芯片失效类型测试系统技术方案

本申请提供了一种芯片失效类型测试系统，包括：检测装置，用于输出检测信号至待测芯片；处理装置，与检测装置通信连接，且与待测芯片通信电连接，处理装置用于至少控制检测信号的测试频率和测试功率以对待测芯片进行测试，并根据待测芯片在测试过程中的输出信号确定到待测芯片是否失效以及在失效情况下确定失效类型。该系统将处理装置与检测装置连接，通过处理装置至少控制检测信号的测试频率和测试功率以对待测芯片进行测试，并根据待测芯片在测试过程中的输出信号确定到待测芯片是否失效以及在失效情况下确定失效类型，实现芯片测试的自动化控制，进而解决了现有技术中无法自动识别区分芯片失效类型的问题。动识别区分芯片失效类型的问题。动识别区分芯片失效类型的问题。

【技术实现步骤摘要】
芯片失效类型测试系统


[0001]本申请涉及集成电路
，具体而言，涉及一种芯片失效类型测试系统。

技术介绍

[0002]基于直接射频功率注入的集成电路电磁兼容抗扰度测试方法被发展成为标准(IEC62132
‑
4)(International Electrotechnical Commission，国际电工委员会)的测试方法。测试标准IEC62132
‑
4主要用于150KHz至1GHz(可拓展至更高的频率)的集成电路抗扰度测试。集成电路电磁兼容抗扰度测试分为辐射抗扰度和传导抗扰度两种测试方法，其中直接射频功率注入法是比较常用的传导抗扰度测试方法。
[0003]集成电路RF(Radio Frequency，射频)DPI(Direct Power Injection，直接功率注入)抗扰度测试方法如图1所示，根据DUT(Device Under Test，待测芯片)功能得出失效判据，在芯片待测引脚RF注入点上注入RF电磁干扰，使用示波器或其它DUT监控设备观察与测试相关的信号，并且使用前向注入功率来表征电磁抗扰度水平。同时该测试标准还给出了该测试方法的测试流程图，如图2所示，大致描述如下：开始测试，设置起始频率f＝f
start
，设置初始的注入功率值(该功率值由规定的最大功率值P
specified
决定，并分成若干个梯度功率值，由小往大按步进取值)；开始注入功率，等待注入功率驻留时间结束；判断DUT是否发生失效或者是否达到规定的功率等级，如果否，则继续增加注入的功率值P；如果是，则停止注入，记录当前的频率点和功率值；判断当前频率点是否是终止频率点f
stop
，如果不是，则增加到下一个频率点继续上面的步骤；如果是，则结束测试。
[0004]整个测试流程的目的是找到每个规定的测试频率点的注入功率是否能达到规定功率值或者在发生失效的前一个注入功率值
[0005]但是，该测试系统，控制电脑是可选项，没有明确指出测试系统的实现是手动测试，半自动测试还是自动化测试等，这样RF信号源、RF放大器、定向耦合器、RF功率计和DUT监控设备都可能需要人工手动控制。另外，由于功率步进的设置，很有可能会出现DUT失效，且无法在下一个测试频率点开始之前恢复正常工作状态的情况，此时就必须暂停测试，手动去复位直流电源或激励源，然后才能重启测试。而整个测试即使是针对单个引脚进行测试也是一个耗时的过程，如果要进行手动干预测试，会大大增加测试时间，降低测试效率。并且该测试系统无法自动识别区分注入干扰导致的失效类型(IEC62132
‑
1标准规定的失效类型分为A\B\C\D\E类，描述见下表1)
[0006]表1抗扰度测试失效类型定义
[0007][0008][0009]因此，亟需一种可以实现自动识别区分芯片失效类型的芯片测试系统。
[0010]在
技术介绍
部分中公开的以上信息只是用来加强对本文所描述技术的
技术介绍
的理解，因此，
技术介绍
中可能包含某些信息，这些信息对于本领域技术人员来说并未形成在本国已知的现有技术。

