图示仪测试弹片结构制造技术

本实用新型专利技术属于半导体检测技术领域，具体涉及一种图示仪测试弹片结构，包括测试弹片本体，所述测试弹片本体包括若干测试片，每片测试片呈L型，测试片包括水平部和竖向部，水平部上设有安装位，竖向部上设有测试端，每片测试片的测试端齐平。本实用新型专利技术中，测试片通过安装位固定安装在机架或者其他固定不动的设备上，在外力作用下，测试片的水平部发生弯曲，竖向部向待测产品方向移动，使得测试端与待测产品上对应的引脚接触，实现对待测产品的波形测试，达到自动触点测试产品的目的，避免手动将待测产品放置于测试模具中，从而有效解决了人为操作不当引起的引脚变形和波形不良的问题，提高了产品测试效率。提高了产品测试效率。提高了产品测试效率。

【技术实现步骤摘要】
图示仪测试弹片结构


[0001]本技术属于半导体检测
，具体涉及一种图示仪测试弹片结构。

技术介绍

[0002]目前，通常是使用图示仪设备对TO
‑
263等封装产品进行波形测试，从而判断测试产品是否合格。传统的TO
‑
263等封装产品在图示仪设备上进行波形测试时，需测试人员手动将待测产品放置于测试模具(测试模具中设有与图示仪测试线连接的测试片，测试片与对应的引脚接触)中，再启动图示仪设备给其一定的电压或电流，从而在图示仪显示屏上显示该测试产品的波形。上述过程中存在的问题是：1、手动放置待测产品时易造成产品外观污染；2、手动放置待测产品至测试模具中时操作不当易造成产品损伤例如引脚变形；3、手动放置待测产品时位置出现差异易造成波形异常或误测；4、测试效率低。因此，需要设计一种无需将待测产品手动放置于测试模具中的图示仪测试片，从而解决手动放置待测产品至测试模具中的测试方式所存在的问题。

