一种划片定位装置、划片机及定位方法制造方法及图纸

技术编号:34191845 阅读:33 留言:0更新日期:2022-07-17 15:37
本发明专利技术提供的一种划片定位装置、划片机及定位方法,属于半导体制造设备技术领域,一种划片定位装置包括:底座,第一采集机构,第二采集机构;本装置将待切割的晶圆放置在工作台上,通过第一采集机构能够获取晶圆在工作台上的信息,本装置中的工作台能够带动晶圆在不同的方向上移动,通过第一采集机构获取工作台上第一区域内晶圆的信息,调节工作台使晶圆进入第二采集机构的采集区域,经过第二采集机构获取工作台上第二区域内晶圆的信息,通过第二采集机构采集的信息,能够精准掌握划刀对晶圆的切割位置,切割出来的晶圆芯片相距的宽度均匀,不容易损坏晶圆芯片并且能够提高划切效率。率。率。

【技术实现步骤摘要】
一种划片定位装置、划片机及定位方法


[0001]本专利技术涉及半导体制造设备
,具体涉及一种划片定位装置、划片机及定位方法。

技术介绍

[0002]主要针对砷化镓、磷化铟材质的光通信芯片晶圆在使用前需要进行切割。
[0003]在切割过程中,需要使用划刀对晶圆进行划切,在划切过程中,需要将晶圆上划切线与划切刀的位置进行固定。
[0004]在现有技术中,划刀对切割位置无法准确把握,切割出来的晶圆芯片相距的宽度比较大,不均匀,很容易损坏晶圆芯片,效率低下。

技术实现思路

[0005]因此,本专利技术提供一种划片机定位结构,包括:
[0006]底座,所述底座上设置有适于放置晶圆的工作台;所述工作台相对于底座可在不同的方向上移动;
[0007]第一采集机构,设置在安装座上;所述第一采集机构能够获取工作台上第一区域内晶圆的信息;
[0008]第二采集机构,设置在安装座上;所述第二采集机构能够获取工作台上第二区域内晶圆的信息;所述第二区域包含于所述第一区域内。
[0009]作为优选方案,所本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种划片定位装置,其特征在于,包括:底座(1),所述底座(1)上设置有适于放置晶圆的工作台(4);所述工作台(4)相对于底座(1)可在不同的方向上移动;第一采集机构(2),设置在安装座上;所述第一采集机构(2)能够获取工作台(4)上第一区域内晶圆的信息;第二采集机构(3),设置在安装座上;所述第二采集机构(3)能够获取工作台(4)上第二区域内晶圆的信息;所述第二区域包含于所述第一区域内。2.根据权利要求1所述的划片定位装置,其特征在于,所述底座(1)设置有光源;所述工作台(4)为透光材质;所述光源配合所述第一采集机构(2)使用。3.根据权利要求1所述的划片定位装置,其特征在于,所述第一采集机构(2)通过第一调节机构可移动的设置在所述安装座上;所述第二采集机构(3)通过第二调节机构可移动的设置在所述安装座上。4.根据权利要求3所述的划片定位装置,其特征在于,所述第一调节机构包括:活动板(5),与第一采集机构(2)固定连接;所述活动板(5)上设有滑槽,所述活动板(5)与安装座通过滑槽滑动连接。5.根据权利要求3所述的划片定位装置,其特征在于,所述第二调节机构包括:第一方向调节组,包括第一滑板(9)与第一固定板(8),所述第一安装板固定安装在固定板上,所述第一滑板(9)滑动设置在所述第一固定板(8)上;第二方向调节组,包括第二滑板(11)与第二固定板(10),所述第二固定板(10)固定安装在所述第一滑板(9)上,所述第二滑板(11)滑动安装在所述第二固定板(10)上;第三方向调节组,包括第三滑板(7)与第三固定板(6),所述第三固定板(6)固定安装在所述第二滑板(11)上,所述第三滑板(7)滑动安装在第三固定板(6),所述第三滑板(7)与第二采集机构(3)固定连接。6.根据权利要求1所述的划片定位装置,其特征在于,所述工作台(4)通过调节组件相对于所述底座(1)在第一方向移动、第二方向移动和做旋转运动;所述第一方向和所述第二方向在水平面上垂直设置。7...

【专利技术属性】
技术研发人员:马修远刘亚洲韩凯乐徐虎子周子博
申请(专利权)人:河北圣昊光电科技有限公司
类型:发明
国别省市:

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