片材联合检测装置和智能分选系统制造方法及图纸

本实用新型专利技术提供了一种片材联合检测装置和智能分选系统，属于硅片检测领域，装置包括间距可调的检测流线、位于检测流线前端的导正机构以及沿检测流线设置的多个检测模组；检测流线由多个间距可调的流线单元依次排列组成，多个检测模组包括左右崩边模组、前后及倒角崩模组、厚度检测模组、下脏污检测模组、上脏污检测模组、电阻率测试模组、隐裂模组、下表崩模组及上表崩模组中的部分或全部；本申请的装置，集成了多种检测模组，在对多个流线布置的检测模组提供板材预导正和规格可调的流线输送单元，可适应多种规格的片材，拓宽了适用范围，模块化布置的多种检测模组，降低了成本，提高了效率，便于涉及片材产品的硅片、PCB等领域推广应用。应用。应用。

【技术实现步骤摘要】
片材联合检测装置和智能分选系统


[0001]本技术属于硅片检测分选领域，涉及连续上料技术，具体公开了一种片材联合检测装置和智能分选系统。

技术介绍

[0002]硅片作为重要的工业原材料，被广泛用于，在硅片生产出厂之前需要对其质量进行严格的把控，以保证由硅片制造的太阳能电池、电路板等产品的质量。硅片分选机是一种集成自动化、测量、视觉瑕疵检测于一体的自动化检测、分选设备，应用在太阳能硅片生产流程中，如我司申请的专利(公开号CN112605010A)公开的下料分选装置及硅片智能分选机，分选机能够实现对太阳能硅片切片、清洗后的原片进行厚度、TTV、线痕、电阻率、尺寸、脏污、崩边、隐裂等项目的测量和检测，并根据分选菜单，自动将硅片按照质量等级要求分选到不同的盒子内，充分满足硅片使用厂家的质量管控的需求，是生产中不可缺少的一个环节。
[0003]目前，在硅片的检测过程中，需要对刚进入主流线的硅片进行摆正或导正，然后硅片再通过检测主流线向后传输进行各项检测，如我司专利(公开号CN112642731A)公开的联合检测装置及硅片智能分选机，采用导轮机构导正后，硅片通过流线单元向后输送。然而，现有的流线单元间距不可调，对于不同规格的硅片等片材不能灵活调节，限制了其使用范围，增加了调整成本。

