【技术实现步骤摘要】
探测装置干扰测试方法及设备
[0001]本申请涉及雷达
，特别涉及一种探测装置干扰测试方法及设备。
技术介绍
[0002]探测装置是汽车实现高级驾驶辅助系统(Advanced Driving Assistance System)功能的最主要器件之一，随着无人驾驶技术的迅速发展，汽车安全成为汽车行业考虑的首要问题，而在实际使用场景中，智能驾驶车辆上的探测装置，或者称为传感器，会受到多种干扰，如毫米波雷达，激光雷达等在遇到相同或邻近频段的射频信号时会受到干扰，产生虚景、漏检等对ADAS功能不利的风险，因此，探测装置的干扰性能检测成为考察车辆性能的重要指标之一。
[0003]目前，对探测装置干扰的测试方法之一就是搭建测试平台，以对传感器在运行中受到的干扰进行模拟，从而反映传感器的干扰。如现有的一种雷达干扰性能测试方法，以传送带模拟车道，将被测物、干扰雷达和待测雷达放置在传送带上，通过传送带模拟雷达的运行状态，记录在干扰雷达开启前以及开启后待测雷达对被测物的检测信息，然后分析待测雷达的受干扰程度。
技术实现思路
[0004]本申请提供一种探测装置干扰测试方法及设备，解决了现有的测试方法未能对探测装置的干扰进行量化的分析的问题。
[0005]本申请的第一方面提供一种探测装置干扰测试方法，所述方法包括：
[0006]在第一装置处于第一状态、第二装置处于第二状态、第三装置处于第三状态的情况下；
[0007]在所述第一装置和所述第二装置处于开启的条件下，获取第一值，其中，所述第一...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种探测装置干扰测试方法，其特征在于，所述方法包括：在第一装置处于第一状态、第二装置处于第二状态、第三装置处于第三状态的情况下，在所述第一装置和所述第二装置处于开启的条件下，获取第一值，其中，所述第一值为根据所述第一装置测量所述第三装置的第一测量结果得到；在所述第二装置处于关闭的条件下，获取第二值，其中，所述第二值为根据所述第一装置测量所述第三装置的第二测量结果得到；处理所述第一值和所述第二值，得到测试结果。2.根据权利要求1所述的探测装置干扰测试方法，其特征在于，在所述第一状态下，所述第一装置可移动；在所述第二状态下，所述第二装置可移动。3.根据权利要求1所述的探测装置干扰测试方法，其特征在于，在所述第一状态下，所述第一装置可移动；在所述第二状态下，所述第二装置固定。4.根据权利要求1所述的探测装置干扰测试方法，其特征在于，在所述第一状态下，所述第一装置固定，在所述第二状态下，所述第二装置可移动。5.根据权利要求1
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4任一所述的探测装置干扰测试方法，其特征在于，所述第一装置和所述第二装置均具有抗干扰功能，在所述第一状态下，所述第一装置的抗干扰功能关闭，在所述第二状态下，所述第二装置的抗干扰功能关闭。6.根据权利要求5所述的探测装置干扰测试方法，其特征在于，所述方法还包括：在所述第一装置、所述第二装置和/或所述第三装置分别处于不同状态的情况下，得到不同状态对应的测试结果；存储所述测试结果对应的第一装置的状态、第二装置的状态和第三装置的状态。7.根据权利要求1
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4任一所述的探测装置干扰测试方法，其特征在于，所述第一装置和所述第二装置均具有探测功能；或者，所述第一装置具有探测功能，所述第二装置为干扰源。8.根据权利要求2所述的探测装置干扰测试方法，其特征在于，所述第一状态下至少对应有所述第一装置的高度、时变速度和/或时变轨迹；所述第二状态下至少对应有所述第二装置的高度、时变速度和/或时变轨迹；所述第三状态中至少对应有所述第三装置的高度、时变速度和/或时变轨迹。9.根据权利要求3所述的探测装置干扰测试方法，其特征在于，所述第一状态下至少对应有所述第一装置的高度、时变速度和/或时变轨迹，所述第三状态中至少对应有所述第三装置的高度、时变速度和/或时变轨迹。10.根据权利要求4所述的探测装置干扰测试方法，其特征在于，所述第二状态下至少对应有所述第二装置的高度、时变速度和/或时变轨迹，所述第三状态中至少对应有所述第三装置的高度、时变速度和/或时变轨迹。11.根据权利要求1
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10任一所述的探测装置干扰测试方法，其特征在于，所述第一状态下对应有所述第一装置的轨迹区域；所述第一测量结果和所述第二测量结果均与下述的一种或多种有关：所述轨迹区域内的虚景点数量、所述轨迹区域外的虚景点数量、所述轨迹区域内的漏检次数、所述轨迹区域外的漏检次数、所述轨迹区域内的目标切换次数、所述轨迹区域外的目标切换次数、所述轨迹区域内的目标偏移次数、所述轨迹区域外的目标偏移次数、所述轨
迹区域内的目标识别分裂次数、所述轨迹区域外的目标识别分裂次数。12.根据权利要求1
