一种IGBT电路系统测试方法及电路技术方案

本发明专利技术涉及一种IGBT电路系统测试方法，以下步骤：给IGBT单管施加脉冲信号；通过电流探头得出总回路中的电流波形；通过电压探头得出各部件位置V1、V2、V3的电压波形；测试母线电源杂散电感；测试叠层铜排杂散电感；测试待测IGBT模块的总杂散电感。本发明专利技术的有益效果在于：本发明专利技术可以单独测量母线电容、叠层铜排、IGBT模块总杂散电感。IGBT模块总杂散电感。IGBT模块总杂散电感。

【技术实现步骤摘要】
一种IGBT电路系统测试方法及电路


[0001]本专利技术涉及电路测试
，特别涉及一种IGBT电路系统测试方法及电路。

技术介绍

[0002]当前，新能源电动汽车发展迅速，电机控制器就是新能源汽车的控制及动力中心，而IGBT则是电机控制器的动力输出单元，让电机控制器整套系统高效而安全地进行工作可以节省能源，提升整车系统效率。电机控制器中的驱动模组，包含驱动电路和IGBT模块，在实际使用中对整车效率会产生很大的影响。驱动电路和IGBT模块整个回路杂散电感小，则电机控制器PWM控制关断时，产生的电压尖峰越小，驱动模组才会使用的更安全，因此需要评估整个回路杂散电感和各部件包含母线电容、叠层铜排、IGBT模块内部杂散电感。
[0003]目前比较广泛的双脉冲测试电路，对应测试杂散电感的方法可以测试整个驱动回路的杂散电感，但不能单独测试母线电容、叠层铜排、IGBT模块总杂散电感值。
[0004]因此，亟待提供一种能够单独测量母线电容、叠层铜IGBT模块总杂散电感的方法，以方便评估驱动模组系统的回路设计是否满足要求。