技术实现思路

[0003]本技术意在提供一种图示仪测试弹片结构，以解决手动放置待测产品至测试模具中的测试方式所存在的产品损伤及波形异常的问题。
[0004]为了达到上述目的，本技术的方案为：图示仪测试弹片结构，包括测试弹片本体，所述测试弹片本体包括若干测试片，每片测试片呈L型，测试片包括水平部和竖向部，水平部上设有安装位，竖向部上设有测试端，每片测试片的测试端齐平。
[0005]本方案的工作原理及有益效果在于：本方案中，测试片通过安装位固定安装在机架或者其他固定不动的设备上，且测试片为导电金属片如铜片，具有弹性，在外力作用下，测试片的水平部发生弯曲，竖向部向待测产品方向移动，使得测试端与待测产品上对应的引脚接触，实现对待测产品的波形测试，达到自动触点测试产品的目的，避免手动将待测产品放置于测试模具中，从而有效解决了人为操作不当引起的引脚变形和波形不良的问题，提高了产品测试效率。
[0006]并且，由于本方案中的测试片为若干片，因此，实际使用时，测试人员能够根据实际情况，选择合适数量的测试片与图示仪测试线连接，从而一次性对待测产品的各个引脚进行测试，提高测试效率。
[0007]可选地，所述测试片的数量为三片，三片测试片分别为第一测试片、第二测试片和第三测试片，第二测试片的测试端的宽度沿远离水平部的方向逐渐减小，第一测试片和第三测试片的测试端均朝向第二测试片倾斜，第一测试片和第三测试片的测试端均具有缺口，且缺口位于靠近第二测试片测试端的一侧，第二测试片的测试端与第一测试片以及第三测试片的缺口所在位置齐平。
[0008]本方案中，第二测试片的测试端的宽度沿远离水平部的方向逐渐减小，如此，在确保第二测试片与待测产品上对应引脚接触的同时，避免第二测试片接触其他引脚而导致短
路。另外，第一测试片和第三测试片的测试端具有缺口，如此，第一测试片和第三测试片与对应引脚接触时，引脚能够卡在缺口处，避免引脚受力向外倾斜。
[0009]可选地，所述测试片的水平部开设有安装通孔。
[0010]本方案中，测试片通过安装通孔安装在机架或者其他固定不动的设备上，避免将测试片粘接或焊接在机架或者其他固定不动的设备上，以便测试人员能够将对应的测试片取下并替换为新的测试片。
[0011]可选地，所述测试片水平部上的安装通孔与测试端之间的水平距离为66.5mm以上。
[0012]本方案中，测试片上的安装通孔与测试端之间的水平距离为66.5mm以上，避免测试片的安装位与测试端之间的距离过近，确保测试片安装后，测试片的水平部能够在外力作用下顺利弯曲，以便测试端能够轻易与待测产品的引脚接触。
[0013]可选地，所述测试片水平部上的安装通孔的数量为两个。
[0014]本方案中，测试片上的安装通孔数量为两个时，相较于安装通孔数量为一个时，前者使得测试片的安装稳定性更高。
[0015]可选地，所述安装通孔所在的水平部具有外延部。
[0016]本方案中，安装通孔所在的水平部具有外延部，因此安装通孔所在的水平部的宽度变宽，以便安装通孔的孔径更大，更便于测试片的安装。
[0017]可选地，所述测试片的水平部远离竖向部的一端开设有用于连接图示仪测试线的连接通孔。
[0018]本方案中，图示仪的测试线伸入连接通孔内并焊接在连接通孔处，焊料在连接通孔处形成“工”字形结构，提高了测试线与测试片之间连接的稳定性。
[0019]可选地，所述测试片之间的间距为2mm以上。
[0020]本方案中，测试片之间的间距为2mm以上，确保相邻的测试片不会接触，从而避免短路。
[0021]可选地，所述第一测试片和第三测试片的水平部的宽度为3.5
‑
4mm，第二测试片的水平部的宽度为3.4
‑
3.9mm。
[0022]本方案中，限制测试片水平部的宽度在合适范围，避免测试片水平部的宽度过宽而导致测试片无法与对应的引脚接触，也避免测试片水平部的宽度过窄而导致安装位面积过小。
[0023]可选地，所述测试片的厚度为0.5mm。
[0024]本方案中，测试片的厚度为0.5mm，避免测试片过厚不易弯曲，也避免测试片过薄不易恢复形变。
附图说明
[0025]图1为本技术实施例一中图示仪测试弹片结构的结构示意图；
[0026]图2为本技术实施例一中图示仪测试弹片结构的俯视图；
[0027]图3为图2的右视图；
[0028]图4为TO
‑
263封装产品的结构示意图；
[0029]图5为本技术实施例二中图示仪测试弹片结构的结构示意图；
[0030]图6为本技术实施例三中图示仪测试弹片结构的结构示意图。
具体实施方式
[0031]下面通过具体实施方式进一步详细说明：
[0032]说明书附图中的标记包括：第一测试片1、第二测试片2、第三测试片3、水平部100、安装通孔101、连接通孔102、竖向部200、测试端210、缺口211、外延部300、封装本体400、第一引脚401、第二引脚402、第三引脚403。
[0033]实施例一
[0034]本实施例基本如图1、图2和图3所示：图示仪测试弹片结构，包括测试弹片本体，测试弹片本体包括若干测试片，相邻两片测试片之间的间距为2.08mm，测试片为具有弹性的导电金属片，例如铜片。测试片呈L型，测试片的厚度为0.5mm，测试片包括水平部100和竖向部200，水平部100的长度为113mm，竖向部200的长度为9.7mm，水平部100上设有安装位，具体地，水平部100开设有安装通孔101，安装通孔101的数量为两个，安装通孔101的孔径为3.2mm，两个安装通孔101的圆心之间的距离为12mm，此外，为了便于安装通孔101的开孔，安装通孔101所在的水平部100具有外延部300，将安装通孔101所在的水平部100的宽度拓宽为6mm本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.图示仪测试弹片结构，包括测试弹片本体，其特征在于：所述测试弹片本体包括若干测试片，每片测试片呈L型，测试片包括水平部和竖向部，水平部上设有安装位，竖向部上设有测试端，每片测试片的测试端齐平。2.根据权利要求1所述的图示仪测试弹片结构，其特征在于：所述测试片的数量为三片，三片测试片分别为第一测试片、第二测试片和第三测试片，第二测试片的测试端的宽度沿远离水平部的方向逐渐减小，第一测试片和第三测试片的测试端均朝向第二测试片倾斜，第一测试片和第三测试片的测试端均具有缺口，且缺口位于靠近第二测试片测试端的一侧，第二测试片的测试端与第一测试片以及第三测试片的缺口所在位置齐平。3.根据权利要求2所述的图示仪测试弹片结构，其特征在于：所述测试片的水平部开设有安装通孔。4.根据权利要求3所述的图示仪测试弹片结构，其特征在于：所述测试片水平部上的安装通孔与测试端之...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈显平，杨旭，李杰，
申请(专利权)人：重庆平创半导体研究院有限责任公司，
类型：新型
国别省市：