一种元器件字符缺陷的智能识别方法及装置制造方法及图纸

本申请提供了一种元器件字符缺陷的智能识别方法及装置，包括：采用测距模组获取元器件上字符的实际刻印深度和刻印轮廓；将字符的实际刻印深度与标准刻印深度进行比较，若元器件上任一字符的二者的差值大于第一阈值，则将该元器件识别为第一类瑕疵件；若元器件上字符的二者的差值均不超过第一阈值，则基于刻印轮廓生成刻印轮廓图片，并计算刻印轮廓图片与标准轮廓图片的相似度，若相似度不小于第二阈值，则将元器件识别为无瑕疵件；若相似度小于第二阈值，则将元器件识别为第二类瑕疵件并将第二类瑕疵件的刻印轮廓图片输入字符缺陷识别模型进行表面字符缺陷种类的识别。本申请可以提高元器件字符缺陷检测的效率。以提高元器件字符缺陷检测的效率。以提高元器件字符缺陷检测的效率。

【技术实现步骤摘要】
一种元器件字符缺陷的智能识别方法及装置


[0001]本申请涉及计算机
，更具体地，涉及一种元器件字符缺陷的智能识别方法及装置。

技术介绍

[0002]元器件上镭雕的字符由于镭雕质量不一，容易出现刻印深度不达标或偏移、多印、漏印等缺陷。现有技术中，工业产线上对镭雕后字符的缺陷检测，多采用传统OCR识别方法。而传统OCR识别由于需要同时对字符的多类缺陷进行检测，其存在计算量大、检测效率低的问题，难以满足产线的高检测速度的要求。

技术实现思路

[0003]有鉴于此，有必要提供一种元器件字符缺陷的智能识别方法及装置，以解决现有的元器件字符缺陷识别效率低的问题。
[0004]根据本申请的第一方面，提供了一种元器件字符缺陷的智能识别方法，所述方法包括：采用测距模组获取元器件上字符的实际刻印深度和刻印轮廓；将字符的实际刻印深度与标准刻印深度进行比较，若元器件上任一字符的实际刻印深度与标准刻印深度的差值大于第一阈值，则将所述元器件识别为第一类瑕疵件；若元器件上字符的实际刻印深度与标准刻印深度的差值均不超过第一阈值，则基于获取到的元本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种元器件字符缺陷的智能识别方法，其特征在于，所述方法包括：采用测距模组获取元器件上字符的实际刻印深度和刻印轮廓；将字符的实际刻印深度与标准刻印深度进行比较，若元器件上任一字符的实际刻印深度与标准刻印深度的差值大于第一阈值，则将所述元器件识别为第一类瑕疵件；若元器件上字符的实际刻印深度与标准刻印深度的差值均不超过第一阈值，则基于获取到的元器件上字符的刻印轮廓生成刻印轮廓图片，并计算所述刻印轮廓图片与标准轮廓图片的相似度，若所述相似度不小于第二阈值，则将所述元器件识别为无瑕疵件；若所述相似度小于第二阈值，则将所述元器件识别为第二类瑕疵件；将所述第二类瑕疵件的刻印轮廓图片输入字符缺陷识别模型进行表面字符缺陷种类的识别。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述采用测距模组获取元器件上字符的实际刻印深度和刻印轮廓，包括：采用激光测距模组中的阵列探头获取元器件上每一字符的实际刻印深度和刻印轮廓。3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在字符的实际刻印深度与标准刻印深度的差值大于第一阈值时，若字符的实际刻印深度大于标准刻印深度，则按照字符的实际刻印深度与标准刻印深度的偏差大小，将所述第一类瑕疵件分为刻印很深、刻印深和刻印较深三个级别；若字符的实际刻印深度小于标准刻印深度，则按照字符的实际刻印深度与标准刻印深度的偏差大小，将所述第一类瑕疵件分为刻印很浅、刻印浅和刻印较浅三个级别。4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述计算所述刻印轮廓图片与标准轮廓图片的相似度，包括：对所述刻印轮廓图片与标准轮廓图片进行二值化处理，生成分别对应于刻印轮廓图片的第一矩阵和对应于标准轮廓图片的第二矩阵；对第一矩阵和第二矩阵向量化，生成分别对应于刻印轮廓图片的第一向量和对应于标准轮廓图片的第二向量；计算所述第一向量和第二向量的欧式距离，并以计算得到的所述欧式距离作为所述刻印轮廓图片与标准轮廓图片的相似度。5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述对所述刻印轮廓图片与标准轮廓图片...

【专利技术属性】
技术研发人员：韩旭，颜聪，
申请(专利权)人：东声苏州智能科技有限公司，
类型：发明
国别省市：