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本实用新型涉及一种芯片上下电测试的自动监控装置，属于集成电路技术领域。其特征在于：包括外壳、电源模块、主控模块、显示模块、负载接口和控制按键；其中电源模块和主控模块安装在外壳内，显示模块、负载接口和控制按键安装在外壳表面，电源模块、显示模块...
该专利属于上海芯旺微电子技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海芯旺微电子技术有限公司授权不得商用。

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