【技术实现步骤摘要】
一种适用于SAP制程的微蚀粗化液及其应用
[0001]本专利技术属于化工微蚀液
,具体涉及一种适用于SAP制程的微蚀粗化液及其应用。
技术介绍
[0002]电子产品的小型化和轻型化推动线路板朝着轻、小的方向发展。此外,由于5G技术的推出和快速发展,致使线路板及载板在布线上更加密集化,线路日益细化和薄化,对工艺可靠性及加工精度要求不断提高。作为用于密集化细线路布线方法之一,半加成法工艺(semi
‑
additive process,简称SAP)因其加工精度高被广泛应用。
[0003]目前,市场上的商业化微蚀粗化液种类繁多,多为有机酸/Cu
2+
体系或硫酸
‑
双氧水体系。CN111349937A公开了一种铜或铜合金表面微蚀液及其处理方法,所述微蚀液由以下质量百分浓度的组分组成:过氧化氢0.1%~1%,硫酸0.1%~10%,过氧化氢稳定剂0.01%~10%,保护剂0.01%~1%,卤素离子0.001%~0.02%,余量为去离子水。但此硫酸双氧水粗化体系易受到氯离子污染,难以在较宽的氯离子浓度范围内维持稳定的蚀刻速率和粗化效果。
[0004]CN111020584A本专利技术涉及一种铜表面微蚀粗化液,包括如下成分及其质量浓度:来自铜离子源的二价铜离子、有机酸、氯离子、水溶性聚合物和吡啶衍生物,溶剂为水,该铜面粗化液可以在铜表面形成均匀的粗化,不受铜面晶体结构的影响,在后续的工艺中可以有效改善涂覆在其上面的阻焊涂层的附着力。但有机酸粗化体系成本较高。< ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种适用于SAP制程的微蚀粗化液,其特征在于,所述适用于SAP制程的微蚀粗化液按质量浓度计包括无机酸50
‑
100g/L、有机酸1
‑
10g/L、过氧化氢溶液10
‑
30g/L、过氧化氢稳定剂0.1
‑
10g/L、缓蚀剂0.1
‑
10g/L、卤化盐0.8
‑
5mg/L,溶剂为去离子水;无机酸和有机酸的质量比为(5
‑
10):1。2.根据权利要求1所述的适用于SAP制程的微蚀粗化液,其特征在于,所述无机酸包括硫酸、磷酸、硝酸中的任意一种或至少两种的组合;优选地,所述无机酸为硫酸;优选地,所述硫酸的浓度为40
‑
60wt%。3.根据权利要求1或2所述的适用于SAP制程的微蚀粗化液,其特征在于,所述有机酸包括甲酸、苹果酸、衣康酸、丁二酸、戊二酸、己二酸、葡萄糖酸、马来酸、山梨酸、烟酸、对甲苯磺酸、天冬氨酸、甘氨酸、丙氨酸、赖氨酸中的任意一种或至少两种的组合;优选地,所述有机酸为天冬氨酸和己二酸的组合;优选地,所述天冬氨酸和己二酸的质量比为(2
‑
5):1。4.根据权利要求1
‑
3中任一项所述的适用于SAP制程的微蚀粗化液,其特征在于,所述过氧化氢溶液的浓度为25
‑
45wt%;优选地,所述过氧化氢稳定剂包括4
‑
羟基苯磺酸、二乙二醇或正丁醇中的任意一种或至少两种的组合。5.根据权利要求1
‑
4中任一项所述的适用于SAP制程的微蚀粗化液,其特征在于,所述缓蚀剂包括氮唑类化合物、噻唑类化合物或咪唑类化合物中的任意一种或至少两种的组合;优选地,所述氮唑类化合物包括苯并三氮唑、1
‑
羟基苯并三氮唑、3,5
‑
二氨基
‑
1,2,4
‑
三氮唑、3
‑
氨基
‑5‑
巯基
‑
1,2,4
‑
三氮唑、5
‑
甲基四氮唑或5
‑
...
【专利技术属性】
技术研发人员:周煜,黄建东,章晓冬,魏雯静,
申请(专利权)人:上海天承化学有限公司,
类型:发明
国别省市:
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