一种动态测试数据的收集和处理方法及系统技术方案

本发明专利技术公开了一种动态测试数据的收集和处理方法及系统，属于集成电路芯片数据处理技术领域。本技术方案包括如下步骤：获取至少一个测试设备的基本信息，包括芯片测试的数据类型、数据长度、数据内容以及当前芯片是否NG；所述基本信息按照特定格式组合，并增加帧头信息、校验及帧尾信息，生成测试通信协议帧；所述上位机读取并解析所述测试通信协议帧，完成对所述测试设备信息的查阅、收集及分析；接收量产芯片的测试数据，存储在后台数据库中。本发明专利技术能够同时完成对不同的通信数据格式的数据的查阅、收集及分析，实现集成电路行业对芯片质量要求的一致性与结果追踪，并能实现NG分类统计分析，其灵活性强，使用便捷性好，极具应用前景。前景。前景。

【技术实现步骤摘要】
一种动态测试数据的收集和处理方法及系统


[0001]本专利技术涉及集成电路芯片数据处理
，具体涉及一种兼容多种数据类型的动态测试数据的收集和处理方法及系统。

技术介绍

[0002]在集成电路行业中，基于数据库收集数据与分析通常是根据具体的项目需求，设计数据库模型，根据具体的下位机通信协议设计对应的数据接收驱动的，当前需求通常芯片公司委托软件设计公司开发。该模式需要提供完整的需求描述和应用模型，并且后期的调整的维护需要公司配备专业的工程人员。同时由于不同的下位机具有不同的通信数据格式，当需求调整产生的二次开发往往伴随着高额成本。不同的通信数据格式的数据难以通过同一上位机进行查阅、收集及分析，此外随着集成电路行业的快速发展，全新的测试需求层出不穷，这往往伴随着全新通信数据格式的出现，当前的上位机系统越来越难以满足当下的需求。
[0003]因此，开发一种动态测试数据的收集和处理方法极具现实意义。

技术实现思路

[0004]本专利技术的目的在于克服现有上位机系统兼容性差、二次开发成本高的缺陷，提供一种动态测试数据的收集和处本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种动态测试数据的收集和处理方法，其特征在于，所述方法应用于上位机，包括：获取至少一个测试设备的基本信息，包括芯片测试的数据类型、数据长度、数据内容以及当前芯片是否NG；所述基本信息按照特定格式组合，并在基本信息上增加帧头信息，校验及帧尾信息，生成测试通信协议帧；所述上位机读取并解析所述测试通信协议帧，完成对所述测试设备信息的查阅、收集及分析；接收待测试芯片的测试数据，存储在后台数据库中。2.根据权利要求1所述的一种动态测试数据的收集和处理方法，其特征在于，不同测试设备获取的基本信息相同或不同。3.根据权利要求1所述的一种动态测试数据的收集和处理方法，其特征在于，所述测试通信协议帧能够根据需求进行扩展，包括多个所述基本信息组合。4.根据权利要求1所述的一种动态测试数据...

【专利技术属性】
技术研发人员：叶玲玲，郜建政，
申请(专利权)人：上海芯旺微电子技术有限公司，
类型：发明
国别省市：