技术实现思路

[0011]本申请的主要目的在于提供一种芯片失效类型测试系统，以解决现有技术中无法自动识别区分芯片失效类型的问题。
[0012]为了实现上述目的，根据本申请的一个方面，提供了一种芯片失效类型测试系统，包括检测装置以及处理装置，其中，所述检测装置用于输出检测信号至待测芯片；所述处理装置与所述检测装置通信连接，且与所述待测芯片电连接，所述处理装置用于至少控制所述检测信号的测试频率和测试功率以对所述待测芯片进行测试，并根据所述待测芯片在所述测试过程中的输出信号确定所述待测芯片是否失效以及在失效情况下，确定失效类型。
[0013]进一步地，所述系统还包括电源装置，所述电源装置包括第一直流电源和第二直流电源，所述第一直流电源和所述第二直流电源分别与所述处理装置通信连接，且与所述待测芯片电连接，所述第一直流电源用于为所述待测芯片供电，所述第二直流电源用于控制所述待测芯片复位。
[0014]进一步地，所述处理装置包括处理器和监控装置，其中，所述处理器用于至少控制所述检测信号的所述测试频率和所述测试功率以对所述待测芯片进行所述测试，并在失效情况下，确定所述失效类型；所述监控装置与所述处理器通信连接，用于根据所述待测芯片在所述测试过程中的输出信号确定所述待测芯片是否失效。
[0015]进一步地，所述处理装置用于至少控制所述检测信号的测试频率和测试功率以对所述待测芯片进行测试，并根据所述待测芯片在所述测试过程中的输出信号确定所述待测芯片是否失效以及在失效情况下确定失效类型，包括：获取频率区间和功率区间，所述频率区间以及所述功率区间是根据所述待测芯片确定的；依次对所述待测芯片进行至少一组所述测试，且一组所述测试中的所述测试频率相同，在所述测试有多组的情况下，任意两组所述测试的所述测试频率不同，一组所述测试中，多次所述测试的所述测试功率为所述功率区间中由小到大的多个功率；在确定所述待测芯片失效的情况下，控制所述检测装置停止向所述待测芯片输入所述检测信号，并根据预定动作和预定时间后所述待测芯片的所述输出信号，确定所述失效类型。
[0016]进一步地，所述处理装置用于至少控制所述检测信号的测试频率和测试功率以对所述待测芯片进行测试，并根据所述待测芯片在所述测试过程中的输出信号确定所述待测
芯片是否失效以及在失效情况下确定失效类型，还包括：第一确定步骤，在确定所述待测芯片未失效的情况下，确定当前组的所述测试中的所述测试功率的最大值是否小于功率阈值；第一控制步骤，在所述测试功率的最大值小于所述功率阈值的情况下，控制所述测试功率增加第一预定步长以对所述待测芯片进行所述测试，并根据所述待测芯片的所述输出信号确定所述待测芯片是否失效；第二确定步骤，在所述待测芯片失效的情况下，控制所述检测装置停止向所述待测芯片输入所述检测信号，并根据所述预定动作和所述预定时间后所述待测芯片的所述输出信号，确定所述失效类型；在所述待测芯片未失效的情况下，重复执行所述第一控制步骤，直至所述测试功率达到所述功率阈值。
[0017]进一步地，所述处理装置用于至少控制所述检测信号的测试频率和测试功率以对所述待测芯片进行测试，并根据所述待测芯片在所述测试过程中的输出信号确定所述待测芯片是否失效以及在失效情况下确定失效类型，还包括：第三确定步骤，在确定所述失效类型的情况下，确定当前组的所述测试中的所述测试频率的最大值是否小于频率阈值；第二控制步骤，在所述测试频率的最大值小于所述频率阈值的情况下，控制所述测试频率增加第二预定步长以对所述待测芯片进行至少一组所述测试，且一组所述测试中的所述测试频率相同，一组所述测试中，多次所述测试的所述测试功率为所述功率区间中由小到大的多个功率，并根据所述待测芯片的所述输出信号确定所述待测芯片是否失效；第四确