一种两点之间的阻抗测试系统及方法技术方案

本发明专利技术公开了一种两点之间的阻抗测试系统及方法，包括处理器，以及，与所述处理器通信连接的至少一个通道切换电路、测量电路；其中，所述通道切换电路有可形成的至少一条测量回路，所述通道切换电路包括用于接入待测试点的测量通道、用于校准的校准电阻；所述处理器控制选通测量通道形成测量回路；测量电路通过校准电阻连接测量回路，所述处理器执行所述测量回路上测试点的两点之间的阻抗测试。从而实现通过单片机控制继电器切换不同的电路，适用于任意两点之间的阻抗测试，具有测试速度快，测试效率高，可靠性高，不易遗漏的特点。不易遗漏的特点。不易遗漏的特点。

【技术实现步骤摘要】
一种两点之间的阻抗测试系统及方法


[0001]本专利技术主要涉及对印刷电路板的阻抗测试
，具体地说，涉及一种两点之间的阻抗测试系统及方法。

技术介绍

[0002]现代电子产品，PCBA(印刷电路板)板尺寸越来越小，元器件也越来越小，走线也越来越密，对生产工艺也越来越高，随之带来的问题就是，如果两点之间有杂质，会导致两点之间短路或者阻抗偏低；或者两点之间阻抗本该相同，但由于焊接不良而导致开路或阻抗过高。这些问题会导致整个电子产品工作不正常或者不能工作，严重的质量问题会损坏与之连接的设备，甚至引发短路起火，造成严重的安全事故。目前对两点之间的阻抗测试通常是使用万用表手动测量，人员测量时容易误判，如果有很多点，很容易遗漏，且效率低下。鉴于此，克服该现有PCBA的阻抗测试技术所存在的缺陷是本
亟待解决的问题。

