一种用于衍射探测设备的密封测试样品台制造技术

本实用新型专利技术公开了一种用于衍射探测设备的密封测试样品台，具体涉及衍射测量仪器技术领域，包括底座、顶盖和卡箍，底座具有凸台，凸台上用于放置测试样品，顶盖具有容置腔，卡箍用于箍紧顶盖与底座并使顶盖压紧于底座上且顶盖与底座之间形成一密封的容置空间，且此时凸台能够伸入至容置腔内。本实用新型专利技术能密封转移并对样品进行衍射测试，密封性好，结构简单，方便拆卸组装。方便拆卸组装。方便拆卸组装。

【技术实现步骤摘要】
一种用于衍射探测设备的密封测试样品台


[0001]本技术涉及衍射测量仪器
，具体涉及一种用于衍射探测设备的密封测试样品台。

技术介绍

[0002]当一束电磁波照射到物体上时，受到物体中原子的散射，每个原子都产生散射波，这些波互相干涉，结果就产生衍射。其中X射线晶体衍射现象的发现，使得X射线衍射长久以来被作为一种研究物质微细结构的有效工具。X射线衍射测量被广泛应用于科学研究、检验检测以及企业对产品的质量控制等方面，通过X射线衍射的测量结果可以精确测定物质的晶体结构、织构及应力。
[0003]由于一些测试样品对水和氧气比较敏感，对其进行X射线衍射测试需要在惰性气体保护下进行。在X射线衍射测试中，要求样品平面与样品台平面的高度尽量保持一致，否则会导致样品衍射峰的整体偏移，对物相分析造成干扰，现有技术中有采用惰性气体保护粉末样品的测试样品台，样品台设置有凹槽，将粉末样品放置在凹槽内并压平，使平整的样品平面与样品台平面处在同一水平面，以达到较为精准的测试结果。而凹槽并不适用于厚度较薄的薄膜样品，薄膜样品放入凹槽中并不能与样品台平面保持在同一本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于衍射探测设备的密封测试样品台，其特征在于：包括底座、顶盖和卡箍，所述底座具有凸台，所述凸台上用于放置测试样品，所述顶盖具有容置腔，所述卡箍用于箍紧所述顶盖与所述底座并使顶盖压紧于所述底座上且所述顶盖与所述底座之间形成一密封的容置空间，且此时所述凸台能够伸入至所述容置腔内。2.根据权利要求1所述的用于衍射探测设备的密封测试样品台，其特征在于：还包括密封胶圈，所述密封胶圈位于所述顶盖与所述底座之间，通过所述卡箍夹紧所述密封胶圈使所述容置空间密封。3.根据权利要求2所述的用于衍射探测设备的密封测试样品台，其特征在于：所述底座用于朝向所述顶盖的端面上设置有底凹槽，所述底凹槽环绕在所述凸台外，所述顶盖用于朝向所述底座的端面上设置有盖凹槽，所述底凹槽与所述盖凹槽的大小形状相同；所述卡箍箍紧所述顶盖与所述底座时，所述密封胶圈一端抵接于所述底凹槽，所述密封胶圈另一端抵接所述盖凹槽。4.根据权利要求3所述的用于衍射探测设备的密封测试样品台，其特征在于：所述顶盖包括底板和拱形凸盖，所述底板与所述拱形凸盖固定连接，所述底板具有通孔，所述凸台能够穿过所述通孔并...

【专利技术属性】
技术研发人员：张吉东，孟圣斐，宋新月，
申请(专利权)人：苏州锂影科技有限公司，
类型：新型
国别省市：