光学检测装置制造方法及图纸

一种光学检测装置包括基板、光源、光感测器以及导光结构。基板具有上表面。光源设置于上表面，且光源用于朝向上方的待测物发射检测光线。光感测器设置于上表面。导光结构设置于上表面且至少部分位于光源上方，导光结构具有中心轴线垂直于上表面，光源及光感测器分别设置于中心轴线的相对两侧，其中导光结构用以偏折检测光线从中心轴线的光源的一侧到光感测器的一侧，使得检测光线被待测物反射后朝向光感测器。借此，光学检测装置具有良好的光集中效果，除了提升检测精度，还可以进一步缩短检测光线的光学路径，进而让光学检测装置具有小型化及薄型化的功能。型化及薄型化的功能。型化及薄型化的功能。

【技术实现步骤摘要】
光学检测装置


[0001]本专利技术涉及一种检测装置，特别是一种光学检测装置。

技术介绍

[0002]随着科技的进步，医疗检测技术也从侵入式(invasive)检测进步到非侵入式(non
‑
invasive)检测。
[0003]在进行检测的过程中，某些检测装置是利用光学原理检测人体，所以光学检测装置的便利性便成为使用者购买产品的考虑重点之一。若光学检测装置太大，则不利使用者携带或配戴。此外，厂商也希望带给使用者有别以往的使用经验，脱离现有光学检测装置的结构窠臼，进而吸引消费者的购买欲望。
[0004]因此，如何提供一种光学检测装置，能够小型化并提供创新概念，进而提升使用便利性及产品竞争力，已成为重要课题之一。