技术实现思路

[0003]有鉴于此，本专利技术的目的在于提供一种两点之间的阻抗测试系统及方法，可解决现有PCBA板多点阻抗测试两点之间的阻抗测试，易误判、易遗漏，且效率低下的问题。
[0004]为实现上述目的，本专利技术提供如下技术方案：一种两点之间的阻抗测试系统，所述系统包括：处理器，以及，与所述处理器通信连接的至少一个通道切换电路、测量电路；其中，所述通道切换电路有可形成的至少一条测量回路，所述通道切换电路包括用于接入待测试点的测量通道、用于校准的校准电阻；所述处理器控制选通测量通道形成测量回路；测量电路通过校准电阻连接测量回路，所述处理器执行所述测量回路上测试点的两点之间的阻抗测试。
[0005]优选地，通道切换电路包括二组8选1继电器开关，分别是第一组8选1继电器开关和第二组8选1继电器开关；所述第一组8选1继电器开关的一端与所述校准电阻连接，另一端连接测试点，所述校准电阻连接所述测量电路，形成第一组回路；所述的第二组8选1继电器开关一端与模拟地连接，另一端连接测试点，形成第二组回路；所述第一组回路与第二组回路共同构成一条测量回路，测量电路在测量通道上对测试点进行阻抗测试，获取测量回路下的测量数据，处理器根据预设规则校准测量数据，选出适用于测试点的最佳反馈电阻值。
[0006]优选地，处理器是单片机。
[0007]优选地，8选1继电器开关是8路模拟开关CD4051。
[0008]一种两点之间的阻抗测试方法，包括单片机、第一组8选1继电器开关、第二组8选1继电器开关、校准电阻、测量电路，单片机控制第一组8选1继电器开关和第二组8选1继电器开关形成测量回路；测量电路通过校准电阻连接测量回路，所述单片机执行所述测量回路上的两点之间的阻抗，获取测量回路下的测量数据，单片机根据预设规则校准测量数据，选出适用于测试点的最佳反馈电阻值。
[0009]优选地，根据预设规则校准测量数据，选出适用于测试点的最佳反馈电阻值具体包括：执行阻抗测量指令，采集此工况下测量到的阻抗实部值和虚部值，计算得到测试点的阻抗模值，使用增益系数对阻抗模值测进行修正，以及使用系统相位对测试点的阻抗相位进行修正，把所有测量数据校准后的数据按照所使用的反馈电阻值的大小进行从小到大排列；
[0010]分别计算每组修正后的测量数据的幅值相对误差随反馈电阻值的变化率和曲线形状相对误差随反馈电阻值的变化率；
[0011]选出幅值相对误差随反馈电阻值的变化率最小的四个电阻值，进行求算术平均值作为最佳反馈电阻值。
[0012]优选地，测量电路的测试执行顺序为：
[0013](1)单片机控制第一组8选1继电器开关的RLU1的触点闭合；
[0014](2)单片机控制第二组8选1继电器开关的RLD1的触点闭合，采样并计算出回路阻抗，得到测试点1和测试点2之间的阻抗；
[0015](3)单片机控制第二组8选1继电器开关的RLD1断开和RLD2的触点闭合，采样并计算出回路阻抗，得到测试点1和测试点3之间的阻抗；
[0016](4)单片机控制第二组8选1继电器开关的RLD2断开和RLD3的触点闭合，采样并计算出回路阻抗，得到测试点1和测试点4之间的阻抗；
[0017](5)单片机控制第二组8选1继电器开关的RLD3断开和RLD4的触点闭合，采样并计算出回路阻抗，得到测试点1和测试点5之间的阻抗；
[0018](6)单片机控制第二组8选1继电器开关的RLD4断开和RLD5的触点闭合，采样并计算出回路阻抗，得到测试点1和测试点6之间的阻抗；
[0019](7)单片机控制第二组8选1继电器开关的RLD5断开和RLD6的触点闭合，采样并计算出回路阻抗，得到测试点1和测试点7之间的阻抗；
[0020](8)单片机控制第二组8选1继电器开关的RLD6断开和RLD7的触点闭合，采样并计算出回路阻抗，得到测试点1和测试点8之间的阻抗；
[0021](9)单片机控制第二组8选1继电器开关的RLD7断开和RLD8的触点闭合，采样并计算出回路阻抗，得到测试点1和测试点9之间的阻抗；
[0022](10)单片机控制第二组8选1继电器开关的RLD8和第一组8选1继电器开关的RLU1断开、RLU2的触点闭合；
[0023](11)单片机控制第二组8选1继电器开关的RLD2的触点闭合，采样并计算出回路阻抗，得到测试点2和测试点3之间的阻抗；
[0024](12)单片机控制第二组8选1继电器开关的RLD2断开和RLD3的触点闭合，采样并计算出回路阻抗，得到测试点2和测试点4之间的阻抗；
[0025](13)单片机控制第二组8选1继电器开关的RLD3断开和RLD4的触点闭合，采样并计算出回路阻抗，得到测试点2和测试点5之间的阻抗；
[0026](14)单片机控制第二组8选1继电器开关的RLD4断开和RLD5的触点闭合，采样并计算出回路阻抗，得到测试点2和测试点6之间的阻抗；
[0027](15)单片机控制第二组8选1继电器开关的RLD3断开和RLD4的触点闭合，采样并计算出回路阻抗，得到测试点2和测试点5之间的阻抗；
[0028](15)单片机控制第二组8选1继电器开关的RLD4断开和RLD5的触点闭合，采样并计算出回路阻抗，得到测试点2和测试点6之间的阻抗；
[0029](16)单片机控制第二组8选1继电器开关的RLD5断开和RLD6的触点闭合，采样并计算出回路阻抗，得到测试点2和测试点7之间的阻抗；
[0030](17)单片机控制第二组8选1继电器开关的RLD6断开和RLD7的触点闭合，采样并计算出回路阻抗，得到测试点2和测试点8之间的阻抗；
