一种用于晶片检测的托盘制造技术

技术编号:34690174 阅读:15 留言:0更新日期:2022-08-27 16:24
本实用新型专利技术公开了一种用于晶片检测的托盘,涉及晶片检测辅助工具技术领域。包括底座和旋转部;底座与显微镜的载物台固定连接;底座顶部设置有圆形凹槽;旋转部为圆环形,顶部设置有凹陷的晶片放置区,底部设置有圆形凸台;旋转部侧壁开设有用于吸笔进出的缺口;圆形凸台转动设置于圆形凹槽内;当晶片放置到晶片放置区后,显微镜的镜头正好对准晶片的边缘位置。本实用新型专利技术将托盘边缘与镜头对准,通过旋转上部的旋转部即可快速检查边缘,无须再进行前后左右调节,操作简单快捷。操作简单快捷。操作简单快捷。

【技术实现步骤摘要】
一种用于晶片检测的托盘


[0001]本技术涉及晶片检测辅助工具
,特别涉及一种用于晶片检测的托盘。

技术介绍

[0002]晶片经清洗后要对其进行边缘检查,目前,边缘检查是利用显微镜进行检查。检查前先使用吸笔将晶片放置到托盘(现有托盘是采用量产的圆盒然后将晶圆放置在里面,只采用盒底,不用盒盖,盒底需要进行处理以便吸笔可以取放晶片)上,再将托盘放置到显微镜的载物台上,通过在载物台上前后左右的调节托盘位置来观察边缘,动作繁琐,且浪费时间。

技术实现思路

[0003]本技术主要目的在提供一种用于晶片检测的托盘,以解决上述问题。
[0004]为达上述目的,本技术提供一种用于晶片检测的托盘,包括底座和旋转部;所述底座与显微镜的载物台固定连接;所述底座顶部设置有圆形凹槽;所述旋转部为圆环形,顶部设置有凹陷的晶片放置区,底部设置有圆形凸台;所述旋转部侧壁开设有用于吸笔进出的缺口;所述圆形凸台转动设置于圆形凹槽内;当晶片放置到晶片放置区后,显微镜的镜头正好对准晶片的边缘位置。
[0005]进一步的,所述圆形凸台与圆形凹槽之间通过轴承连接。
[0006]进一步的,还包括固定装置,所述底座通过固定装置与显微镜的载物台固定连接。
[0007]进一步的,所述固定装置两个固定杆,固定杆一端垂直设置有用于夹持载物台侧壁的限位板;所述底座侧壁上开设有两条平行设置的滑道;两个固定杆分别滑动插设于两条滑道内;所述底座垂直于滑道方向的两端均设置有螺纹孔;所述两端的螺纹孔分别与两条滑道内部连通;所述螺纹孔内螺接有用于限制固定杆滑动的顶丝。
[0008]进一步的,所述限位板顶部设置有转轴,所述限位板通过转轴与固定杆转动连接。
[0009]进一步的,限位板靠近载物台的一侧设置有防滑垫或防滑纹。
[0010]本技术具有以下有益效果:
[0011]本技术将托盘边缘与镜头对准,通过旋转上部的旋转部即可快速检查边缘,无须再进行前后左右调节,操作简单快捷。本技术通过设置固定装置实现了托盘的前后左右固定,通过转动设置的限位板,能够适应多种形状的载物台。
附图说明
[0012]图1为本技术提出的一种用于晶片检测的托盘的安装示意图;
[0013]图2为本技术提出的一种用于晶片检测的托盘的爆炸图。
[0014]图中:1

