一种芯片仿真测试方法、装置、可读介质及电子设备制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种芯片仿真测试方法、装置、可读介质及电子设备，包括：预先建立程序库，所述程序库中包括多个测试程序；当仿真平台进入待测试状态，所述仿真平台基于socket通信监听所述请求方的连接请求；当通过所述监听接收到所述请求方的连接请求，且所述请求方满足预设条件，所述仿真平台与所述请求方建立通信连接；所述仿真平台接收所述请求方的测试配置信息；所述仿真平台根据所述测试配置信息，向所述程序库调用相应的测试程序，并根据所述测试程序确定测试向量；所述仿真平台利用所述测试向量执行待测芯片的仿真测试。测试向量执行待测芯片的仿真测试。测试向量执行待测芯片的仿真测试。

【技术实现步骤摘要】
一种芯片仿真测试方法、装置、可读介质及电子设备


[0001]本专利技术涉及集成电路
，尤其涉及一种芯片仿真测试方法、装置、可读介质及电子设备。

技术介绍

[0002]在芯片的设计和制造过程中，需要对芯片进行ASIC(即Application Specific Integrated Circuit，专用集成电路)测试验证。而ASIC测试可在仿真环境下进行，例如在UVM(即Universal Verification Methodology，通用验证方法)仿真平台上进行。遂这一仿真环境下进行的测试验证，也称为芯片的仿真测试。
[0003]在仿真测试中，需要将测试向量编译到仿真平台当中，进而通过运行测试向量完成特定的测试过程。不过测试向量的编写并非一次成型，而是需要进行反复的修改和调试。对于现有的仿真平台，测试向量的任何修改，都必须伴随着仿真平台的重新编译和重启。因此测试向量的编写和调试往往占用了绝大部分的测试周期。
[0004]可见现有技术的缺陷在于，在测试向量的调试过程中，需要对仿真平台进行反复的重新编译和重启，消耗了大量的时间，极大的影响了仿真测试的效率。