技术实现思路

[0004]为了克服现有技术的不足，本技术的目的在于提供一种片材联合检测装置和智能分选系统，其能解决上述问题。
[0005]一种适于多规格的片材联合检测装置，包括间距可调的检测流线、位于检测流线前端的导正机构以及沿检测流线设置的多个检测模组。所述检测流线由多个间距可调的流线单元依次排列组成，多个所述检测模组包括左右崩边模组、前后及倒角崩模组、厚度检测模组、下脏污检测模组、上脏污检测模组、电阻率测试模组、隐裂模组、下表崩模组及上表崩模组中的部分或全部。
[0006]进一步的，每个流线单元包括两个相对设置的流线支架、带轮组、传动皮带、间距调整组以及流线电机组；相对设置的两个流线支架底部连接至所述间距调整组，所述传动皮带通过带轮组被支撑在所述流线支架上，流线电机组与带轮组传动连接从而驱动皮带传输；间距调整组通过手动或自动调节实现两个相对设置的流线支架的间距调整，实现对不同规格片材的传输。
[0007]进一步的，所述导正机构包括左右对称设置的导正单元、驱动两个导正单元相向或者相背运动的调节单元和导正底板；任一侧的导正单元包括导轮架、导轮组、导正皮带以及导正电机，所述导轮组、导正皮带以及导正电机安装于所述导轮架的顶部位置，所述导正皮带沿片材的传送方向设置，且进料上游处呈敞口布置，使得两个导正单元的导正皮带前
段之间的间距沿片材的传送方向逐渐减小；所述调节单元包括调节驱动器和调节传动组件，所述调节传动组件与两个导正单元的底部连接，从而通过调节驱动器控制两个到整单元之间的距离。
[0008]进一步的，所述左右崩边模组包括两个设置在左右崩滑轨座上的左右崩边检测单元，通过所述左右崩滑轨座实现两个左右崩边检测单元的间距调节，以适应于不同规格的片材检测。
[0009]进一步的，所述前后及倒角崩模组包括前后相机架、前后光源架、前后崩光源、倒角崩光源和前后倒角崩相机；前后相机架和前后光源架间隔平行的设置，前后崩光源的两个灯条相对且斜向上出光的设置在前后相机架和前后光源架之间，两个倒角崩光源位置和角度可调的设置在前后相机架和前后光源架上；两个所述前后倒角崩相机通过相机转接件位置和角度可调的设置在所述前后相机架上，用以对下方输送的片材图像采集。
[0010]进一步的，所述厚度检测模组包括厚度检基板、厚度检单元和与厚度检单元数量相等的厚度检标定单元；在所述厚度检基板的中部对应流线单元开设厚度检流线口，便于片材输送；每个厚度检单元包括相对的设置在厚度检流线口上下的两个激光模组；每个厚度检标定单元包括一个标定片和标定驱动模组，用于标定位置的确认和驱动。
[0011]进一步的，所述下脏污检测模组用于检测片材下表面脏污情况，包括下脏污相机组件、下脏污相机调整组件、下脏污立柱、下脏污光源、下脏污光源固定件和下脏污遮光钣金；下脏污相机组件通过下脏污相机调整组件实现横向和纵向的空间位置和角度调节；设置在下脏污相机组件上方的下脏污光源中部设有上下贯通的下脏污图像采集窗，便于进行图像采集。
[0012]进一步的，所述上脏污检测模组用于检测片材上表面脏污情况，包括上脏污相机组件、上脏污相机调整组件、上脏污立架、上脏污光源、上脏污光源固定件和上脏污遮光板；上脏污相机组件安装至上脏污立架上部，并通过上脏污相机调整组件实现横向和纵向的空间位置和角度调节；上脏污光源通过上脏污光源固定件安装在上脏污相机组件下方的上脏污立架上，在上脏污光源两侧设置上脏污遮光板；在上脏污光源中部设有上下贯通的上脏污图像采集窗，便于对上脏污光源下方传输的片材进行图像采集。
[0013]进一步的，所述电阻率测试模组包括电阻率测试支架、电阻率检测单元、PN型检测单元、温度检测单元和物料感应单元；电阻率测试支架包括电阻架立柱、安装在电阻架立柱上呈上下布置的电阻架上安装板和电阻架下安装板，所述电阻率测试支架的两个测头相对的设置在电阻架上安装板和电阻架下安装板上；所述PN型检测单元、温度检测单元设置在所述电阻架上安装板上；所述物料感应单元相对的设置在电阻架上安装板和电阻架下安装板上，用于感应片材是否到位。
[0014]进一步的，所述隐裂模组包括隐裂支架、隐裂相机调节座、隐裂相机转接板、隐裂相机调节件、隐裂相机、隐裂光源、隐裂光源架和隐裂视窗板；两个隐裂相机分别通过一组隐裂相机转接板、隐裂相机调节件和隐裂相机调节座对称可调的安装在隐裂支架的上部两端；所述隐裂光源通过隐裂光源架支撑并布置在两个隐裂相机的中间下方，所述隐裂视窗板设置在隐裂光源上方，隐裂相机的光路透过隐裂视窗板中间开设的隐裂视窗对下方传输的片材采集图像。
[0015]本技术还提供了一种智能分选系统，分选系统包括下料分选设备、检测设备
