高速光检测装置制造方法及图纸

本申请涉及高速光检测装置。公开了一种电路，包含：一光检测器，包含一第一读出端子及一第二读出端子，该第二读出端子不同于该第一读出端子；一第一读出电路，耦接于该第一读出端子，并被配置用于输出一第一读出电压；一第二读出电路，耦接于该第二读出端子，并被配置用于输出一第二读出电压；以及一共模模拟数字转换器，包含：一第一输入端子，耦接于一第一电压源；一第二输入端子，耦接于一共模产生器，该共模产生器被配置用于接收该第一读出电压及该第二读出电压并产生一共模电压，该共模电压介于该第一读出电压及该第二读出电压之间；以及一第一输出端子，被配置用于输出对应于该光检测器产生的一电流量的一第一输出信号。测器产生的一电流量的一第一输出信号。测器产生的一电流量的一第一输出信号。

【技术实现步骤摘要】
高速光检测装置
[0001]本申请是国家申请号为201880035981.X(国际申请号为PCT/US2018/025949，国际申请日为2018年4月3日，专利技术名称为“高速光检测装置”)之申请的分案申请。
[0002]相关申请的交叉引用
[0003]本申请是2018年2月28提交的美国专利申请15/908,447的部分继续并要求其权益，该美国专利申请要求于2017年2月28提交的美国临时申请62/465,139、于2017年3月31日提交的美国临时专利申请62/479,322、于2017年5月10日提交的美国临时专利申请62/504,531、于2017年4月13日提交的美国临时专利申请62/485,003、于2017年5月27日提交的美国临时专利申请62/511,977、于2017年7月18日提交的美国临时专利申请62/534,179、于2017年9月21日提交的美国临时专利申请62/561,266、于2018年1月3日提交的美国临时专利申请62/613,054、于2018年1月15日提交的美国临时专利申请62/617,317的优先权；并且是于2016年1本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种电路，包含：一光检测器，包含一第一读出端子及一第二读出端子，该第二读出端子不同于该第一读出端子；一第一读出电路，耦接于该第一读出端子，并被配置用于输出一第一读出电压；一第二读出电路，耦接于该第二读出端子，并被配置用于输出一第二读出电压；以及一共模模拟数字转换器，包含：一第一输入端子，耦接于一第一电压源；一第二输入端子，耦接于一共模产生器，该共模产生器被配置用于接收该第一读出电压及该第二读出电压并产生一共模电压，该共模电压介于该第一读出电压及该第二读出电压之间；以及一第一输出端子，被配置用于输出对应于该光检测器产生的一电流量的一第一输出信号。2.如权利要求1所述的电路，还包含一差模模拟数字转换器，该差模模拟数字转换器包含：一第三输入端子，耦接于该第一读出电路，并被配置用于接收该第一读出电压；一第四输入端子，耦接于该第二读出电路，并被配置用于接收该第二读出电压；以及一第二输出端子，被配置用于输出对应于该光检测器产生的一时差测距信息的一第二输出信号，其中，该电路被操作以同步产生该第一输出信号及该第二输出信号。3.如权利要求1所述的电路，其中该第一读出电路包含：一第一电容器，耦接于该第一读出端子；以及一第一源极随耦器电路，耦接于该第一电容器，并被配置用于产生该第一读出电压；以及其中该第二读出电路包含：一第二电容器，耦接于该第二读出端子；以及一第二源极随耦器电路，耦接于该第二电容器，并被配置用于产生该第二读出电压。4.如权利要求1所述的电路，其中该第一读出电路包含：一第一MOSFET晶体管，包含：一第一栅极端子，耦接于一第一控制电压源；一第一沟道端子；以及一第二沟道端子，耦接于该光检测器的该第一读出端子；一第二MOSFET晶体管，包含：一第二栅极端子，耦接于一第二控制电压源；一第三沟道端子，耦接于一供应电压节点；以及一第四沟道端子，耦接于该第一沟道端子；一第一电容器，耦接于该第一MOSFET晶体管的该第一沟道端子；以及一第一源极随耦器电路，耦接于该第一电容器，并被配置用于产生该第一读出电压，以及其中该第二读出电路包含：
一第...

【专利技术属性】
技术研发人员：那允中，梁哲夫，陈书履，郑斯璘，刘汉鼎，陈建龙，吕元復，林杰霆，陈柏均，陈慧文，朱书纬，林崇致，朱冠祯，
申请(专利权)人：奥特逻科公司，
类型：发明
国别省市：