技术实现思路

[0005]本专利技术提供一种芯片仿真测试方法、装置、可读介质及电子设备，提高了芯片仿真测试的效率。
[0006]第一方面，本专利技术提供了一种芯片仿真测试方法，包括：
[0007]预先建立程序库，所述程序库中包括多个测试程序；
[0008]当仿真平台进入待测试状态，所述仿真平台基于socket通信监听所述请求方的连接请求；
[0009]当通过所述监听接收到所述请求方的连接请求，且所述请求方满足预设条件，所述仿真平台与所述请求方建立通信连接；
[0010]所述仿真平台接收所述请求方的测试配置信息；
[0011]所述仿真平台根据所述测试配置信息，向所述程序库调用相应的测试程序，并根据所述测试程序确定测试向量；
[0012]所述仿真平台利用所述测试向量执行待测芯片的仿真测试。
[0013]优选的，还包括：
[0014]将配置模块编译至所述仿真平台，并对所述仿真平台进行初始化设置，以使所述仿真平台进入所述待测试状态。
[0015]优选的，所述仿真平台根据所述测试配置信息，向程序库调用相应的测试程序包括：
[0016]所述仿真平台解析所述测试配置信息，以确定所述配置信息中的程序标识；
[0017]所述仿真平台根据所述测试配置信息中的程序标识，向所述程序库调用相应的测
试程序。
[0018]优选的，所述根据所述测试程序确定测试向量包括：
[0019]所述仿真平台确定所述配置信息中的配置参数和执行顺序；
[0020]所述仿真平台利用所述配置参数，对被调用的测试程序进行参数配置；
[0021]所述仿真平台利用所述参数配置后的测试程序和所述执行顺序，确定所述测试向量。
[0022]优选的，还包括：
[0023]确定所述待测芯片的仿真测试的测试结果，并根据所述测试结果调整所述测试配置信息。
[0024]第二方面，本专利技术提供了一种芯片仿真测试装置，包括：
[0025]监听模块，用于在仿真平台进入待测试状态时，所述仿真平台基于socket通信监听所述请求方的连接请求；
[0026]通信模块，用于在通过所述监听接收到所述请求方的连接请求，且所述请求方满足预设条件时，所述仿真平台与所述请求方建立通信连接；
[0027]配置信息接收模块，用于接收所述请求方的测试配置信息；
[0028]程序库模块，用于预先建立程序库，所述程序库中包括多个测试程序；
[0029]测试向量确定模块，用于根据所述测试配置信息，向程序库调用相应的测试程序，并根据所述测试程序确定测试向量；
[0030]测试模块，用于利用所述测试向量执行待测芯片的仿真测试。
[0031]优选的，所述测试向量确定模块包括：
[0032]解析单元，用于解析所述测试配置信息，以确定所述配置信息中的程序标识、配置参数和执行顺序；
[0033]调用单元，用于根据所述测试配置信息中的程序标识，向所述程序库调用相应的测试程序；
[0034]参数配置单元，用于利用所述配置参数，对被调用的测试程序进行参数配置；
[0035]测试向量建立单元，用于利用所述参数配置后的测试程序和所述执行顺序，确定所述测试向量。
[0036]优选的，还包括：
[0037]调整模块，用于确定所述待测芯片的仿真测试的测试结果，并根据所述测试结果调整所述测试配置信息。
[0038]第三方面，本专利技术提供了一种可读介质，包括执行指令，当电子设备的处理器执行所述执行指令时，所述电子设备执行如第一方面中任一所述的方法。
[0039]第四方面，本专利技术提供了一种电子设备，包括处理器以及存储有执行指令的存储器，当所述处理器执行所述存储器存储的所述执行指令时，所述处理器执行如第一方面中任一所述的方法。
[0040]本专利技术提供了一种芯片仿真测试方法、装置、可读介质及电子设备，仿真平台自身编译了配置模块，用于解析测试配置信息；而并未编译具体的测试向量；使得仿真平台能够通过解析测试配置信息和外部调用测试程序建立测试向量；当测试配置信息发生变化时，仿真平台无需进行重新编译和重启，亦可对其进行解析，并建立新的测试向量；由此避免了
反复重新编译和重启，节约了仿真测试的时间，提高了测试效率；同时避免了对于人力资源的大量占用。
[0041]上述的非惯用的优选方式所具有的进一步效果将在下文中结合具体实施方式加以说明。
附图说明
[0042]为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术中记载的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0043]图1为本专利技术一实施例提供的一种芯片仿真测试方法的流程示意图；
[0044]图2为本专利技术一实施例提供的一种芯片仿真测试方法中的结构关系示意图；
[0045]图3为本专利技术一实施例提供的一种芯片仿真测试装置的结构示意图；
[0046]图4为本专利技术一实施例提供的一种电子设备的结构示意图。
具体实施方式
[0047]为使本专利技术的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合具体实施例及相应的附图对本专利技术的技术方案进行清楚、完整地描述。显然，所描述的实施例仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。
[0048]在仿真测试中，测试向量中包括了测试所需的函数、参数、指令以及其执行顺序。也就是说，测试向量代表了测试的整体流程。对于现有的仿真平台来本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种芯片仿真测试方法，其特征在于，包括：预先建立程序库，所述程序库中包括多个测试程序；当仿真平台进入待测试状态，所述仿真平台基于socket通信监听所述请求方的连接请求；当通过所述监听接收到所述请求方的连接请求，且所述请求方满足预设条件，所述仿真平台与所述请求方建立通信连接；所述仿真平台接收所述请求方的测试配置信息；所述仿真平台根据所述测试配置信息，向所述程序库调用相应的测试程序，并根据所述测试程序确定测试向量；所述仿真平台利用所述测试向量执行待测芯片的仿真测试。2.根据权利要求1所述方法，其特征在于，还包括：将配置模块编译至所述仿真平台，并对所述仿真平台进行初始化设置，以使所述仿真平台进入所述待测试状态。3.根据权利要求1所述方法，其特征在于，所述仿真平台根据所述测试配置信息，向程序库调用相应的测试程序包括：所述仿真平台解析所述测试配置信息，以确定所述配置信息中的程序标识；所述仿真平台根据所述测试配置信息中的程序标识，向所述程序库调用相应的测试程序。4.根据权利要求1所述方法，其特征在于，所述根据所述测试程序确定测试向量包括：所述仿真平台确定所述配置信息中的配置参数和执行顺序；所述仿真平台利用所述配置参数，对被调用的测试程序进行参数配置；所述仿真平台利用所述参数配置后的测试程序和所述执行顺序，确定所述测试向量。5.根据权利要求1～4任意一项所述方法，其特征在于，还包括：确定所述待测芯片的仿真测试的测试结果，并根据所述测试结果调整所述测试配置信息。6.一种芯片仿真测试装置，其特征在于，包括：监听模块，用于在仿真平台进入待测试状态时，所述仿真平台基...

【专利技术属性】
技术研发人员：黄钧，
申请(专利权)人：北京紫光芯能科技有限公司，
类型：发明
国别省市：