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北京紫光芯能科技有限公司
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一种芯片仿真测试方法、装置、可读介质及电子设备制造方法及图纸
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文档序号:35196087
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本发明公开了一种芯片仿真测试方法、装置、可读介质及电子设备,包括:预先建立程序库,所述程序库中包括多个测试程序;当仿真平台进入待测试状态,所述仿真平台基于socket通信监听所述请求方的连接请求;当通过所述监听接收到所述请求方的连接请求,且...
该专利属于北京紫光芯能科技有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过北京紫光芯能科技有限公司授权不得商用。
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