技术实现思路

[0005]有鉴于此，本专利技术的一目的在于提出一种可解决上述问题的光学检测装置。光学检测装置包括基板、光源、光感测器以及导光结构。基板具有上表面。光源设置于上表面，且光源用于朝向上方的待测物发射检测光线。光感测器设置于上表面。导光结构设置于上表面且至少部分位于光源上方，导光结构具有中心轴线垂直于上表面，光源及光感测器分别设置于中心轴线的相对两侧，其中导光结构用以偏折检测光线从中心轴线的光源的一侧到光感测器的一侧，使得检测光线被待测物反射后朝向光感测器。
[0006]在本专利技术的一个或多个实施方式中，导光结构具有导光凸起部，导光凸起部具有入光面倾斜于中心轴线，入光面用以接收检测光线。
[0007]在本专利技术的一个或多个实施方式中，导光结构具有导光凸起部及下槽部，下槽部容置光源及导光凸起部，导光凸起部位于光源的斜上方，且导光凸起部具有一入光面倾斜于中心轴线，入光面用以接收检测光线。
[0008]在本专利技术的一个或多个实施方式中，导光结构为杯状，导光结构覆盖并容置光源，且光感测器设置于导光结构外。
[0009]在本专利技术的一个或多个实施方式中，导光结构的截面具有M形轮廓。
[0010]在本专利技术的一个或多个实施方式中，光感测器及光源为多个，多个光感测器分别对应多个光源而设置于中心轴线的相反侧。
[0011]在本专利技术的一个或多个实施方式中，光感测器及光源为多个，多个光源设置于多个光感测器之间。
[0012]在本专利技术的一个或多个实施方式中，导光结构具有小于或等于100um的高度。
[0013]在本专利技术的一个或多个实施方式中，光源包括蓝光光源、绿光光源、红光光源或红外光光源。
[0014]在本专利技术的一个或多个实施方式中，光源为次毫米发光二极管光源或微发光二极
管光源。
[0015]综上所述，本专利技术提供一种光学检测装置，光学检测装置具有特殊的导光结构，导光结构用以偏折检测光线从导光结构的中心轴线的的一侧到另一侧。就由这个特殊的导光结构设计，光源及光感测器被放置在中心轴线的两侧，借此除了能提升光学检测装置的感测精准度外，由于感测光线的行径路径被适当的调整，因此也有助于让光学检测装置的体积变小，以便于使用者携带和使用。
[0016]以上所述仅是用以阐述本专利技术所欲解决的问题、解决问题的技术手段、及其产生的功效等等，本专利技术的具体细节将在下文的实施方式及相关附图中详细介绍。
附图说明
[0017]为达成上述的优点和特征，将参考实施方式对上述简要描述的原理进行更具体的阐释，而具体实施方式被展现在附图中。这些附图仅例示性地描述本专利技术，因此不限制专利技术的范围。通过附图，将清楚解释本专利技术的原理，且附加的特征和细节将被完整描述，其中：
[0018]图1绘示为本专利技术一个或多个实施方式光学检测装置的示意图；
[0019]图2至图6分别根据本专利技术不同实施方式绘示图1中光学检测装置的剖面图；
[0020]图7至图10分别根据本专利技术不同实施方式绘示图1中光学检测装置的上视图。
[0021]【符号说明】
[0022]100:光学检测装置
[0023]110:基板
[0024]111:上表面
[0025]120:光源
[0026]120a:第一光源
[0027]120b:第二光源
[0028]130:光感测器
[0029]130a:第一光感测器
[0030]130b:第二光感测器
[0031]140,140a,140b,140c,140d,140e:导光结构
[0032]141a,141b,141c,141d,141e:导光凸起部
[0033]143a,143b,143c,143d,143e:侧壁
[0034]145a,145b,145c,145d,145e:下槽部
[0035]200:待测物
[0036]b1,b2,b3,b4,b5:边缘
[0037]t1,t2,t3,t4,t5:端部
[0038]m,o:柱部
[0039]n:凸弧部
[0040]p:锥部
[0041]s1,s2,s3,s4,s5:入光面
[0042]x1,y2:平坦表面
[0043]x2,y1:弧形表面
[0044]A:剖面线
[0045]B:蓝光光源
[0046]C:中心轴线
[0047]C1:第一线段
[0048]C2:第二线段
[0049]C3:第三线段
[0050]C4:第四线段
[0051]D:线段
[0052]G:绿光光源
[0053]L:检测光线
[0054]U:壳体
[0055]R:红光光源
[0056]W1,W2,W3,W4,W5,W6,W7:宽度
[0057]H1,H2,H3,H4,H5:高度
具体实施方式
[0058]以下将以附图揭露本专利技术的多个实施方式，为明确说明起见，许多实务上的细节将在以下叙述中一并说明。然而，应了解到，这些实务上的细节不应用以限制本专利技术。也就是说，在本专利技术部分实施方式中，这些实务上的细节是非必要的。除此之外，为简化附图起见，一些已知惯用的结构与元件在附图中将以简单示意的方式绘示。
[0059]请参考图1，图1绘示为本专利技术一个或多个实施方式中光学检测装置100的示意图，光学检测装置100包括基板110、光源120、光感测器130以及导光结构140。具体而言，光源120会产生光线，而光线会经由导光结构140偏折并被投射至待测物200上，以便于光感测器130接收被待测物200反射的光线。此外，光学检测装置100还包括壳体U，其中壳体U用于容置并保护、光源120、光感测器130以及导光结构140，且壳体U可以包括透明材料，但本专利技术并不以此为限。
[0060]具体而言，基板110可以是透明基板或不透明基板，基板110例如为刚性基板、可挠性载基板、或玻璃载基板、蓝宝石基板、硅基板、印刷电路板、金属基板、陶瓷基板，但本专利技术并不以此为限。此外，光源120可以包括蓝光光源、绿光光源、红光光源本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种光学检测装置，其特征在于，包括：基板，具有上表面；光源，设置于该上表面，该光源用于朝向上方的待测物发射检测光线；光感测器，设置于该上表面；以及导光结构，设置于该上表面且至少部分位于该光源上方，该导光结构具有中心轴线垂直于该上表面，该中心轴线位于该光源及该光感测器分别设置于的相对两侧，其中该导光结构用以偏折该检测光线从该中心轴线的该光源的一侧到该光感测器的一侧，使得该检测光线被该待测物反射后朝向该光感测器。2.根据权利要求1所述的光学检测装置，其特征在于，该导光结构具有导光凸起部，该导光凸起部具有入光面倾斜于该中心轴线，该入光面用以接收该检测光线。3.根据权利要求1所述的光学检测装置，其特征在于，该导光结构具有导光凸起部及下槽部，该下槽部容置该光源及导光凸起部，该导光凸起部位于该光源的斜上方，且该导光凸起部具有一入光面倾斜于该中心轴线，该入光面用以接收...

【专利技术属性】
技术研发人员：何符汉，郑凯鸿，
申请(专利权)人：隆达电子股份有限公司，
类型：发明
国别省市：