定步骤，在所述待测芯片失效的情况下，控制所述检测装置停止向所述待测芯片输本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种芯片失效类型测试系统，其特征在于，包括：检测装置，用于输出检测信号至待测芯片；处理装置，与所述检测装置通信连接，且与所述待测芯片电连接，所述处理装置用于至少控制所述检测信号的测试频率和测试功率以对所述待测芯片进行测试，并根据所述待测芯片在所述测试过程中的输出信号确定所述待测芯片是否失效以及在失效情况下，确定失效类型。2.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述系统还包括：电源装置，包括第一直流电源和第二直流电源，所述第一直流电源和所述第二直流电源分别与所述处理装置通信连接，且与所述待测芯片电连接，所述第一直流电源用于为所述待测芯片供电，所述第二直流电源用于控制所述待测芯片复位。3.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述处理装置包括：处理器，用于至少控制所述检测信号的所述测试频率和所述测试功率以对所述待测芯片进行所述测试，并在失效情况下，确定所述失效类型；监控装置，与所述处理器通信连接，用于根据所述待测芯片在所述测试过程中的输出信号确定所述待测芯片是否失效。4.根据权利要求3所述的系统，其特征在于，所述处理装置用于至少控制所述检测信号的测试频率和测试功率以对所述待测芯片进行测试，并根据所述待测芯片在所述测试过程中的输出信号确定所述待测芯片是否失效以及在失效情况下确定失效类型，包括：获取频率区间和功率区间，所述频率区间以及所述功率区间是根据所述待测芯片确定的；依次对所述待测芯片进行至少一组所述测试，且一组所述测试中的所述测试频率相同，在所述测试有多组的情况下，任意两组所述测试的所述测试频率不同，一组所述测试中，多次所述测试的所述测试功率为所述功率区间中由小到大的多个功率；在确定所述待测芯片失效的情况下，控制所述检测装置停止向所述待测芯片输入所述检测信号，并根据预定动作和预定时间后所述待测芯片的所述输出信号，确定所述失效类型。5.根据权利要求4所述的系统，其特征在于，所述处理装置用于至少控制所述检测信号的测试频率和测试功率以对所述待测芯片进行测试，并根据所述待测芯片在所述测试过程中的输出信号确定所述待测芯片是否失效以及在失效情况下确定失效类型，还包括：第一确定步骤，在确定所述待测芯片未失效的情况下，确定当前组的所述测试中的所述测试功率的最大值是否小于功率阈值；第一控制步骤，在所述测试功率的最大值小于所述功率阈值的情况下，控制所述测试功率增加第一预定步长以对所述待测芯片进行所述测试，并根据所述待测芯片的所述输出信号确定所述待测芯片是否失效；第二确定步骤，在所述待测芯片失效的情况下，控制所述检测装置停止向所述待测芯片输入所述检测信号，并根据所述预定动作和所述预定时间后所述待测芯片的所述输出信号，确定所述失效类型；在所述待测芯片未失效的情况下，重复执行所述第一控制步骤，直至所述测试功率达到所述功率阈值。
6.根据权利要求4所述的系统，其特征在于，所述处理装置用于至少控制所述检测信号的测试频率和测试功率以对所述待测芯片进行测试，并根据所述待测芯片在所述测试过程中的输出信号确定所述待测芯片是否失效以及在失效情况下确定失效类型，还包括：第三确定步骤，在确定所述失效类型的情况下，确定当前组的所述测试中的所述测试频率的最大值是否小于频率...

【专利技术属性】
技术研发人员：朱伟，张红丽，李彬鸿，赵星，叶甜春，王云，
申请(专利权)人：锐立平芯微电子广州有限责任公司，
类型：发明
国别省市：