下载图示仪测试弹片结构的技术资料

文档序号:35238798

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本实用新型属于半导体检测技术领域,具体涉及一种图示仪测试弹片结构,包括测试弹片本体,所述测试弹片本体包括若干测试片,每片测试片呈L型,测试片包括水平部和竖向部,水平部上设有安装位,竖向部上设有测试端,每片测试片的测试端齐平。本实用新型中,测...
该专利属于重庆平创半导体研究院有限责任公司所有,仅供学习研究参考,未经过重庆平创半导体研究院有限责任公司授权不得商用。

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