一种绝缘测试方法、装置、电子终端及存储介质制造方法及图纸

本发明专利技术实施例公开了一种绝缘测试方法、装置、电子终端及存储介质，该方法包括：获取样本对象的历史测试数据；历史测试数据包括，各历史测试过程的测试时长，以及各测试时长范围内的绝缘电阻值序列；根据历史测试数据构建随机森林模型，以使随机森林模型学习测试时长与绝缘电阻值序列的分布情况的对应关系；通过随机森林模型，预测绝缘电阻值序列满足预设分布情况时的目标时长；根据目标时长，对与样本对象同规格的待测对象进行批量绝缘测试。通过随机森林模型，基于大量历史测试数据可学习测试时长与绝缘值序列的对应关系。进而，可基于模型预测目标时长，期望在较短测试时长内得到较佳测试准确性，以达到测试效率和准确性的均衡。以达到测试效率和准确性的均衡。以达到测试效率和准确性的均衡。

【技术实现步骤摘要】
一种绝缘测试方法、装置、电子终端及存储介质


[0001]本专利技术实施例涉及测试技术，尤其涉及一种绝缘测试方法、装置、电子终端及存储介质。

技术介绍

[0002]现有技术中，常通过绝缘电阻测试仪器对被测产品进行绝缘测试。绝缘测试过程为一个持续测试的过程，即绝缘测试仪需接收测试时长的设置指令，并根据设置指令采集对应时长的数据，以判断被测产品绝缘性好坏。
[0003]现有技术的不足之处至少包括：设置指令对应的时长过长会影响绝缘测试效率，过短会影响绝缘性的判断准确性。因此，如何均衡绝缘测试的效率与准确性成为了亟待解决的技术问题。