和上料设备，所述检测设备采用前述的的适于多规格的片材联合检测装置；在所述上料设备和检测设备之间设置料型检测装置和碎片剔除装置，用于检测硅片型号以及是否发生破碎，并将破碎的硅片剔除，避免破碎硅片流入检测设备。
[0016]相比现有技术，本技术的有益效果在于：本申请的装置，集成了多种检测模组，在对多个流线布置的检测模组提供板材预导正和规格可调的流线输送单元，可适应多种规格的片材，拓宽了适用范围，模块化布置的多种检测模组，降低了成本，提高了效率，便于涉及片材产品的硅片、PCB等领域推广应用。
附图说明
[0017]图1为片材联合检测装置的结构示意图；
[0018]图2
‑
图4为流线单元不同角度和示例的示意图；
[0019]图5为导正机构的示意图；
[0020]图6和图7为左右崩边模组的示意图；
[0021]图8和图9为前后及倒角崩模组的示意图；
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种适于多规格的片材联合检测装置，其特征在于：包括间距可调的检测流线、位于检测流线前端的导正机构(100)以及沿检测流线设置的多个检测模组；所述检测流线由多个间距可调的流线单元(1100)依次排列组成，多个所述检测模组包括左右崩边模组(200)、前后及倒角崩模组(300)、厚度检测模组(400)、下脏污检测模组(500)、上脏污检测模组(600)、电阻率测试模组(700)、隐裂模组(800)、下表崩模组及上表崩模组中的部分或全部。2.根据权利要求1所述的片材联合检测装置，其特征在于：每个流线单元(1100)包括两个相对设置的流线支架、带轮组、传动皮带(1101)、间距调整组以及流线电机组；相对设置的两个流线支架底部连接至所述间距调整组，所述传动皮带(1101)通过带轮组被支撑在所述流线支架上，流线电机组与带轮组传动连接从而驱动皮带传输；间距调整组通过手动或自动调节实现两个相对设置的流线支架的间距调整，实现对不同规格片材的传输。3.根据权利要求2所述的片材联合检测装置，其特征在于：在所述流线支架上还设置有物料感应传感器(1113)。4.根据权利要求1所述的片材联合检测装置，其特征在于：所述导正机构(100)包括左右对称设置的导正单元(110)、驱动两个导正单元(110)相向或者相背运动的调节单元(120)和导正底板(130)；任一侧的导正单元(110)包括导轮架(111)、导轮组(112)、导正皮带(113)以及导正电机(114)，所述导轮组(112)、导正皮带(113)以及导正电机(114)安装于所述导轮架(111)的顶部位置，所述导正皮带(113)沿片材的传送方向设置，且进料上游处呈敞口布置，使得两个导正单元(110)的导正皮带(113)前段之间的间距沿片材的传送方向逐渐减小；所述调节单元(120)包括调节驱动器(121)和调节传动组件，所述调节传动组件与两个导正单元(110)的底部连接，从而通过调节驱动器(121)控制两个到整单元之间的距离。5.根据权利要求1所述的联合检测装置，其特征在于：所述左右崩边模组(200)包括两个设置在左右崩滑轨座上的左右崩边检测单元，通过所述左右崩滑轨座实现两个左右崩边检测单元的间距调节，以适应于不同规格的片材检测。6.根据权利要求1所述的联合检测装置，其特征在于：所述前后及倒角崩模组(300)包括前后相机架(301)、前后光源架(302)、前后崩光源(303)、倒角崩光源(304)和前后倒角崩相机(305)；前后相机架(301)和前后光源架(302)间隔平行的设置，前后崩光源(303)的两个灯条相对且斜向上出光的设置在前后相机架(301)和前后光源架(302)之间，两个倒角崩光源(304)位置和角度可调的设置在前后相机架(301)和前后光源架(302)上；两个所述前后倒角崩相机(305)通过相机转接件(306)位置和角度可调的设置在所述前后相机架(301)上，用以对下方输送的片材图像采集。7.根据权利要求1所述的联合检测装置，其特征在于：所述厚度检测模组(400)包括厚度检基板(401)、厚度检单元(402)和与厚度检单元(402)数量相等的厚度检标定单元(403)；在所述厚度检基板(401)的中部对应流线单元(1100)开设厚度检流线口(404)，便于片材输送；每个厚度检单元(402)包括相对的设置在厚度检流线口(404)上下的两个激光模组(405)；每个厚度检标定单元(403)包括一个标定片(406)和标定驱动模组(407)，用于标定位置的确认和驱动。8.根据权利...

【专利技术属性】
技术研发人员：曹葵康，孙靖，顾烨，吴屹慧，乔欣怡，贺亮，苏傲，薛峰，
申请(专利权)人：苏州天准科技股份有限公司，
类型：新型
国别省市：