旋转部;2

底座;3

固定装置;4

显微镜;5

轴承;6

顶丝;11

缺口;12

晶片放置区;13

圆形凸台;21

圆形凹槽;22

滑道;23

螺纹孔;31

固定杆;32

限位板;33


滑垫。
具体实施方式
[0015]为达成上述目的及功效,本技术所采用的技术手段及构造,结合附图就本技术较佳实施例详加说明其特征与功能。
[0016]如图1

2所示,本技术中提供了一种用于晶片检测的托盘,包括底座2和旋转部1;所述底座2与显微镜4的载物台固定连接;所述底座2顶部设置有圆形凹槽21;所述旋转部1为圆环形,顶部设置有凹陷的晶片放置区12,底部设置有圆形凸台13;所述旋转部1侧壁开设有用于吸笔进出的缺口11;所述圆形凸台13转动设置于圆形凹槽21内;当晶片放置到晶片放置区12后,显微镜4的镜头正好对准晶片的边缘位置,本实施例中,如图1所示,显微镜4的镜头正好对准晶片左侧的边缘位置,便于在右侧取放晶片。
[0017]使用时,使用吸笔将晶片从缺口11送到晶片放置区12上,由于显微镜4的镜头正好对准晶片左侧的边缘位置,因此,可以直接开始边缘检测,通过转动旋转部,使晶片的边缘不断进入镜头视野中,旋转一圈,即可完成边缘检测;检测完成后,将吸笔从缺口11进入将晶片吸起取走,再进行下一晶片检测,操作简单快捷。
[0018]在另一实施例中,所述圆形凸台13与圆形凹槽21之间通过轴承5连接,以提升转动效果。
[0019]在另一实施例中,还包括固定装置3,所述底座2通过固定装置3与显微镜4的载物台固定连接。当然,除本实施例外,还可以采用胶接、焊接等形式对底座2固定。
[0020]作为优选实施例,所述固定装置3两个固定杆31,固定杆31一端垂直设置有用于夹持载物台侧壁的限位板32;所述底座2侧壁上开设有两条平行设置的滑道22;两个固定杆31分别滑动插设于两条滑道22内;所述底座2垂直于滑道22方向的两端均设置有螺纹孔23;所述两端的螺纹孔23分别与两条滑道22内部连通;所述螺纹孔23内螺接有用于限制固定杆31滑动的顶丝6。
[0021]通过固定装置3进行固定时,在晶片放置区12上预先放置一个晶片,然后调整底座2的位置,通过显微镜4观察位置,当正好能够看到晶片的边缘位置时,停止调整,将两个固定杆31分别插于两条滑道22内,使两个限位板32分别抵接载物台两侧,然后通过顶丝6对固定杆31锁死固定,即可完成固定过程,托盘便可正常使用。
[0022]在另一实施例中,所述限位板32顶部设置有转轴,所述限位板32通过转轴与固定杆31转动连接。通过转动设置的限位板,能够紧密贴合载物台侧壁,以适应多种形状的载物台,如多边形。
[0023]在另一实施例中,限位板32靠近载物台的一侧设置有防滑垫33或防滑纹,本实施例中为防滑垫33,以增强限位板32与载物台侧壁之间的固定效果。
[0024]以上所述仅为本技术较佳实施例而已,非全部实施例,任何人应该得知在本技术的启示下做出的结构变化,凡是与本技术具有相同或者相近似的技术方案,均属于本技术的保护范围。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于晶片检测的托盘,其特征在于,包括底座和旋转部;所述底座与显微镜的载物台固定连接;所述底座顶部设置有圆形凹槽;所述旋转部为圆环形,顶部设置有凹陷的晶片放置区,底部设置有圆形凸台;所述旋转部侧壁开设有用于吸笔进出的缺口;所述圆形凸台转动设置于圆形凹槽内;当晶片放置到晶片放置区后,显微镜的镜头正好对准晶片的边缘位置。2.如权利要求1所述的一种用于晶片检测的托盘,其特征在于,所述圆形凸台与圆形凹槽之间通过轴承连接。3.如权利要求1或2所述的一种用于晶片检测的托盘,其特征在于,还包括固定装置,所述底座通过固定装置与显微镜的载物台固定连接。4.如权利要求3...

【专利技术属性】
技术研发人员:张华任殿胜张月
申请(专利权)人:保定通美晶体制造有限责任公司
类型:新型
国别省市:

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