处理光谱制造技术

本发明专利技术公开了一种处理如中阶梯光栅光谱等二维光谱的方法。所述光谱包括具有相对高强度的由具有相对低强度的边界隔开的段。所述光谱已通过检测器数字化(61)。所述方法包括：对光谱进行去噪(62)；搜索(64)所述光谱的至少一个系列的相邻局部极值；通过每个系列的相邻局部极值将线拟合(65)，每条线表示一段；标识(67)任何峰和其相应位置；以及存储(68)所述线和任何峰的所述位置。和任何峰的所述位置。和任何峰的所述位置。

Processing spectrum

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】处理光谱


[0001]本专利技术涉及处理光谱。更具体地，本专利技术涉及一种分析原子光谱领域和类似领域中的处理如中阶梯光栅光谱(echelle spectra)等二维光谱的方法。另外，本专利技术涉及一种产生用于处理光谱的模板的方法、涉及利用此模板并且涉及一种利用此方法的光谱处理装置和光学摄谱法装置。

技术介绍

[0002]众所周知的是使用光谱来分析各种应用中的物质。例如，在吸收光谱领域，来自光源的能量的一部分被特定波长的分析物吸收，留下未被吸收的能量的特征光谱。这种特征光谱使得可以标识分析物的化学组成。类似地，在发射光谱中，获得了由分析物释放的能量的特征光谱。这种光谱通常是一维的：光谱的波长可以绘制在一条线上。
[0003]在使用中阶梯光栅光谱仪和检测器的分析原子光谱法的现代方法中，关于分析物的化学组成的信息被包含在被称为中阶梯光栅图或中阶梯光栅光谱的二维光谱中。中阶梯光栅图的光谱峰的位置与特定元素特有的原子发射或吸收(取决于实验类型)波长相关。因此，光谱峰的位置含有关于样品中存在的元素的身份的信息。峰的强度表示存在的元素的量。原则上，中本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种处理如中阶梯光栅光谱等二维光谱的方法，所述光谱包括具有相对高强度的被具有相对低强度的边界隔开的段，所述光谱已通过检测器数字化，所述方法包括：
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对光谱进行去噪；
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搜索所述光谱的至少一个系列的相邻局部极值；
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通过每个系列的相邻局部极值将线拟合，每条线表示一段；
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标识任何峰和其相应位置；以及
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存储所述线和任何峰的所述位置。2.根据权利要求1所述的方法，其进一步包括：
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使用特征提取通过每个系列的相邻局部极值将线拟合。3.根据权利要求2所述的方法，其中特征提取包括应用霍夫变换。4.根据前述权利要求中任一项所述的方法，其中通过每个系列的相邻局部极值拟合的所述线包括基本上平滑的线。5.根据前述权利要求中任一项所述的方法，其进一步包括：
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使用边缘检测搜索一系列相邻局部极值。6.根据前述权利要求中任一项所述的方法，其中所拟合的线相对于样品光谱的轴线的角度被限制到预定范围。7.根据前述权利要求中任一项所述的方法，其中所述样品光谱的所述局部极值包括局部最大值。8.根据权利要求7所述的方法，其中每条线表示相应段的脊。9.根据前述权利要求中任一项所述的方法，其中所述光谱的所述局部极值包括局部最小值。10.根据权利要求9所述的方法，其中每条线表示段之间的边界，并且其中优选地，将线按对存储。11.根据前述权利要求中任一项所述的方法，其中去噪包括应用全变分去噪算法。12.根据前述权利要求中任一项所述的方法，其进一步包括：
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确定至少一个所标识的峰的强度。13.根据前述权利要求中任一项所述的方法，其中所述至少一个所标识的峰的所确定位置包括所述峰所处的所述段的标识。14.根据前述权利要求中任一项所述的方法，其中标识峰包括确定段内的最大值。15.根据前述权利要求中任一项所述的方法，其进一步包括：
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在检测界线之前限定至少一个部分光谱，每个部分光谱小于所述光谱；以及
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检测每个单独的部分光谱的界线。16.根据权利要求15所述的方法，其中限定至少两个部分光谱，并且其中至少一些部分光谱不具有重叠。17.根据权利要求15或16所述的方法，其中限定至少两个部分光谱，并且其中至少一些部分光谱具有一些重叠。18.根据权利要求15到17中任一项所述的方法，其中所述部分光...

【专利技术属性】
技术研发人员：A，
申请(专利权)人：塞莫费雪科学不来梅有限公司，
类型：发明
国别省市：