一种芯片测试分选机用送料装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术涉及芯片测试技术领域，公开一种芯片测试分选机用送料装置。所述芯片测试分选机用送料装置包括料箱、调距组件和送料组件，料箱被配置为放置有封装管，调距组件包括调距斜梯、转动件、第一挡杆和第二挡杆，调距斜梯的一端与料箱连通，转动件可摇摆地设置于调距斜梯上，转动件的一端与第一挡杆连接，另一端与第二挡杆，第一挡杆和第二挡杆之间能够容纳一个封装管，送料组件与调距斜梯的另一端连通。转动件摇摆，带动第一挡杆和第二挡杆摇摆，以便只有一个封装管进入第一挡杆和第二挡杆之间，然后再进入送料组件上运输。调距组件的设置，起到调整封装管的运输间距的作用，便于分选工作的进行，提高分选的效率和准确率。提高分选的效率和准确率。提高分选的效率和准确率。

A feeding device for chip test sorter

【技术实现步骤摘要】
一种芯片测试分选机用送料装置


[0001]本技术涉及芯片测试
，尤其涉及一种芯片测试分选机用送料装置。

技术介绍

[0002]芯片测试分选机是一种用于测试芯片、筛选出良次品的分选设备，对芯片的良率起到很大的作用。在芯片分选的过程中，芯片装载于封装管中，封装管置于料箱中，送料时，将封装管从料箱中取出，通过输送封装管来实现输送芯片的目的。但是，各封装管的运输间距不均匀，给分选带来了不便，影响分选效率和准确率。
[0003]因此，亟需提供一种芯片测试分选机用送料装置，以解决上述问题。

技术实现思路

[0004]基于以上所述，本技术的目的在于提供一种芯片测试分选机用送料装置，以解决因封装管的运输间距不均匀而导致的分选效率低、分选准确率低的问题。
[0005]为达上述目的，本技术采用以下技术方案：
[0006]一种芯片测试分选机用送料装置，包括：
[0007]料箱，其被配置为放置有封装管；
[0008]调距组件，其包括调距斜梯、转动件、第一挡杆和第二挡杆，所述调距斜梯的一端与所述料箱连通，所述转动本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种芯片测试分选机用送料装置，其特征在于，包括：料箱(1)，其被配置为放置有封装管(2)；调距组件(3)，其包括调距斜梯(31)、转动件(33)、第一挡杆(34)和第二挡杆(35)，所述调距斜梯(31)的一端与所述料箱(1)连通，所述转动件(33)可摇摆地设置于所述调距斜梯(31)上，所述转动件(33)的一端与所述第一挡杆(34)连接，另一端与所述第二挡杆(35)，所述第一挡杆(34)和所述第二挡杆(35)之间能够容纳一个所述封装管(2)；送料组件(4)，其与所述调距斜梯(31)的另一端连通。2.根据权利要求1所述的芯片测试分选机用送料装置，其特征在于，所述调距组件(3)还包括凸轮(32)，所述凸轮(32)可转动设置，所述凸轮(32)的外轮廓能够与所述转动件(33)抵接。3.根据权利要求1所述的芯片测试分选机用送料装置，其特征在于，所述调距斜梯(31)包括调距底板(311)，所述封装管(2)移动设置于所述调距底板(311)上，所述调距底板(311)上开设有通槽(313)，所述第二挡杆(35)能够穿过所述通槽(313)。4.根据权利要求1所述的芯片测试分选机用送料装置，其特征在于，所述芯片测试分选机用送料装置还包括推料组件(5)，所述推料组件(5)包括推板(51)，所述推板(51)能够将所述封装管(2)推入所述调距斜梯(31)内。5.根据权利...

【专利技术属性】
技术研发人员：马云龙，程莹，
申请(专利权)人：辇芯天津科技有限公司，
类型：新型
国别省市：