一种微区X射线衍射仪用透射成像样品的定位装置及方法制造方法及图纸

本发明专利技术公开一种微区X射线衍射仪用透射成像样品的定位装置及方法，涉及样品检测区域定位领域，本发明专利技术涉及一种微区X射线衍射仪用透射成像样品的定位装置及方法，所述装置包括：微区X射线衍射仪、盛放有待测样品的电动移动机构、探测器和数据处理模块；通过移动电动移动机构带动待测样品移动，从而利用微区X射线衍射仪发出的X射线光束照射在待测样品不同的区域，再由探测器探测待测样品不同区域透射的X射线光束，进而确定出待测样品最佳的检测区域，实现更加准确定位出待测样品的最佳检测区域，有利于更精确分析待测样品物质的晶体结构、织构及应力。织构及应力。织构及应力。

【技术实现步骤摘要】
一种微区X射线衍射仪用透射成像样品的定位装置及方法


[0001]本专利技术涉及样品检测区域定位
，特别是涉及一种微区X射线衍射仪用透射成像样品的定位装置及方法，即一种适用于微区X射线衍射仪的透射成像样品的定位装置及方法。

技术介绍

[0002]X射线衍射是利用衍射原理，精确测定物质的晶体结构、织构及应力的方法。它作为表征材料结晶结构的主要手段，被广泛用于科学研究、检验检测以及企业对产品的质量控制等方面。微区X射线衍射一般使用微米级大小的X射线光束照射到样品的局部地区，之后用探测器收集这一区域产生的衍射信号，可以分析出样品不同位置的物质组成以及结晶结构的差异。
[0003]目前微区衍射仪在定位样品的检测区域时采用激光辅助定位或光学成像辅助定位。一般先使用有X射线荧光的标准样品显示出X射线光束的位置，之后将激光束照射到该位置或者将光学成像监视器中的标识，如“+”标识等对准该位置。在测试时将样品待测位置移动到激光束照射位置或光学成像监视器中标识位置即可。但是这些方法一方面受到激光光束尺寸或光学成像分辨率的影响会存在较大误差，另一方面随着仪器的使用，这些辅助定位系统可能会发生位置漂移从而进一步加大位置误差。并且这些辅助定位系统的位置校正流程比较复杂，所以很难经常进行校正，因此需要一种定位更精确的样品检测区域的定位装置及方法。