技术实现思路

[0004]有鉴于此，本专利技术实施例提供了一种绝缘测试方法、装置、电子终端及存储介质，能够均衡绝缘测试的效率与准确性。
[0005]第一方面，本专利技术实施例提供了一种绝缘测试方法，包括：
[0006]获取样本对象的历史测试数据；所述历史测试数据包括，各历史测试过程的测试时长，以及各所述测试时长范围内的绝缘电阻值序列；
[0007]根据所述历史测试数据构建随机森林模型，以使所述随机森林模型学习所述测试时长与所述绝缘电阻值序列的分布情况的对应关系；
[0008]通过所述随机森林模型，预测所述绝缘电阻值序列满足预设分布情况时的目标时长；
[0009]根据所述目标时长，对与所述样本对象同规格的待测对象进行批量绝缘测试。
[0010]可选的，所述根据所述历史测试数据构建随机森林模型，包括：
[0011]对所述历史测试数据进行有放回抽样，得到预设数量个样本子集；
[0012]确定各所述样本子集的特征子空间，并根据各所述特征子空间构建各所述样本子集的决策树，由各所述决策树组成随机森林模型。
[0013]可选的，所述根据各所述特征子空间构建各所述样本子集的决策树，包括：
[0014]根据各所述样本子集划分后各分支之间的均方误差，循环从各所述特征子空间中选取目标特征；
[0015]根据各所述目标特征对各所述样本子集进行划分，直至各所述特征子空间中的特征皆已选取为止，构建得到各所述样本子集的决策树。
[0016]可选的，所述通过所述随机森林模型，预测所述绝缘电阻值序列满足预设分布情况时的目标时长，包括：
[0017]通过所述随机森林模型中的各决策树，预测所述绝缘电阻值序列满足预设分布情况时的各候选时长；
[0018]根据所述各候选时长确定目标时长。
[0019]可选的，在所述获取样本对象的历史测试数据之后，还包括：
[0020]对所述历史测试数据进行预处理操作；所述预处理操作包括下述至少一项：删除异常数据和填补缺失数据。
[0021]可选的，所述历史测试数据还包括，各所述测试时长范围内的温度序列和湿度序列；
[0022]相应的，在所述根据所述历史测试数据构建随机森林模型之前，还包括：
[0023]根据所述温度序列和所述湿度序列，对所述绝缘电阻值序列设置权重。
[0024]第二方面，本专利技术实施例还提供了一种绝缘测试装置，包括：
[0025]数据获取模块，用于获取样本对象的历史测试数据；所述历史测试数据包括，各历史测试过程的测试时长，以及各所述测试时长范围内的绝缘电阻值序列；
[0026]模型构建模块，用于根据所述历史测试数据构建随机森林模型，以使所述随机森林模型学习所述测试时长与所述绝缘电阻值序列的分布情况的对应关系；
[0027]时长预测模块，用于通过所述随机森林模型，预测所述绝缘电阻值序列满足预设分布情况时的目标时长；
[0028]绝缘测试模块，用于根据所述目标时长，对与所述样本对象同规格的待测对象进行批量绝缘测试。
[0029]第三方面，本专利技术实施例还提供了一种电子终端，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述程序时实现如本申请任意实施例提供的绝缘测试方法。
[0030]第四方面，本专利技术实施例还提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，该程序被处理器执行时实现如本申请任意实施例提供的绝缘测试方法。
[0031]本专利技术实施例提供的一种绝缘测试方法、装置、电子终端及存储介质，该绝缘测试方法包括：获取样本对象的历史测试数据；历史测试数据包括，各历史测试过程的测试时长，以及各测试时长范围内的绝缘电阻值序列；根据历史测试数据构建随机森林模型，以使随机森林模型学习测试时长与绝缘电阻值序列的分布情况的对应关系；通过随机森林模型，预测绝缘电阻值序列满足预设分布情况时的目标时长；根据目标时长，对与样本对象同规格的待测对象进行批量绝缘测试。通过随机森林模型，基于大量历史测试数据可学习测试时长与绝缘值序列的对应关系。进而，可基于模型预测目标时长，期望在较短测试时长内得到较佳测试准确性，以达到测试效率和准确性的均衡。
附图说明
[0032]图1是本专利技术实施例一提供的一种绝缘测试方法的流程示意图；
[0033]图2是本专利技术实施例一提供的一种绝缘测试方法中数据采集存储过程的流程框图；
[0034]图3是本专利技术实施例一提供的一种绝缘测试方法中模型构建过程的流程框图；
[0035]图4是本专利技术实施例二提供的一种绝缘测试方法的流程示意图；
[0036]图5是本专利技术实施例三提供的一种绝缘测试装置的结构示意图；
[0037]图6是本专利技术实施例四提供的一种电子终端的结构示意图。
具体实施方式
[0038]为使本专利技术的目的、技术方案和优点更加清楚，以下将参照本专利技术实施例中的附图，通过实施方式清楚、完整地描述本专利技术的技术方案，显然，所描述的实施例是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。下述各实施例中，每个实施例中同时提供了可选特征和示例，实施例中记载的各个特征可进行组合，形成多个可选方案，不应将每个编号的实施例仅视为一个技术方案。
[0039]可以理解的是，本技术方案所涉及的数据(包括但不限于数据本身、数据的获取或使用)应当遵循相应法律法规及相关规定的要求。
[0040]实施例一
[0041]图1是本专利技术实施例一提供的一种绝缘测试方法的流程示意图。本实施例可适用于绝缘性测试的情况。该方法可以由本专利技术实施例提供的绝缘测试装置来执行，该装置可采用软件和/或硬件的方式实现，且可配置于电子终端中，例如配置于计算机中。
[0042]参见图1，本实施例提供的绝缘测试方法，可以包括：
[0043]S110、获取样本对象的历史测试数据；历史测试数据包括，各历史测试过程的测试时长，以及各测试时长范围内的绝缘电阻值序列。
[0044]在对某规格的待测试对象进行大批量绝缘测试前，可以从预设存储空间(例如预设数据库)中获取同规格的样本对象的历史测试数据。
[0045本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种绝缘测试方法，其特征在于，包括：获取样本对象的历史测试数据；所述历史测试数据包括，各历史测试过程的测试时长，以及各所述测试时长范围内的绝缘电阻值序列；根据所述历史测试数据构建随机森林模型，以使所述随机森林模型学习所述测试时长与所述绝缘电阻值序列的分布情况的对应关系；通过所述随机森林模型，预测所述绝缘电阻值序列满足预设分布情况时的目标时长；根据所述目标时长，对与所述样本对象同规格的待测对象进行批量绝缘测试。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述历史测试数据构建随机森林模型，包括：对所述历史测试数据进行有放回抽样，得到预设数量个样本子集；确定各所述样本子集的特征子空间，并根据各所述特征子空间构建各所述样本子集的决策树，由各所述决策树组成随机森林模型。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述根据各所述特征子空间构建各所述样本子集的决策树，包括：根据各所述样本子集划分后各分支之间的均方误差，循环从各所述特征子空间中选取目标特征；根据各所述目标特征对各所述样本子集进行划分，直至各所述特征子空间中的特征皆已选取为止，构建得到各所述样本子集的决策树。4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述通过所述随机森林模型，预测所述绝缘电阻值序列满足预设分布情况时的目标时长，包括：通过所述随机森林模型中的各决策树，预测所述绝缘电阻值序列满足预设分布情况时的各候选时长；根据所述各候选时长确定目标时长。5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述获取样本对象的历史测试数据之后，还包括：对所述历史测试数据进行预处理操作；所述预处理操作包括下述至少...

【专利技术属性】
技术研发人员：徐磊，舒伟，董汉，陈超，
申请(专利权)人：苏州清研精准汽车科技有限公司，
类型：发明
国别省市：