严重的结霜，容易造成数据采集模块短路，不仅影响测试的效率，还会产生不必要的成本。
技术实现思路
[0003]为了解决上述现有技术存在的缺陷，本技术提出了一种用于带电可靠性测试装置的保温密封结构。
[0004]本技术采用的技术方案是：一种用于带电可靠性测试装置的保温密封结构，包括测试箱、用于为测试箱保温的保温板、嵌设在保温板上且贯通测试箱的内外两侧的转接组件，通过足够厚度的保温板确保测试箱的保温隔热性能，并通过转接组件实现测试箱内外两侧的连接，转接组件包括保温块、转接板、用于连接测试箱内部的电路板的第一连接器、用于连接测试箱外部的电路板的第二连接器，保温块嵌设在保温板中，且保温块与保温板为可拆卸连接，方便必要时进行拆装，保温块在内外方向的尺寸小于等于保温板的厚度，避免保温块突出保温板表面，无法进行密封，转接板嵌设在保温块中，便于将保温块拆卸后更换转接板，第一连接器与第二连接器分别与转接板的内外两端电连接，便于测试箱内的待测元器件与箱外的控制元器件相连，保温板的内侧面和外侧面的嵌设有保温块的位置均设置有密封板，密封板分别覆盖在保温块内侧和外侧，且密封板的尺寸大于保温块的内侧面或外侧面的尺寸，可以将保温块与保温板以及保温块与转接板之间的连接缝密封，防止测试箱内部温湿度沿着缝隙向外侧传递。
[0005]进一步地，第一连接器和第二连接器分别穿过相对应的密封板并嵌设在保温块的内侧部和外侧部，避免转接板伸出后被碰撞损坏，提高转接组件的结构稳定性。
[0006]进一步地，第一连接器和第二连接器分别与相对应的密封板相接触的位置均通过密封胶固定连接，将第一连接器和第二连接器与密封板的接缝封闭，提高连接处的密封性能。
[0007]进一步地，第一连接器与第二连接器均为金手指连接器，使用简单便捷，提高测试箱内外两侧元器件的连接便捷性。
[0008]进一步地，密封板与保温板之间设置有硅胶密封垫，提高密封板的密封效果，同时减少密封板与保温块之间的热传递，进一步提高保温块连接处的保温、密封效果。
[0009]更进一步地，密封板的边缘贴近保温板的部位设置有密封胶，且密封板通过密封胶与保温板固定连接，用以封闭密封板与保温板之间的缝隙，提高连接处的密封性。
[0010]进一步地，保温板与保温块的材质均为硅酸铝保温材料，且保温板的厚度不低于50mm，以确保保温板与保温块的保温性能，防止测试箱内的温度对外侧造成影响。
[0011]由于上述技术方案运用，本技术相较现有技术具有以下优点：
[0012]本技术中的用于带电可靠性测试装置的保温密封结构，通过嵌设在保温板上的转接组件连接测试箱的内外两侧，由此可以任意调整保温板的厚度，以确保测试箱内高低温不会引起外侧发热或结霜，密封板的设置可以封闭连接处的缝隙，防止测试箱内的水汽逸散，确保外侧的数据采集模块可以在常温常湿的环境下工作，使得测试箱可以进行高温、高温高湿、低温等多种复杂环境的带电测试，避免了将数据采集模块放置在测试箱内造成的使用寿命减少，也避免了保温密封效果不佳致使箱体外侧结霜，进而导致数据采集模块短路等问题，降低了测试成本，提高了测试效率。
附图说明
[0013]后文将参照附图以示例性而非限制性的方式详细描述本技术的一些具体实施例。附图中相同的附图标记标示了相同或类似的组件或部分。本领域技术人员应该理解，这些附图未必是按比例绘制的。附图中：
[0014]图1是本技术中用于带电可靠性测试装置的保温密封结构的结构示意图；
[0015]图2是图1所示实施例的保温密封结构详图；
[0016]其中，附图标记说明如下：
[0017]1、测试箱；2、保温板；3、转接组件；31、保温块；32、转接板；33、第一连接器；34、第二连接器；35、密封板；36、硅胶密封垫。
具体实施方式
[0018]下面将结合附图对本技术的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本技术保护的范围。
[0019]在本技术的描述中，需要说明的是，有关方向描述的术语“内”、“外”是按照测试箱的方向来定义的，具体的，朝向测试箱内部的一侧为“内”，反之则为“外”；术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性。此外，下面所描述的本技术不同实施方式中所涉及的技术特征只要彼此之间未构成冲突就可以相互结合。
[0020]参考附图1
‑
2，本实施例中的用于带电可靠性测试装置的保温密封结构，包括测试箱1、用于为测试箱1保温的保温板2、嵌设在保温板2上且贯通测试箱1的内外两侧的转接组件3，具体的，保温板2的厚度不低于50mm，可以确保测试箱1的保温隔热性能，并通过转接组
件3实现测试箱1内外两侧的连接，使得数据采集模块可以设置在箱体外侧，测试箱1在进行高温、高温高湿、低温等多种复杂环境的带电测试时不会对数据采集模块造成影响或损坏，降低了测试的成本，提高了测试效率。
[0021]转接组件3包括保温块31、转接板32、用于连接测试箱1内部的电路板的第一连接器33、用于连接测试箱1外部的电路板的第二连接器34，保温块31嵌设在保温板2中，且保温块31与保温板2为可拆卸连接，方便必要时进行拆装，保温块31在内外方向的尺寸小于等于保温板2的厚度，避免保温块31突出保温板2表面而无法进行密封，转接板32嵌设在保温块31中，保温块31拆卸时可同时将转接板32一起卸下，方便更换转接板32，第一连接器33与第二连接器34分别与转接板32的内外两端电连接，可用于使测试箱1内外的元器件连通，保温板2的内侧面和外侧面的嵌设有保温块31的位置均设置有密封板35，密封板35分别覆盖在保温块31内侧和外侧，且密封板35的尺寸大于保温块31的内侧面或外侧面的尺寸，可以将保温块31与保温板2以及保温块31与转接板32之间的本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种用于带电可靠性测试装置的保温密封结构，其特征在于：包括测试箱（1）、用于为所述测试箱（1）保温的保温板（2）、嵌设在所述保温板（2）上且贯通所述测试箱（1）的内外两侧的转接组件（3），所述转接组件（3）包括保温块（31）、转接板（32）、用于连接所述测试箱（1）内部的电路板的第一连接器（33）、用于连接所述测试箱（1）外部的电路板的第二连接器（34），所述保温块（31）嵌设在所述保温板（2）中，且所述保温块（31）在内外方向的尺寸小于等于所述保温板（2）的厚度，所述转接板（32）嵌设在所述保温块（31）中，且所述第一连接器（33）与所述第二连接器（34）分别与所述转接板（32）的内外两端电连接，所述保温板（2）的内侧面和外侧面的嵌设有所述保温块（31）的位置均设置有密封板（35），所述密封板（35）分别覆盖在所述保温块（31）内侧和外侧，且所述密封板（35）的尺寸大于所述保温块（31）的内侧面或外侧面的尺寸。2.根据权利要求1所述的用于带电可靠性测试装置的保温密封结构，其特征在于：所述第一连接器（33）和所述第二连接器...
【专利技术属性】
技术研发人员：刘冬喜，陈宽勇，
申请(专利权)人：海拓仪器江苏有限公司，
类型：新型
国别省市：
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。