本申请涉及一种碳化硅开关器件测试装置，其包括连接铜排与压杆；连接铜排的一端与测试电容的端子电连接，连接铜排的另一端固定连接于压杆的中间部位，连接铜排的一端为压接端以压接并电连接碳化硅开关器件的端子；连接铜排所在平面与压杆所在直线之间的夹角在设定角度范围内，连接铜排距离碳化硅开关器件的端子的距离值在预设距离范围内，本申请具有使得测试回路中的杂感达到最低且满足碳化硅开关器件的测试要求的效果。件的测试要求的效果。件的测试要求的效果。
【技术实现步骤摘要】
一种碳化硅开关器件测试装置
[0001]本申请涉及碳化硅开关器件测试的领域，尤其是涉及一种碳化硅开关器件测试装置。
技术介绍
[0002]碳化硅开关器件为宽禁带技术，相比于经典的硅开关器件，碳化硅开关器件具有低通态电阻和高热导率的特点，这些特点有助于提高最终应用电路的能效和工作温度。因此碳化硅开关器件的开发技术开始逐渐得到发展，在设计碳化硅开关器件的过程中，需要对设计产品进行测试，因而会使用到专门针对碳化硅开关器件的测试平台。
[0003]对于碳化硅开关器件测试平台，测试平台的主回路杂感是衡量测试平台性能的重要指标。碳化硅开关器件的开关特性中电流的上升速度和下降速度均很快，这就要求测试平台的主回路杂感足够小，才能保证碳化硅开关器件在测试的时候可以全量程被准确的测试。随着测试效率要求的日益增加，测试厂商需要更为自动化的测试平台，因此在原有人工操作的测试平台的基础上增加了安放碳化硅开关器件的自动化机械结构。主回路中串联了额外的自动化机械结构，增加了主回路杂感，使得自动化测试平台的测试性能直线下降。
[0004]目前增加了自动化结构的测试平台主回路杂感一般为40nH，远低于碳化硅开关器件测试条件的要求，因此需要一种主回路杂感符合碳化硅开关器件测试要求的自动化测试平台。
技术实现思路
[0005]为了在符合碳化硅开关器件测试要求的情况下自动测试碳化硅开关器件，本申请提供一种碳化硅开关器件测试装置。
[0006]本申请提供的一种碳化硅开关器件测试装置采用如下的技术方案：一种碳化硅开关器件测试装置，包括连接铜排与压杆；所述连接铜排的一端与测试电容的端子电连接，所述连接铜排的另一端固定连接于所述压杆的中间部位，所述连接铜排的一端为压接端以压接并电连接所述碳化硅开关器件的端子；所述连接铜排所在平面与所述压杆所在直线之间的夹角在设定角度范围内，所述连接铜排距离所述碳化硅开关器件的端子的距离值在预设距离范围内。
[0007]通过采用上述技术方案，连接铜排连接在压杆的中间部位，在此基础上，连接铜排与压杆之间的姿态与位置会影响测试回路中的杂感，通过调节连接铜排与压杆之间的姿态关系至设定角度范围以及调节连接铜排与压杆之间的位置关系至预设距离范围，使得测试回路中的杂感达到最低，从而满足碳化硅开关器件的测试要求。
[0008]作为优选，所述连接铜排与所述压杆固定连接的部位包围所述压杆。
[0009]通过采用上述技术方案，连接铜排包围压杆，能够让聚集在连接铜排与压杆之间连接部位的电荷得到分散，利于降低杂感。
[0010]作为优选，所述压接端设有用于压紧碳化硅开关器件的端子的压紧尖端。
[0011]通过采用上述技术方案，压紧尖端可对碳化硅开关器件的端子施加更高的压强，压接效果更好。
[0012]作为优选，所述压杆设有多个，且连接于同一个所述连接铜排，并相互并联电连接。
[0013]通过采用上述技术方案，多个压杆并联后能将碳化硅开关器件的端子压接得更紧密，还能降低装置中设置压杆额外带来的杂感。
[0014]作为优选，多个所述压杆相互平行设置。
[0015]通过采用上述技术方案，压杆相互平行设置能够在压杆长度相同的情况下对碳化硅开关器件的端子施加均匀的压力，同时让压杆端与碳化硅开关器件的端子接触的结构保持一致，从而让多个压杆上的杂感分布更为均匀，有利于提高压杆并联降低杂感的效果。
[0016]作为优选，所述压杆上插接配合有第一绝缘压板，所述第一绝缘压板上开设有第一过孔，所述压杆过盈连接在所述第一过孔内，所述第一绝缘压板在所述压杆上位于所述连接铜排与所述压接端之间的部位，所述连接铜排压接在所述第一绝缘压板上。
[0017]通过采用上述技术方案，第一绝缘压板可以在固定压杆与连接铜排之间的相对位置，第一绝缘压板采用金属板还能缓解压杆与连接铜排上的尖端电荷聚集程度，利于降低杂感。
[0018]作为优选，所述第一绝缘压板上设有容纳所述连接铜排的第一容纳槽。
