【技术实现步骤摘要】
本公开涉及芯片测试的，例如涉及一种用于芯片引脚的测试方法、测试系统。
技术介绍
1、芯片的引脚是指芯片上的金属引脚，它们起着连接芯片与外部电路的作用。每个引脚都有特定的功能和用途，通过引脚，芯片可以与其他电子元件进行通信和交互。
2、为了确保芯片能够正常工作，需要对芯片的引脚进行测试。在相关技术中，需要通过专门的测试装置来测试芯片的引脚的功能，基于测试装置生成引脚的测试结果。配置专门的测试装置会提高芯片引脚测试的经济成本。此外，通过专门的测试装置来测试芯片的引脚的功能，需要芯片与测试装置同步通信，这会增加测试时长，降低测试效率，提高芯片引脚测试的时间成本。可见，相关技术提供的芯片引脚的测试方式的成本较高。
3、需要说明的是，在上述
技术介绍
部分公开的信息仅用于加强对本公开的背景的理解，因此可以包括不构成对本领域普通技术人员已知的现有技术的信息。
技术实现思路
1、为了对披露的实施例的一些方面有基本的理解，下面给出了简单的概括。所述概括不是泛泛评述，也不是要确定关键/重要组成元素或描绘这些实施例的保护范围，而是作为后面的详细说明的序言。
2、本公开实施例提供了一种用于芯片引脚的测试方法、测试系统，可以降低芯片引脚的测试成本。
3、根据本公开的第一方面，提供了一种用于芯片引脚的测试方法，待测试的芯片中待测试的第一引脚与第二引脚能够通过连接模块连接成回路，测试方法包括：
4、在确定第一引脚与第二引脚已通过连接模块连接成回路的情况下
5、将第一引脚作为输入引脚、第二引脚作为输出引脚，通过在回路中传输测试信号来测试第一引脚的输入功能和第二引脚的输出功能。
6、在一些实施例中，通过在回路中传输测试信号来测试第一引脚的输出功能和第二引脚的输入功能，包括：通过第一引脚输出测试信号，以使测试信号通过连接模块传输至第二引脚；检测第二引脚的信号输入结果；根据信号输入结果，确定出第一引脚的输出功能测试结果和第二引脚的输入功能测试结果。
7、在一些实施例中，通过在回路中传输测试信号来测试第一引脚的输入功能和第二引脚的输出功能，包括：通过第二引脚输出测试信号，以使测试信号通过连接模块传输至第一引脚；检测第一引脚的信号输入结果；根据信号输入结果，确定出第一引脚的输入功能测试结果和第二引脚的输出功能测试结果。
8、在一些实施例中，在将第一引脚作为输出引脚、第二引脚作为输入引脚之前，还包括：在芯片当前未测试的引脚中，筛选第一引脚和第二引脚。
9、在一些实施例中，测试方法还包括：控制连接模块将第一引脚和第二引脚连接成回路。
10、在一些实施例中，第一引脚和第二引脚的数量均为一个或多个，每个第一引脚与各个第二引脚分别形成回路。
11、在一些实施例中，在通过在回路中传输测试信号来测试第一引脚的输入功能和第二引脚的输出功能之后，还包括：在芯片当前未测试的引脚中，重新筛选第一引脚和第二引脚，在确定重新筛选的第一引脚与第二引脚已通过连接模块连接成回路的情况下，针对重新筛选的第一引脚与第二引脚执行测试输出功能和输入功能的步骤。
12、在一些实施例中，测试信号包括以下至少一项：通用信号、模拟信号、复用信号、上下拉信号。
13、根据本公开的第二方面，提供了一种用于芯片引脚的测试系统，测试系统包括待测试的芯片和连接模块，芯片的各个待测试的引脚分别与连接模块电连接；连接模块用于将芯片待测试的引脚中的第一引脚与第二引脚连接成回路，芯片被配置为执行本公开第一方面提供的用于芯片引脚的测试方法。
14、在一些实施例中，连接模块是现场可编程门阵列或数字芯片。
15、本公开实施例提供的用于芯片引脚的测试方法、测试系统，可以实现以下技术效果：
16、本公开实施例配置了连接模块，芯片中待测试的第一引脚与第二引脚能够通过连接模块连接成回路，芯片可以基于回路发送和接收测试信号以完成对引脚功能的测试。上述针对芯片引脚的测试过程由芯片本身完成，不需要配置测试装置，降低了芯片引脚测试的经济成本；引脚测试过程避免了需要芯片与测试装置同步通信的步骤，这可以缩短测试时长，提高测试效率，降低芯片引脚测试的时间成本。
17、以上的总体描述和下文中的描述仅是示例性和解释性的，不用于限制本公开。
本文档来自技高网...【技术保护点】
1.一种用于芯片引脚的测试方法，其特征在于，待测试的芯片中待测试的第一引脚与第二引脚能够通过连接模块连接成回路，包括：
2.根据权利要求1所述的测试方法，其特征在于，通过在回路中传输测试信号来测试第一引脚的输出功能和第二引脚的输入功能，包括：
3.根据权利要求1所述的测试方法，其特征在于，通过在回路中传输测试信号来测试第一引脚的输入功能和第二引脚的输出功能，包括：
4.根据权利要求1至3任一项所述的测试方法，其特征在于，在将第一引脚作为输出引脚、第二引脚作为输入引脚之前，还包括：在芯片当前未测试的引脚中，筛选第一引脚和第二引脚。
5.根据权利要求1至3任一项所述的测试方法，其特征在于，测试方法还包括：控制连接模块将第一引脚和第二引脚连接成回路。
6.根据权利要求1至3任一项所述的测试方法，其特征在于，第一引脚和第二引脚的数量均为一个或多个，每个第一引脚与各个第二引脚分别形成回路。
7.根据权利要求1至3任一项所述的测试方法，其特征在于，在通过在回路中传输测试信号来测试第一引脚的输入功能和第二引脚的输出功能之后
8.根据权利要求1至3任一项所述的测试方法，其特征在于，测试信号包括以下至少一项：通用信号、模拟信号、复用信号、上下拉信号。
9.一种用于芯片引脚的测试系统，其特征在于，包括待测试的芯片和连接模块，芯片的各个待测试的引脚分别与连接模块电连接；
10.根据权利要求9所述的测试系统，其特征在于，连接模块是现场可编程门阵列或数字芯片。
...【技术特征摘要】
1.一种用于芯片引脚的测试方法，其特征在于，待测试的芯片中待测试的第一引脚与第二引脚能够通过连接模块连接成回路，包括：
2.根据权利要求1所述的测试方法，其特征在于，通过在回路中传输测试信号来测试第一引脚的输出功能和第二引脚的输入功能，包括：
3.根据权利要求1所述的测试方法，其特征在于，通过在回路中传输测试信号来测试第一引脚的输入功能和第二引脚的输出功能，包括：
4.根据权利要求1至3任一项所述的测试方法，其特征在于，在将第一引脚作为输出引脚、第二引脚作为输入引脚之前，还包括：在芯片当前未测试的引脚中，筛选第一引脚和第二引脚。
5.根据权利要求1至3任一项所述的测试方法，其特征在于，测试方法还包括：控制连接模块将第一引脚和第二引...
【专利技术属性】
技术研发人员：徐冠宇，李洋，黄钧，
申请(专利权)人：北京紫光芯能科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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