技术实现思路

[0004]本专利技术的目的是提供一种微区X射线衍射仪用透射成像样品的定位装置及方法，能够更加准确定位出待测样品的最佳检测区域，有利于更精确分析待测样品物质的晶体结构、织构及应力。
[0005]为实现上述目的，本专利技术提供了如下方案：
[0006]一种微区X射线衍射仪用透射成像样品的定位装置，包括：微区X射线衍射仪、盛放有待测样品的电动移动机构、探测器和数据处理模块；
[0007]所述电动移动机构，用于带动所述待测样品在预设范围内移动，使微区X射线衍射仪发射的光束照射到所述待测样品的不同区域上；
[0008]所述探测器，用于接收所述待测样品的不同区域上透射的光束；
[0009]所述数据处理模块，用于接收所述探测器输出的信号并根据所述探测器输出的信号生成所述待测样品的不同区域对应的二维影像。
[0010]可选的，所述电动移动机构包括电动平移机构、电动升降机构和样品架；
[0011]所述电动平移机构与所述电动升降机构的支座连接，所述样品架与所述电动升降机构连接；所述样品架上放置所述待测样品。
[0012]所述电动平移机构，用于带动所述电动升降机构和所述样品架进行平移运动，进
而带动所述待测样品在所述预设范围内进行平移运动；
[0013]所述电动升降机构，用于带动所述待测样品在所述预设范围内进行升降运动。
[0014]可选的，所述电动平移机构的移动行程为2
‑
100mm，移动精度为0.005mm；
[0015]所述电动升降机构的移动行程为2
‑
100mm，移动精度为0.005mm。
[0016]可选的，所述探测器为X射线点探测器或X射线阵列探测器或二维CCD探测器。
[0017]可选的，所述X射线点探测器为闪烁计数器或正比计数器；
[0018]所述X射线阵列探测器为一维阵列探测器或二维阵列探测器。
[0019]可选的，当所述探测器为所述二维CCD探测器时，所述二维CCD探测器内设有所述数据处理模块；
[0020]所述二维CCD探测器，用于接收所述待测样品的不同区域上透射的光束并生成所述待测样品的不同区域对应的二维影像。
[0021]本专利技术还提供一种用微区X射线衍射仪透射成像样品的定位方法，包括：
[0022]控制电动移动机构带动待测样品在预设范围内移动；
[0023]每次所述待测样品移动后，控制微区X射线衍射仪发射光束照射所述待测样品；
[0024]控制探测器接收到透射所述待测样品的透射光束；
[0025]根据所述探测器接收的光信号生成二维影像，得到所述待测样品的不同区域处的所述二维影像；
[0026]根据所述待测样品的不同区域处的所述二维影像的图像特征确定所述待测样品检测的最佳区域；
[0027]基于所述待测样品的所述最佳区域进行微区X射线衍射测试。
[0028]根据本专利技术提供的具体实施例，本专利技术公开了以下技术效果：
[0029]本专利技术涉及一种微区X射线衍射仪用透射成像样品的定位装置及方法，该装置包括：微区X射线衍射仪、盛放有待测样品的电动移动机构、探测器和数据处理模块；电动移动机构，用于带动所述待测样品在预设范围内移动，使微区X射线衍射仪发射的光束照射到所述待测样品的不同区域上；探测器，用于接收所述待测样品的不同区域上透射的光束；数据处理模块，用于接收所述探测器输出的信号并根据所述探测器输出的信号生成所述待测样品的不同区域对应的二维影像。通过移动电动移动机构带动待测样品移动，从而利用微区X射线衍射仪发出的X射线光束照射在待测样品不同的区域，再由探测器探测待测样品不同区域透射的X射线光束，进而确定出待测样品最佳的检测区域，实现更加准确定位出待测样品的最佳检测区域，有利于更精确分析待测样品物质的晶体结构、织构及应力。
附图说明
[0030]为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0031]图1为本专利技术实施例1提供的一种微区X射线衍射仪用透射成像样品的定位装置结构图；
[0032]图2为本专利技术实施例1提供的电动移动机构的结构示意图；
[0033]图3为本专利技术实施例2提供的一种用微区X射线衍射仪透射成像样品的定位方法流程图。
[0034]附图标记：
[0035]1：微区X射线衍射仪；2：电动移动机构；3：探测器；4：数据处理模块；21：电动平移机构；22：电动升降机构；23：样品支架。
具体实施方式
[0036]下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。
[0037]本专利技术的目的是提供一种微区X射线衍射仪用透射成像样品的定位装置及方法，将待测样品放置在电动移动台上，移动电动移动台带动待测样品移动，从而利用微区X射线衍射仪发出的X射线光束照射在待测样品不同的区域，再由探测器探测待测样品不同区域透射的X射线光束，进而确定出待测样品最佳的检测区域，实现更加准确定位出待测样品的最佳检测区域，有利于更精确分析待测样品物质的晶体结构、织构及应力。
[0038]为使本专利技术的上述目的、本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种微区X射线衍射仪用透射成像样品的定位装置，其特征在于，包括：微区X射线衍射仪、盛放有待测样品的电动移动机构、探测器和数据处理模块；所述电动移动机构，用于带动所述待测样品在预设范围内移动，使所述微区X射线衍射仪发射的光束照射到所述待测样品的不同区域上；所述探测器，用于接收所述待测样品的不同区域上透射的光束；所述数据处理模块，用于接收所述探测器输出的信号并根据所述探测器输出的信号生成所述待测样品的不同区域对应的二维影像。2.根据权利要求1所述的定位装置，其特征在于，所述电动移动机构包括电动平移机构、电动升降机构和样品架；所述电动平移机构与所述电动升降机构的支座连接，所述样品架与所述电动升降机构连接；所述样品架上放置所述待测样品。所述电动平移机构，用于带动所述电动升降机构和所述样品架进行平移运动，进而带动所述待测样品在所述预设范围内进行平移运动；所述电动升降机构，用于带动所述待测样品在所述预设范围内进行升降运动。3.根据权利要求2所述的定位装置，其特征在于，所述电动平移机构的移动行程为2
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100mm，移动精度为0.005mm；所述电动升降机构的移动行程为2
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【专利技术属性】
技术研发人员：张吉东，侯宇航，宋新月，
申请(专利权)人：苏州锂影科技有限公司，
类型：发明
国别省市：