一种石英晶体谐振器密封性能检漏装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术涉及电子元件技术领域，具体涉及一种石英晶体谐振器密封性能检漏装置，其包括：底板，控制器、气泵以及检测箱，气泵与控制器电性连接；检测箱顶部设有盖板；检测箱内部中央设有放置板，放置板设有上下贯通的通道；第一泄压管，第一泄压管贯穿检测箱外侧壁与下部空间连通，泄压管设有第一电磁阀；输气管，输气管贯穿检测箱外侧壁与上部空间连通，输气管通过第三电磁阀与气泵连通；检测箱的正面分别固定连接有计时器、第一压力传感器、第二压力传感器；本实用新型专利技术可对晶体谐振器封壳前的引脚绝缘部密封缺陷进行检测，也可以对封壳后的晶体谐振器外壳抗压强度，及外壳密封缺陷进行检测。检测。检测。

【技术实现步骤摘要】
一种石英晶体谐振器密封性能检漏装置


[0001]本技术涉及电子元件
，具体涉及一种石英晶体谐振器密封性能检漏装置。

技术介绍

[0002]石英晶体谐振器简称石英晶体或晶振，是利用石英晶体的压电效应，用来产生高精度振荡频率的一种电子元件，属于被动元件。
[0003]石英晶体谐振器在压封时，谐振器内部要求抽真空并充入氮气，以保证石英晶片不被腐蚀并且能够正常起振，石英晶体谐振器在完成压封、封焊之后，需要对石英晶体谐振器的密封性能进行检测，石英晶体谐振器封装后是否漏气，是晶体产品可靠性的重要指标之一，一般在检测之前需要将谐振器放置在检测液中加压，再进行谐振器性能检测，因此我们提出一种石英晶体谐振器密封性能检漏装置。

技术实现思路

[0004]本技术的目的在于提供一种石英晶体谐振器密封性能检漏装置，可对晶体谐振器封壳前的引脚绝缘部密封缺陷进行检测，也可以对封壳后的晶体谐振器外壳抗压强度，及外壳密封缺陷进行检测。
[0005]为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：一种石英晶体谐振器密封性能检漏装置，其包括：底板，所述底板本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种石英晶体谐振器密封性能检漏装置，其特征在于，包括：底板，所述底板顶部固定连接有控制器、气泵以及检测箱，所述气泵与所述控制器电性连接；所述检测箱顶部设有盖板，所述盖板四周边缘通过密封圈与所述检测箱顶部密封配合；所述检测箱内部中央水平设有放置板，所述放置板将所述检测箱内部隔离成上部空间和下部空间，并且所述放置板设有上下贯通的通道，所述通道用于嵌入晶振元件；第一泄压管，所述第一泄压管贯穿所述检测箱外侧壁与所述下部空间连通，并且所述第一泄压管设有第一电磁阀，所述第一电磁阀与所述控制器电性连接；第二泄压管，所述第二泄压管贯穿所述检测箱外侧壁与所述下部空间连通，并且所述第二泄压管设有第二电磁阀，所述第二电磁阀与所述控制器电性连接；输气管，所述输气管贯穿所述检测箱外侧壁与所述上部空间连通，并且所述输气管通过第三电磁阀与所述气泵连通，所述第三电磁阀与所述控制器电性连接；所述检测箱的正面分别固定连接有计时器、第一压力传感器、第二压力传感器；所述第一压力传感器与所述上部空间连通，所述第二压力传感器与所述下部空间连通；所述计时器、所述第一压力传感...

【专利技术属性】
技术研发人员：王佳彬，
申请(专利权)人：晶宇兴电子科技三河有限公司，
类型：新型
国别省市：