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本发明公开了一种动态测试数据的收集和处理方法及系统，属于集成电路芯片数据处理技术领域。本技术方案包括如下步骤：获取至少一个测试设备的基本信息，包括芯片测试的数据类型、数据长度、数据内容以及当前芯片是否NG；所述基本信息按照特定格式组合，并增...
该专利属于上海芯旺微电子技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海芯旺微电子技术有限公司授权不得商用。

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