【技术实现步骤摘要】
同心锥TEM室的装配方法
[0001]本专利技术属于TEM室装配
,具体地,涉及一种同心锥TEM室的装配方法。
技术介绍
[0002]场强是无线电的基本参数之一,场强参数的校准精度直接影响场强测量结果的准确性,国际上普遍采用TEM室法、GTEM室法、基于角锥喇叭天线的标准场法等方法来对场强进行校准。
[0003]目前普遍认为可产生宽频带电磁场的系统是同心锥TEM室宽带场强校准系统,其可满足场强探头的全频段、宽带扫频校准需求。为使同心锥TEM室内有足够的测试区域,同心锥TEM室一般均设计的比较高,重量较大,且采取分段制造的方式,如何装配及精确定位是同心锥TEM室研制过程中一个亟待解决的问题。
技术实现思路
[0004]本专利技术的目的是提供一种同心锥TEM室的装配方法,该方法可以对同心锥TEM室采取分段安装的方式,在装配的同时,实时监测装配误差,从而能达到精确定位的目的。
[0005]为了实现上述目的,根据本申请的一个方面,提供了一种同心锥TEM室的装配方法,
[0006]所述同心 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种同心锥TEM室的装配方法,其特征在于,所述同心锥TEM室的装配方法包括:步骤S1:依次对第一外锥段(11)、第二外锥段(12)、负载终端(40)、负载终端压块(50)、第一内锥段(21)进行组装,如果所述第一内锥段(21)的下端止口平面与所述第二外锥段(12)的下端止口平面共面,且所述负载终端(40)的上端面的上端止口平面与所述第一外锥段(11)的上端止口平面共面,则进行后续步骤,否则检查误差源返修;步骤S2:依次对第二内锥段(22)、第一支撑体(31)、第三外锥段(13)、第二支撑体(32)以及第四外锥段(14)进行组装,如果所述第二内锥段(22)的上端止口平面、所述第三外锥段(13)的上端止口平面、以及所述第一支撑体(31)的顶面共面,且所述第二内锥段(22)的下端止口平面、所述第二支撑体(32)的底面、以及所述第四外锥段(14)的底面共面,则进行后续步骤,否则检测误差源返修;步骤S3:依次对第三内锥段(23)、第三支撑体(33)、第五外锥段(15)、第四支撑体(34)、第六外锥段(16)进行组装,如果所述第三内锥段(23)的上端止口平面、所述第五外锥段(15)的上端止口平面、所述第三支撑体(33)的顶面共面,且所述第三内锥段(23)的下端止口平面、所述第六外锥段(16)的下端止口平面以及所述第四支撑体(34)的下端止口平面共面,则进行后续步骤,否则检测误差源返修;步骤S4:依次对内锥尖(24)、第五支撑体(35)、第七外锥段(17)、外锥尖(18)、以及接头(70)进行组装,如果所述内锥尖(24)的顶端止口平面、所述第五支撑体(35)的顶面以及所述第七外锥段(17)的顶端止口平面共面,则完成所述同心锥TEM室的装配,否则检测误差源返修。2.根据权利要求1所述的同心锥TEM室的装配方法,其特征在于,在所述步骤S1中,将所述第一外锥段(11)放置在支架(80)上,然后依次进行所述第二外锥段(12)、所述负载终端(40)、所述负载终端压块(50)、所述第一内锥段(21)的组装。3.根据权利要求1所述的同心锥TEM室的装配方法,其特征在于,在所述步骤S2中,将所述第二内锥段(22)连接在所述第一内锥段(21)上,然后依次进行所述第一支撑体(31)、所述第三外锥段(13)、所述第二支撑体(32)以及所述第四外...
【专利技术属性】
技术研发人员:黄承祖,刘星汛,崔腾林,彭博,赵鹏,
申请(专利权)人:北京无线电计量测试研究所,
类型:发明
国别省市:
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