一种晶圆级二极管晶片测试机制造技术

本实用新型专利技术公开了一种晶圆级二极管晶片测试机，涉及二极管技术领域，包括测试台，测试台的一端设有放置箱，测试台的中部设有传送带，传送带的一侧设有控制面板，传送带的另一端开设有检测槽，检测槽的内部两侧设有插线板，测试台的一端设有转盘，测试台的顶部两端固定连接有固定杆，固定杆的底部固定连接有安装板，安装板的内部开设有滑槽，滑槽内部滑动连接有伸缩杆，伸缩杆的顶部固定连接有推杆电机。本实用新型专利技术对发光二极管进行自动夹取上下料，提高工作效率，通过传送带上二极管卡块进行循环移动，对二极管进行测试。对二极管进行测试。对二极管进行测试。

【技术实现步骤摘要】
一种晶圆级二极管晶片测试机


[0001]本技术涉及二极管
，尤其涉及一种晶圆级二极管晶片测试机。

技术介绍

[0002]二极管是用半导体材料(硅、硒、锗等)制成的一种电子器件。它具有单向导电性能，即给二极管阳极和阴极加上正向电压时，二极管导通。当给阳极和阴极加上反向电压时，二极管截止。因此，二极管的导通和截止，则相当于开关的接通与断开。
[0003]二极管是最早诞生的半导体器件之一，其应用非常广泛。特别是在各种电子电路中，利用二极管和电阻、电容、电感等元器件进行合理的连接，构成不同功能的电路，可以实现对交流电整流、对调制信号检波、限幅和钳位以及对电源电压的稳压等多种功能，为了使用一般需要进行测试，但是现有测试装置工作效率较低，为此我们提出了一种晶圆级二极管晶片测试机。