技术实现思路

[0005]本专利技术实施例提供一种IGBT电路系统测试方法及电路，能解决相关技术中的问题。
[0006]一方面，本专利技术实施例提供了一种IGBT电路系统测试方法，
[0007]包括以下步骤：
[0008]S10.给IGBT单管施加脉冲信号；
[0009]S20.通过电流探头得出总回路中的电流波形；
[0010]S30.通过电压探头得出各部件位置V1、V2、V3的电压波形；
[0011]S40.测试母线电源杂散电感；
[0012]S50.测试叠层铜排杂散电感；
[0013]S60.测试待测IGBT模块的总杂散电感。
[0014]在一些实施例中，所述S40.测试母线电源杂散电感，包括以下步骤：
[0015]S41.通过第一电压探头测量母线电源杂散电感两端的电压波形；
[0016]S42.根据捕捉到的关断时刻的电压电流波形信号计算出母线电源杂散电感的数值。
[0017]在一些实施例中，S50.测试叠层铜排杂散电感，包括以下步骤：
[0018]S51.通过第二电压探头测量叠层铜排杂散电感两端的电压波形；
[0019]S52.根据捕捉到的关断时刻的电压电流波形信号计算出叠层铜排杂散电感值。
[0020]在一些实施例中，S60.测试IGBT模块的总杂散电感，包括以下步骤：
[0021]S61.通过第三电压探头测量待测IGBT模块的正负铜排两端的电压波形；
[0022]S62.根据捕捉到的关断时刻的电压电流波形信号计算出待测IGBT模块总杂散电
感值。
[0023]在一些实施例中，所述杂散电感值的计算方式为：
[0024]L＝Δu/(di/dt)，
[0025]其中，L为杂散电感值，Δu为杂散电感的电压值，di为总回路中的电流值，di/dt为所述总回路的电流变化率。
[0026]一方面，提供一种IGBT电路系统测试电路，包括上述任意一项所述的IGBT电路系统测试方法所需要的测试电路。
[0027]在一些实施例中，包括母线电源杂散电感、叠层电源杂散电感及待测IGBT模块，所述母线电源杂散电感的负极与所述叠层铜排杂散电感的正极连接，所述叠层铜排杂散电感的负极与所述待测IGBT模块的正极连接。
[0028]在一些实施例中，还包括母线电源装置、电流探头及IGBT单管，所述母线电源装置的正极与所述母线电源杂散电感的正极连接，所述母线电源装置的负极与所述IGBT单管的负极连接，所述IGBT单管的正极与所述电流探头的负极连接，所述电流探头的正极与所述待测IGBT模块的负极连接。
[0029]在一些实施例中，包括第一电压探头，与所述母线电源杂散电感并联；
[0030]第二电压探头，与所述叠层铜排杂散电感并联；
[0031]第三电压探头，与所述待测IGBT模块并联。
[0032]在一些实施例中，所述待测IGBT模块包括待测IGBT模块上管及待测IGBT模块下管，所述待测IGBT模块上管与所述IGBT模块下管串联；还包括外接可调负载电感，与所述待测IGBT模块上管并联。
[0033]本专利技术提供的技术方案带来的有益效果包括：本专利技术可以单独测量母线电容、叠层铜排、IGBT模块总杂散电感。
附图说明
[0034]为了更清楚地说明本专利技术实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0035]图1为本专利技术的一种IGBT电路系统测试方法的总体流程图；
[0036]图2为本专利技术的一种IGBT电路系统测试方法的测试母线电源杂散电感的流程图；
[0037]图3为本专利技术的一种IGBT电路系统测试方法的测试叠层铜排杂散电感的流程图；
[0038]图4为本专利技术的一种IGBT电路系统测试方法的测试IGBT模块的总杂散电感的流程图；
[0039]图5为本专利技术的一种IGBT电路系统测试电路的总体结构图；
[0040]图6为本专利技术的一种IGBT电路系统测试电路的IGBT单管打开时电流方向的示意图；
[0041]图7为本专利技术的一种IGBT电路系统测试电路的IGBT单管关闭时电流方向的示意图；
[0042]图8为本专利技术的一种IGBT电路系统测试电路的关断时杂散电感测试脉冲示例图。
具体实施方式
[0043]为使本专利技术实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本专利技术的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。
[0044]参见图1所示，本专利技术实施例提供了一种IGBT电路系统测试方法，包括以下步骤：
[0045]S10.给IGBT单管IGBT3施加脉冲信号；
[0046]S20.通过电流探头I1得出总回路中的电流波形；
[0047]S30.通过电压探头得出各部件位置V1、V2、V3的电压波形；
[0048]S40.测试母线电源杂散电感L1；
[0049]S50.测试叠层铜排杂散电感L2；
[0050]S60.测试待测IGBT模块的总杂散电感L。
[0051]本实施例中，待测IGBT模块由上管IGBT1和下管IGBT2组成，上管IGBT1给
‑
15V驱动电压使IGBT1始终处于关闭状态，下管IGBT2给+15V驱动电压使IGBT2始终处于开通状态，电流回路通过L3、IGBT2、IGBT3形成回路，关断时L3本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种IGBT电路系统测试方法，其特征在于，包括以下步骤：S10.给IGBT单管施加脉冲信号；S20.通过电流探头得出总回路中的电流波形；S30.通过电压探头得出各部件位置V1、V2、V3的电压波形；S40.测试母线电源杂散电感；S50.测试叠层铜排杂散电感；S60.测试待测IGBT模块的总杂散电感。2.如权利要求1所述的一种IGBT电路系统测试方法，其特征在于，所述S40.测试母线电源杂散电感，包括以下步骤：S41.通过第一电压探头测量母线电源杂散电感两端的电压波形；S42.根据捕捉到的.关断时刻的电压电流波形信号计算出母线电源杂散电感的数值。3.如权利要求1所述的一种IGBT电路系统测试方法，其特征在于，S50.测试叠层铜排杂散电感，包括以下步骤：S51.通过第二电压探头测量叠层铜排杂散电感两端的电压波形；S52.根据捕捉到的关断时刻的电压电流波形信号计算出叠层铜排杂散电感的数值。4.如权利要求1所述的一种IGBT电路系统测试方法，其特征在于，S60.测试IGBT模块的总杂散电感，包括以下步骤：S61.通过第三电压探头测量待测IGBT模块的正负铜排两端的电压波形；S62.根据捕捉到的关断时刻的电压电流波形信号计算出待测IGBT模块总杂散电感值。5.如权利要求1所述的一种IGBT电路系统测试方法，其特征在于，所述杂散电感值的计算方式为：L＝Δu/(di/dt)，其中，L为杂散电感值，Δu为杂散电感的...

【专利技术属性】
技术研发人员：焦双凤，余辰将，张鲲，刘洛宁，高峰，聂朝轩，焦梦婷，余明，
申请(专利权)人：智新半导体有限公司，
类型：发明
国别省市：