一种节约晶粒度腐蚀剂的腐蚀器皿制造技术

技术编号:34591279 阅读:13 留言:0更新日期:2022-08-17 13:45
本实用新型专利技术公开了一种节约晶粒度腐蚀剂的腐蚀器皿,属于金相检验技术领域。它包括器皿主体和凸肋,器皿主体的内部为一长方体形状的槽体,器皿主体的剖面为倒置的梯形形状;在器皿主体的底部上方设置有三个间隔均匀,且呈水平纵向的条状凸肋,每两条凸肋之间的间隔距离为20mm,凸肋的长度尺寸为4mm、宽度尺寸为4mm、深度尺寸为120mm;器皿主体和凸肋的材质均为陶瓷材质。本实用新型专利技术经济实用,能够减少晶粒度腐蚀剂的使用量,增加了一次操作腐蚀剂侵蚀晶粒度试样块的数量。侵蚀晶粒度试样块的数量。侵蚀晶粒度试样块的数量。

【技术实现步骤摘要】
一种节约晶粒度腐蚀剂的腐蚀器皿


[0001]本技术涉及一种节约晶粒度腐蚀剂的腐蚀器皿,属于金相检验


技术介绍

[0002]在金相检验中,用于晶粒度腐蚀的“新型晶粒度浸蚀剂”是晶粒度腐蚀最常用的浸蚀剂,其价格相对较高,用量较大,每瓶晶粒度浸蚀剂可浸蚀直腐法晶粒度约12块、调制材晶粒度约10块、退火材晶粒度约8块,每块试样浸蚀成本较高,属于高检验成本试样;常规晶粒度腐蚀器皿为圆形底部,晶粒度试样的检验面垂直于器皿底部放置,每次只能浸蚀4~6块,消耗125ml腐蚀液,加热时间长,腐蚀液用量大,侵蚀晶粒度的数量少;且常规摆放晶粒度浸蚀检验面会出现浸蚀不均的情况,原因是接近于底部的浸蚀剂温度上升的速度高于最上层浸蚀液,生产率不高。

