一种运算放大器功能测试系统技术方案

本发明专利技术公开了一种运算放大器功能测试系统，包括双路运放环模块、STS8200测试机和DUT板；所述双路运放环模块内部含有辅助运算放大器和光电开关，通过输入不同的光电开关控制信号和测量VI源完成被测运放产品相应的测试外围电路的搭建与切换，STS8200测试机为双路运放环模块提供所需的VI源、ACS、ACM、QTMU和光电开关控制信号等资源，并完成从双路运放环模块输出的被测运放产品各项参数测试的数据处理和结果显示；DUT板上分别设有与STS8200测试机、双路运放环模块以及被测运放产品的接口。本发明专利技术模块化连接，便于快速组装、替换和模块升级；支持现有STS8200测试机，可以通过STS8200测试机编程控制双路运放环模块实现不同运放功能测试项目的测试。同运放功能测试项目的测试。同运放功能测试项目的测试。

【技术实现步骤摘要】
一种运算放大器功能测试系统


[0001]本专利技术属于集成电路测试
，具体是涉及一种运算放大器功能测试系统。

技术介绍

[0002]运算放大器简称运放(operational amplifier,简称OPA)。运放能对信号进行数学运算的放大电路。采用集成电路工艺制作的运算放大器，除保持了原有的很高的增益和输入阻抗的特点之外，还具有精巧、廉价和可灵活使用等优点。运放广泛用于工业控制、医疗设备、安防监控设备、仪器仪表、汽车电子、智能家居以及消费类电子等领域。
[0003]运放FT (Function Test)测试的意义和作用是检验产品功能是否存在问题，现有的测试装置使用起来不方便，且测试参数不全面。

技术实现思路

[0004]本专利技术的目的在于针对上述问题，提供一种运算放大器功能测试系统，构建运算放大器功能测试系统使用起来更方便，提升测试工作效率，且测试参数更加全面。
[0005]本专利技术的技术方案是这样实现的。
[0006]一种运算放大器功能测试系统，其特征在于，包括双路运放环模块、STS820本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种运算放大器功能测试系统，其特征在于，包括双路运放环模块、STS8200测试机和 DUT板；所述双路运放环模块内部含有辅助运算放大器和光电开关，外部设有被测运放产品输入管脚、光电开关控制信号输入管脚和测量VI源输入管脚，并通过输入不同的光电开关控制信号和测量VI源完成被测运放产品相应的测试外围电路的搭建与切换，并将测试参数输出至STS8200测试机；所述STS8200测试机为双路运放环模块提供所需的VI源、ACS、ACM、QTMU和光电开关控制信号资源，并完成从双路运放环模块输出的被测运放产品各项参数测试的数据处理和结果显示；所述DUT板连接分选机，DUT板上分别设有与STS8200测试机连接的排线接口，与双路运放环模块的管脚连接的插孔，以及被测运放产品的接口，并且DUT板上集成有STS8200测试机连接的排线接口、双路运放环模块的管脚连接的插孔以及被测运放产品的接口之间相互实现信号传输的连接线路。2.根据权利要求1所述的运算放大器功能测试系统，其特征在于：所述双路运放环模块支持被测运放产品的输入失调电压VOS，输入偏执电流IB，输入失调...

【专利技术属性】
技术研发人员：王辉龙，
申请(专利权)人：江西万年芯微电子有限公司，
类型：发明
国别省市：