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11任一所述的探测装置干扰测试方法，其特征在于，所述获取第一值包括：根据所述第一测量结果以及所述第一测量结果对应的权重值加权获得所述第一值；所述获取第二值包括：根据所述第二测量结果以及所述第二测量结果对应的权重值加权获得所述第二值。13.一种探测装置干扰测试设备，其特征在于，包括获取单元和处理单元，所述获取单元用于：在第一装置处于第一状态、第二装置处于第二状态、第三装置处于第三状态的情况下；在所述第一装置和所述第二装置处于开启的条件下，获取第一值，其中，所述第一值为根据所述第一装置测量所述第三装置的第一测量结果得到；在所述第二装置处于关闭的条件下，获取第二值，其中，所述第二值为根据所述第一装置测量所述第三装置的第二测量结果得到；所述处理单元用于：处理所述第一值和所述第二值，得到测试结果。14.一种探测装置干扰测试设备，其特征在于，包括暗室、至少一个上部横梁和至少一个下部横梁，所述上部横梁和所述下部横梁位于所述暗室内，所述暗室内侧壁上覆盖有第一屏蔽层；所述上部横梁和所述下部横梁的两端横跨设置在所述暗室相对的两侧壁上，且所述下部横梁和所述上部横梁可分别沿着所述侧壁滑动，所述上部横梁和所述下部横梁平行，所述上部横梁位于所述下部横梁的上方；所述下部横梁朝向所述上部横梁的一侧上设置下部转台，所述下部转台沿着所述下部横梁滑动，所述上部横梁朝向所述下部横梁的一侧上设置上部转台，所述上部转台沿着所述上部横梁滑动，所述下部转台用于设置第一装置、第二装置和/或第三装置，所述上部转台用于设置第一装置、第二装置和/或第三装置。15.根据权利要求14所述的探测装置干扰测试设备，其特征在于，还包括可折叠或展开的屏风组件，当所述屏风组件处于折叠状态时，所述屏风组件将所述暗室分隔成第一子暗室和第二子暗室；当所述屏风组件处于展开状态时，所述屏风组件铺设在所述上部横梁的上方，和/或，所述屏风组件铺设在所述下部横梁的下方。16.根据权利要求15所述的探测装置干扰测试设备，其特征在于，所述上部横梁至少包括相互平行的第一横梁和第二横梁，所述下部横梁至少包括相互平行的第三横梁和第四横梁；当所述屏风组件处于折叠状态时，所述屏风组件与所述上部横梁平行，所述屏风组件的一侧位于所述第一横梁和所述第二横梁之间，所述屏风组件的另一侧位于所述第三横梁和所述第四横梁之间。17.根据权利要求16所述的探测装置干扰测试设备，其特征在于，所述屏风组件包括上部支撑梁和下部支撑梁，所述下部支撑梁和所述上部支撑梁的两端横跨设置在所述暗室相对的两侧壁上；所述上部支撑梁和所述下部支撑梁分别与所述上部横梁平行，所述上部支撑梁位于所
述下部支撑梁的上方，所述上部支撑梁位于所述第一横梁和所述第二横梁之间，所述下部支撑梁位于所述第三横梁和所述第四横梁之间；所述上部支撑梁的延伸方向上设置有上部格栅，所述上部格栅与所述上部支撑梁铰接连接，所述下部支撑梁的延伸方向上设置有下部格栅，所述下部格栅与所述下部支撑梁铰接连接；当所述上部格栅转动至与所述上部支撑梁垂直，所述下部格栅转动至与所述下部支撑梁垂直时，所述屏风组件处于折叠状态，所述上部格栅和所述下部格栅抵接；当所述上部格栅转动至与所述上部支撑梁平行，所述下部格栅转动至与所述下部支撑梁平行时，所述屏风组件处于展开状态，所述上部格栅铺设在所述上部横梁上方，所述下部格栅铺设在所述下部横梁下方。18.根据权利要求17所述的探测装置干扰测试设备，其特征在于，所述屏风组件还包括下部转接格栅，所述下部转接格栅与所述下部格栅背离所述下部支撑梁的一侧铰接连接；当所述屏风组件处于折叠状态时，所述下部转接格栅与所述下部支撑梁垂直；当所述屏风组件处于展开状态时，所述下部转接格栅与所述下部支撑梁平行。19.根据权利要求18所述的探测装置干扰测试设备，其特征在于，所述上部支撑梁的两侧上分别铰接设置有第一上部格栅和第二上部格栅，所述第一上部格栅和所述第二上部格栅形成所述上部格栅；所述下部支撑梁的两侧上分别铰接设置有第一下部格栅和第二下部格栅，所述第一下部格栅和所述第二下部格栅形成所述下部格栅。20.根据权利要求19所述的探测装置干扰测试设备，其特征在于，所述下部转接格栅包括两个，分别为第一下部转接格栅和第二下部转接格栅，所述第一下部转接格栅与所述第一下部格栅铰接连接，所述第二下部转接格栅与所述第二下部格栅铰接连接。21.根据权利要求20所述的探测装置干扰测试设备，其特征在于，所述上部支撑梁的延伸方向上铰接设置有第一上格栅和第二上格栅，所述第一上格栅和所述第二上格栅并列设置形成所述第一上部格栅；所述上部支撑梁的延伸方向上铰接设置有第三上格栅和第四上格栅，所述第三上格栅和所述第四上格栅并列设置形成所述第二上部格栅，所述第一上格栅与所述第三上格栅相对，所述第二上格栅和所述第四上格栅相对；所述下部支撑梁的延伸方向上铰接设置有第一下格...
【专利技术属性】
技术研发人员：侯强，张志伟，潘卫，薛甬申，
申请(专利权)人：华为技术有限公司，
类型：发明
国别省市：
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