技术实现思路

[0003]为了克服现有技术的不足,本技术提供了一种节约晶粒度腐蚀剂的腐蚀器皿,该装置适用于金相检验工作中,经济实用,能够减少晶粒度腐蚀剂的使用量,增加了腐蚀剂侵蚀晶粒度试样块的数量,极大的减少了材料的消耗,同时能够缩短加热时间,并提高了生产率。
[0004]本技术解决其技术问题所采用的技术方案是:一种节约晶粒度腐蚀剂的腐蚀器皿,包括器皿主体和凸肋,器皿主体的内部为一长方体形状的槽体,器皿主体的剖面为倒置的梯形形状;在器皿主体的底部上方设置有三个间隔均匀,且呈水平纵向的条状凸肋,每两条凸肋之间的间隔距离为20mm,凸肋的长度尺寸为4mm、宽度尺寸为4mm、深度尺寸为120mm;器皿主体和凸肋的材质均为陶瓷材质。
[0005]在使用过程中,晶粒度试样的摆放状态为倾斜于器皿主体底部一定的角度,倾斜角度在15
º
~20
°
之间,晶粒度试样的底部一侧置于其中一根凸肋的顶部,晶粒度试样的另一侧置于器皿主体的底部上方,使晶粒度试样检验面不完全接触器皿主体的底部又能使其检验面的位置更接近器皿主体的底部,同时器皿主体底部加热温度更高;凸肋可使晶粒度试样检验面一端放置在凸肋上,晶粒度试样的检验面又能够满足大于等于10mm
×
10mm的国标要求,加入晶粒度腐蚀剂,使凸肋与晶粒度试样的检验面完全浸于晶粒度腐蚀剂中。
[0006]通过试验验证,有效的改善了晶粒度腐蚀剂的用量及每块晶粒度试样的腐蚀成本,使用本技术每次浸蚀最多可摆放十八块晶粒度试样,能够摆放三行六列,浸蚀剂添加为100ml,加热时间为8分钟,可使检验面完全显示晶界;而原有的器皿消耗浸蚀剂添加为80ml,只能摆放浸蚀4~6块晶粒度试样,原有器皿使用每瓶250ml浸蚀剂可浸蚀晶粒度试样的数量为12~18块,加热时间为12分钟,本技术使用每瓶250ml浸蚀剂可浸蚀晶粒度试样的数量为45块,加热时间为8分钟。
[0007]本技术的有益效果是:本技术结构简单、设计合理、操作方便,经济实用,经对比,本技术能够有效的减少晶粒度腐蚀剂的使用量,增加了一次操作腐蚀剂侵蚀
晶粒度试样块的数量,极大的减少了材料的消耗费用,同时缩短加热时间,提高生产率。使用此器皿摆放的晶粒度试样的检验面接近于器皿底部,加热温度高,浸蚀时间更短,同时晶粒度腐蚀剂的添加量也大大减少。
附图说明
[0008]下面结合附图和具体实施方式对本技术进一步说明。
[0009]图1是本技术的结构示意图。
[0010]图2是本技术凸肋俯视示意图。
[0011]图中标号:
[0012]1、器皿主体,
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2、凸肋,
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3、晶粒度试样,
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4、晶粒度腐蚀剂。
具体实施方式
[0013]如图1—2所示,一种节约晶粒度腐蚀剂的腐蚀器皿,包括器皿主体1和凸肋2,器皿主体1的内部为一长方体形状的槽体,器皿主体1的剖面为倒置的梯形形状;在器皿主体1的底部上方设置有三个间隔均匀,且呈水平纵向的条状凸肋2,每两条凸肋2之间的间隔距离为20mm,凸肋2的长度尺寸为4mm、宽度尺寸为4mm、深度尺寸为120mm;器皿主体1和凸肋2的材质均为陶瓷材质。
[0014]在使用过程中,晶粒度试样3的摆放状态为倾斜于器皿主体1底部一定的角度,倾斜角度在15
º
~20
°
之间,晶粒度试样3的底部一侧置于其中一根凸肋2的顶部,晶粒度试样3的另一侧置于器皿主体1的底部上方,使晶粒度试样3检验面不完全接触器皿主体1的底部又能使其检验面的位置更接近器皿主体1的底部,同时器皿主体1底部加热温度更高;凸肋2可使晶粒度试样3检验面一端放置在凸肋2上,晶粒度试样3的检验面又能够满足大于等于10mm
×
10mm的国标要求,加入晶粒度腐蚀剂4,使凸肋2与晶粒度试样3的检验面完全浸于晶粒度腐蚀剂4中。
[0015]通过试验验证,有效的改善了晶粒度腐蚀剂的用量及每块晶粒度试样3的腐蚀成本,使用本技术每次浸蚀最多可摆放十八块晶粒度试样3,能够摆放三行六列,浸蚀剂添加为100ml,加热时间为8分钟,可使检验面完全显示晶界;而原有的器皿消耗浸蚀剂添加为80ml,只能摆放浸蚀4~6块晶粒度试样3,原有器皿使用每瓶250ml浸蚀剂可浸蚀晶粒度试样3的数量为12~18块,加热时间为12分钟,本技术使用每瓶250ml浸蚀剂可浸蚀晶粒度试样3的数量为45块,加热时间为8分钟。经对比,本技术能够有效的减少晶粒度腐蚀剂4的使用量,增加腐蚀剂单位作业块的数量,极大的减少了材料的消耗费用,同时缩短加热时间,提高生产率。使用此器皿摆放的晶粒度试样3的检验面接近于器皿底部,加热温度高,浸蚀时间更短,同时晶粒度腐蚀剂4的添加量也大大减少。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种节约晶粒度腐蚀剂的腐蚀器皿,包括器皿主体(1)和凸肋(2),其特征在于:器皿主体(1)为一长方体形状的槽体,器皿主体(1)的剖面为倒置的梯形形状;在器皿主体(1)的底部上方设置有三个间隔均匀,且呈水平纵向的条状凸肋(2)。2.根据权利要求1所述的一种节约...

【专利技术属性】
技术研发人员:陈迦杉王艳秋夏伟鹤栗雪张百慧王钊王长智
申请(专利权)人:建龙北满特殊钢有限责任公司
类型:新型
国别省市:

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