一种芯片上下电测试的自动监控装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术涉及一种芯片上下电测试的自动监控装置，属于集成电路技术领域。其特征在于：包括外壳、电源模块、主控模块、显示模块、负载接口和控制按键；其中电源模块和主控模块安装在外壳内，显示模块、负载接口和控制按键安装在外壳表面，电源模块、显示模块、负载接口和控制按键均与主控模块连接，主控模块控制电压模块为负载接口的供电进行通断控制，主控模块记录并通过显示模块显示负载模块的状态、上下电状态、上电后正常运行次数和时间、异常提醒。本实用新型专利技术通过控制通断与负载检测相结合，判断负载端运行状态是否正常，并记录上电后正常运行次数与异常数据，便于对芯片的批量自动测试，节省人力并降低成本。节省人力并降低成本。节省人力并降低成本。

【技术实现步骤摘要】
一种芯片上下电测试的自动监控装置


[0001]本技术涉及一种芯片上下电测试的自动监控装置，属于集成电路


技术介绍

[0002]集成电路芯片上下电运行测试，需要监测芯片每次上电是否正常运行。一般方法是通过外接其他辅助测试工具，由人工观察测试工具的显示来判断是否上电运行正常，当测试次数过多或时间过长时，对人力资源浪费较为严重，增加了企业的成本。

技术实现思路

[0003]本技术的目的在于提供一种芯片上下电测试的自动监控装置来判断芯片是否上电运行正常，并且能记录上电后正常运行次数与异常数据。
[0004]技术方案：
[0005]一种芯片上下电测试的自动监控装置，包括外壳、电源模块、主控模块、显示模块、负载接口和控制按键；其中电源模块和主控模块安装在外壳内，显示模块、负载接口和控制按键安装在外壳表面，电源模块、显示模块、负载接口和控制按键均与主控模块连接，主控模块控制电压模块为负载接口的供电进行通断控制，主控模块记录并通过显示模块显示负载模块的状态、上下电状态、上电后正常运行次数和时间、异常提醒。
[000本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种芯片上下电测试的自动监控装置，其特征在于：包括外壳(1)、电源模块(3)、主控模块(2)、显示模块(4)、负载接口(6)和控制按键(5)；其中电源模块和主控模块安装在外壳内，显示模块、负载接口和控制按键安装在外壳表面，电源模块、显示模块、负载接口和控制按键均与主控模块连接，主控模块控制电压模块为负载接口的供电进行通断控制，主控模块记录并通过显示模块显示负载模块的状态、上下电状态、上电后正常运行次数和时间、异常提醒。2.如权利要求1所述的芯片上下电测试的自动监控装置，其特征在于：所述的电源模块提供多级电压输出，并对每级电压输出均设置过流保护。3.如权利要求1所述的芯片上下电测试的自动监控装置，其特征在于：...

【专利技术属性】
技术研发人员：万荣，李肖迪，张茂林，姚哲理，
申请(专利权)人：上海芯旺微电子技术有限公司，
类型：新型
国别省市：