相关双取样电路和取样保持电路制造技术

本发明专利技术提供一种相关双取样电路和取样保持电路。该相关双取样电路具有等分为多个的取样电容，通过在多个取样点对输入信号进行取样，并接通平均化开关来求取由取样得到的多个取样值的平均值。由此，降低重叠于输入信号的高频噪声，输出由取样得到的多个取样值的平均值的差。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】

【技术保护点】
一种相关双取样电路，其特征在于，包括：　　　　取样电容，为在多个取样点上对输入信号进行取样而被分割为多个并分别并联连接而构成；　　　　多个取样开关，分别与上述取样电容的分割后的各电容串联连接；以及　　　　平均化开关，用于对用上述取样电容的分割后的各电容分别取样而得到的多个取样值进行平均化来计算平均值。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员：大齿真，
申请(专利权)人：松下电器产业株式会社，
类型：发明
国别省市：JP[日本]