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本公开涉及芯片测试的技术领域，公开了一种用于芯片引脚的测试方法、测试系统，待测试的芯片中待测试的第一引脚与第二引脚能够通过连接模块连接成回路，测试方法包括：在确定第一引脚与第二引脚已通过连接模块连接成回路的情况下，将第一引脚作为输出引脚、第...
该专利属于北京紫光芯能科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过北京紫光芯能科技有限公司授权不得商用。

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