[0019]通过采用上述技术方案，第一容纳槽容纳连接铜排后能够包围连接铜排的至少两个侧面，能固定连接铜排与压杆之间的相对姿态，利于连接铜排与压杆之间的固定连接。
[0020]作为优选，所述第一绝缘压板配合有第二绝缘压板，所述第二绝缘压板上开设有第二过孔，所述压杆远离所述压接端的一端插接在所述第二过孔内，所述第二绝缘压板与所述第一绝缘压板将所述连接铜排夹在中间或夹紧。
[0021]通过采用上述技术方案，第一绝缘压板与第二绝缘压板配合后可以在压杆上夹紧连接铜排，同时还能包围连接铜排，利于固定连接铜排在压杆上的位置。
[0022]作为优选，所述第二绝缘压板上设有容纳所述连接铜排的第二容纳槽。
[0023]通过采用上述技术方案，第二容纳槽容纳连接铜排后能够包围连接铜排的至少两个侧面，利于固定连接铜排与压杆之间的相对姿态。
[0024]作为优选，所述连接铜排设有多个，所述第一容纳槽与所述第二容纳槽错位设置。
[0025]通过采用上述技术方案，多个连接铜排可以连接测试电容不同的端子，还能让一套装置测试多个碳化硅开关器件。
[0026]综上所述，本申请至少包括以下有益技术效果：使用符合设定姿态关系与预设位置关系的连接铜排与压杆，降低测试回路的杂感，以符合碳化硅开关器件的测试要求。利用带有第一容纳槽的第一绝缘压板与带有第二容纳槽的第二绝缘压板，在利于连接铜排与压杆之间的姿态与位置成型的同时，利于降低测试回路中的杂感，从而使碳化硅开关器件的测试结果更精准。
附图说明
[0027]图1是碳化硅开关器件测试装置的整体结构示意图；
图2是展示连接铜排、压杆以及第一绝缘压板的放大结构示意图；图3是图1中的A部放大结构示意图。
[0028]附图标记：10、测试电容；11、第一电极；12、第二电极；20、自动化夹具；30、连接铜排；40、压杆；41、压接端；50、第一绝缘压板；51、第一过孔；52、第一容纳槽；60、第二绝缘压板；61、第二过孔；62、第二容纳槽。
具体实施方式
[0029]以下结合附图1
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3对本申请作进一步详细说明。
[0030]现有技术中，碳化硅开关器件的测试回路包括测试电容10、自动化夹具20以及待测试的碳化硅开关器件，自动化夹具20包括第一部分与第二部分，测试电容10、自动化夹具20以及待测试的碳化硅开关器件。传统手动的测试回路由测试电容10、待测试的碳化硅开关器件组成，现有自动的测试回路由测试电容10、第一部分、待测试的碳化硅开关器件以及第二部分构成，相比于传动手动的测试回路，第一部分与第二部分给测试回路带来了更多的杂感。
[0031]本申请实施例公开一种碳化硅开关器件测试装置，能够降低自动化夹具20给测试回路带来的更多的杂感。参照图1与图2，一种碳化硅开关器件测试装置包括连接铜排30、多个压杆40、第一绝缘压板50与第二绝缘压板60。测试电容10有两个片状且错位设置本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种碳化硅开关器件测试装置，其特征在于：包括连接铜排（30）与压杆（40）；所述连接铜排（30）的一端与测试电容（10）的端子电连接，所述连接铜排（30）的另一端固定连接于所述压杆（40）的中间部位，所述连接铜排（30）的一端为压接端（41）以压接并电连接所述碳化硅开关器件的端子；所述连接铜排（30）所在平面与所述压杆（40）所在直线之间的夹角在设定角度范围内，所述连接铜排（30）距离所述碳化硅开关器件的端子的距离值在预设距离范围内。2.根据权利要求1所述的一种碳化硅开关器件测试装置，其特征在于：所述连接铜排（30）与所述压杆（40）固定连接的部位包围所述压杆（40）。3.根据权利要求1所述的一种碳化硅开关器件测试装置，其特征在于：所述压接端（41）设有用于压紧碳化硅开关器件的端子的压紧尖端。4.根据权利要求1所述的一种碳化硅开关器件测试装置，其特征在于：所述压杆（40）设有多个，且连接于同一个所述连接铜排（30），并相互并联电连接。5.根据权利要求4所述的一种碳化硅开关器件测试装置，其特征在于：多个所述压杆（40）相互平行设置。6.根据权利要求1所述的一种碳化硅开关器件测试装置，其特征在于：所述压杆（40）上插接配合有第一...
【专利技术属性】
技术研发人员：陈俊，陆熙，
申请(专利权)人：忱芯电子苏州有限公司，
类型：发明
国别省市：
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