技术实现思路

[0004]本技术提出的一种晶圆级二极管晶片测试机，解决了工作效率低下的问题。
[0005]为了实现上述目的，本技术采用了如下技术方案：
[0006]一种晶圆级二极管晶片测试机，包括测试台，所述测试台的一端设有放置箱，所述测试台的中部设有传送带，所述传送带的一侧设有控制面板，所述传送带的另一端开设有检测槽，所述检测槽的内部两侧设有插线板，所述测试台的一端设有转盘，所述测试台的顶部两端固定连接有固定杆，所述固定杆的底部固定连接有安装板，所述安装板的内部开设有滑槽，所述滑槽内部滑动连接有伸缩杆，所述伸缩杆的顶部固定连接有推杆电机；
[0007]优选的，所述伸缩杆的底部转动连接有夹爪，所述夹爪内部通过轴转动连接有夹爪块；
[0008]优选的，所述转盘的顶部开设有放置槽，所述放置槽的内部放置有成品收集箱和次品收集箱，所述转盘内部通过驱动电机进行顶部的转动连接；
[0009]优选的，所述放置槽的内部设有压力传感器，所述压力传感器设于成品收集箱的底部，所述压力传感器的型号为PT124G
‑
210；
[0010]优选的，所述传送带的内部两端转动连接有滚轴，所述滚轴的一端与驱动电机进行转动连接，所述传送带的表面设有二极管卡块，所述二极管卡块的一侧设有槽孔。
[0011]与现有的技术相比，本技术的有益效果是：
[0012]1、通过夹爪内部通过轴转动连接有夹爪块，可以更好的进行活动，方便对二极管进行抓取，提高稳固性能；通过设有成品收集箱和次品收集箱，对二极管检测进行分类放置，方便进行次品的回收；
[0013]2、通过压力传感器到达指定数值时，控制转盘进行转动，对收集箱进行更换；通过传送带的表面设有二极管卡块，进行更好的上料工作，防止二极管掉落，也可以进行更好的出料工作。
附图说明
[0014]图1为本技术提出的一种晶圆级二极管晶片测试机的整体正视结构示意图；
[0015]图2为本技术提出的一种晶圆级二极管晶片测试机的俯视结构示意图；
[0016]图3为本技术提出的一种晶圆级二极管晶片测试机的传送带放大结构示意图；
[0017]图4为本技术提出的一种晶圆级二极管晶片测试机的夹爪放大结构示意图；
[0018]图5为本技术提出的一种晶圆级二极管晶片测试机的成品收集箱放大结构示意图。
[0019]图中：1、测试台；2、传送带；3、检测槽；4、放置箱；5、固定杆；6、安装板；7、伸缩杆；8、成品收集箱；9、转盘；10、次品收集箱；11、控制面板；12、滚轴；13、二极管卡块；14、推杆电机；15、夹爪；16、压力传感器；17、放置槽。
具体实施方式
[0020]下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。
[0021]参照图1
‑
5，本方案提供的一种实施例，一种晶圆级二极管晶片测试机，包括测试台1，测试台1的一端设有放置箱4，测试台1的中部设有传送带2，传送带2的一侧设有控制面板11，传送带2的另一端开设有检测槽3，检测槽3的内部两侧设有插线板，测试台1的一端设有转盘9，测试台1的顶部两端固定连接有固定杆5，固定杆5的底部固定连接有安装板6，安装板6的内部开设有滑槽，滑槽内部滑动连接有伸缩杆7，伸缩杆7的顶部固定连接有推杆电机14；
[0022]本实施例中，伸缩杆7的底部转动连接有夹爪15，夹爪15内部通过轴转动连接有夹爪块，通过夹爪15内部通过轴转动连接有夹爪块，可以更好的进行活动，方便对二极管进行抓取，提高稳固性能；
[0023]本实施例中，转盘9的顶部开设有放置槽17，放置槽17的内部放置有成品收集箱8和次品收集箱10，转盘9内部通过驱动电机进行顶部的转动连接，通过设有成品收集箱8和次品收集箱10，对二极管检测进行分类放置，方便进行次品的回收；
[0024]本实施例中，放置槽17的内部设有压力传感器16，压力传感器16设于成品收集箱8的底部，压力传感器16的型号为PT124G
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210，通过压力传感器16到达指定数值时，控制转盘9进行转动，对收集箱进行更换；
[0025]本实施例中，传送带2的内部两端转动连接有滚轴12，滚轴12的一端与驱动电机进行转动连接，传送带2的表面设有二极管卡块13，二极管卡块13的一侧设有槽孔，通过传送带2的表面设有二极管卡块13，进行更好的上料工作，防止二极管掉落，也可以进行更好的出料工作。
[0026]工作原理，首先，通过夹爪15夹取放置箱4内部二极管，夹爪15内部通过轴转动连接有夹爪块，可以更好的进行活动，方便对二极管进行抓取，提高稳固性能，之后在安装板6内部滑动，将二极管放在传送带2上通过二极管卡块13进行位置限制，之后将二极管滑入检测槽3中，测试后通过夹爪15夹取将其分类放入成品收集箱8和次品收集箱10中，对二极管
检测进行分类放置，方便进行次品的回收，放置槽17的内部设有压力传感器16，到达指定数值时，控制转盘9进行转动，对收集箱进行更换。
[0027]以上所述，仅为本技术较佳的具体实施方式，但本技术的保护范围并不局限于此，任何熟悉本
的技术人员在本技术揭露的技术范围内，根据本技术的技术方案及其技术构思加以等同替换或改变，都应涵盖在本技术的保护范围之内。
本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种晶圆级二极管晶片测试机，包括测试台（1），其特征在于，所述测试台（1）的一端设有放置箱（4），所述测试台（1）的中部设有传送带（2），所述传送带（2）的一侧设有控制面板（11），所述传送带（2）的另一端开设有检测槽（3），所述检测槽（3）的内部两侧设有插线板，所述测试台（1）的一端设有转盘（9），所述测试台（1）的顶部两端固定连接有固定杆（5），所述固定杆（5）的底部固定连接有安装板（6），所述安装板（6）的内部开设有滑槽，所述滑槽内部滑动连接有伸缩杆（7），所述伸缩杆（7）的顶部固定连接有推杆电机（14）。2.根据权利要求1所述的一种晶圆级二极管晶片测试机，其特征在于，所述伸缩杆（7）的底部转动连接有夹爪（15），所述夹爪（15）内部通过轴转动连接有夹爪块。3.根据权利要求1所述的...

【专利技术属性】
技术研发人员：王世江，吴启宝，
申请(专利权)人：马鞍山市世辰半导体科技有限公司，
类型：新型
国别省市：