[0031](18)单片机控制第二组8选1继电器开关的RLD7断开和RLD8的触点闭合，采样并计算出回路阻抗，得到测试点2和测试点9之间的阻抗；
[0032](19)单片机控制第二组8选1继电器开关的RLD8和第一组8选1继电器开关的RLU2触点断开、RLU3触点闭合；
[0033](20)单片机控制第二组8选1继电器开关的RLD3闭合，采样计算出回本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种两点之间的阻抗测试系统，其特征在于，所述系统包括：处理器，以及，与所述处理器通信连接的至少一个通道切换电路；所述通道切换电路与处理器形成至少一条测量电路，所述通道切换电路包括用于接入待测试点的测量通道以及设于测量电路上并用于校准的校准电阻；所述处理器控制测量通道的选通进而对所形成的测量电路进行切换；所述处理器通过校准电路以及控制测量通道进而对两个测试点之间的阻抗进行测试。2.根据权利要求1所述的两点之间的阻抗测试系统，其特征在于，所述通道切换电路包括两组8选1继电器开关，分别是第一组8选1继电器开关和第二组8选1继电器开关；所述第一组8选1继电器开关的一端与所述校准电阻连接，另一端与测试点连接，进而形成第一组回路；所述的第二组8选1继电器开关一端与模拟地连接，另一端连接测试点，形成第二组回路；所述第一组回路与第二组回路共同构成一条测量电路，测量电路在测量通道上对两个测试点之间的阻抗进行测试，处理器根据预设规则对测量电路所获取的测量数据进行校准，选出适用于两个测试点之间的最佳反馈电阻值。3.根据权利要求1所述的两点之间的阻抗测试系统，其特征在于，所述处理器是单片机。4.根据权利要求2所述的两点之间的阻抗测试系统，其特征在于，所述8选1继电器开关是8路模拟开关CD4051。5.一种两点之间的阻抗测试方法，其特征在于，基于权利要求1
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4任选一项所述的两点之间的阻抗测试系统进行阻抗测试，所述方法包括以下步骤：S1、处理器基于待测试的两个测试点控制测量通道的选通；S2、执行阻抗测量指令，采集此工况下测量到的阻抗实部值和阻抗虚部值，并计算得到对应测试点的阻抗模值，然后使用增益系数对阻抗模值进行修正，以及使用系统相位对对应测试点的阻抗相位进行修正，按照反馈电阻值从小到大的顺序将所有修正后的测量数据进行排序；S3、分别计算每组修正后的测量数据的幅值相对误差随反馈电阻值的变化率和曲线形状相对误差随反馈电阻值的变化率；S4、选出幅值相对误差随反馈电阻值的变化率最小的四个电阻值进行求算术平均值，并将所求出的算术平均值作为最佳反馈电阻值。6.根据权利要求5所述的两点之间的阻抗测试方法，其特征在于，所述待测试的测试点包括九个测试点，分别为测试点1、测试点2、测试点3、测试点4、测试点5、测试点6、测试点7、测试点8和测试点9，每两个测试点的阻抗测试执行顺序为：(1)单片机控制第一组8选1继电器开关的RLU1的触点闭合；(2)单片机控制第二组8选1继电器开关的RLD1的触点闭合，采样并计算出回路阻抗，得到测试点1和测试点2之间的阻抗；(3)单片机控制第二组8选1继电器开关的RLD1断开和RLD2的触点闭合，采样并计算出回路阻抗，得到测试点1和测试点3之间的阻抗；(4)单片机控制第二组8选1继电器开关的RLD2断开和RLD3的触点闭合，采样并计算出回路阻抗，得到测试点1和测试点4之间的阻抗；(5)单片机控制第二组8选1继电器开关的RLD3断开和RLD4的触点闭合，采样并计算出
回路阻抗，得到测试点1和测试点5之间的阻抗；(6)单片机控制第二组8选1继电器开关的RLD4断开和RLD5的触点闭合，采样并计算出回路阻抗，得到测试点1和测试点6之间的阻抗；(7)单片机控制第二组8选1继电器开关的RLD5断开和RLD6的触点闭合，采样并计算出回路阻抗，得到测试点1和测试点7之间的阻抗；(8)单片机控制第二组8选1继电器开关的RLD6断开和RLD7的触点闭合，采样并计算出回路阻抗，得到测试点1和测试点8之间的阻抗；(9)单片机控制第二组8选1继电器开关的RLD7断开和RLD8的触点闭合，采样并计算出回路阻抗，得到测试点1和测试点9之间的阻抗；(10)单片机控制第二组8选1继电器开关的RLD8和第一组8选1继电器开关的RLU1断开、RLU2的触点闭合；(11)单片机控制第二组8选1继电器开关的RLD2的触点闭合，采样并计算出回路阻抗，得到测试点2和测试点3之间的阻抗；(12)单片机控制第二组8选1继电器开关的RLD2断开和RLD3的触点闭合，采样并计算出回路阻抗，得到测试点2和测试点4之间的阻抗；(13)单片机控制第二组8选1继电器开关的RLD3断开和RLD4的触点闭合，采样并计算出回路阻抗，得到测试点2和测试点5之间的阻抗；(14)单片机控制第二组8选1继电器开关的RLD4断开和RLD5的触点闭合，采样并计算出回路阻抗，得到测试点2和测试点6之间的阻抗；(15)单片机控制第二组8选1继电器开关的RLD3断开和RLD4的触点闭合，采样并计算出回路阻抗，得到测试点2和测试点5之间的阻抗；(15)单片机控制第二组8选1继电器开关的RLD4断开和RLD5的触点闭合，采样并计算出回路阻抗，...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈珍辉，
申请(专利权)人：长虹格兰博科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：