一种高温反偏试验系统技术方案

本实用新型专利技术涉及芯片测试技术领域，公开一种高温反偏试验系统。所述高温反偏试验系统包括底座、控温箱、固定组件和测试组件，控温箱安装于底座，固定组件设置于控温箱内，固定组件包括固定座和活动座，固定座固定安装于底座，活动座可滑动地设置于底座，固定座和活动座卡接芯片，测试组件包括电源箱、测试箱、接电组件和检测组件，接电组件包括电极柱，检测组件包括检测柱，电极柱和检测柱均可升降地设置于控温箱内，电极柱能够分别与电源箱和芯片的电极插口电连接，检测柱能够分别与测试箱和芯片的测试口电连接。测试组件的设置，通过升降电极柱和检测柱来实现导电连接，可避免人工操作的不确定性，减少了试验的误差次数，提高试验的准确度。准确度。准确度。

【技术实现步骤摘要】
一种高温反偏试验系统


[0001]本技术涉及芯片测试
，尤其涉及一种高温反偏试验系统。

技术介绍

[0002]众所周知，芯片由若干个晶体管构成。为了评定晶体管经长时间施加电应力和温度应力作用的能力，需要在出厂前对芯片进行老炼试验，以达到筛选的目的，保证芯片的可靠性。高温反偏试验是老炼试验的一种，是常见的用于芯片可靠性评估的试验。但是，现有的高温反偏试验多为人工手动连接导电，由于人工操作的不确定性，可能会出现试验的误差，降低试验的准确度。
[0003]因此，亟需提供一种高温反偏试验系统，以解决上述问题。

技术实现思路

[0004]基于以上所述，本技术的目的在于提供一种高温反偏试验系统，以解决现有的高温反偏试验系统因人工手动连接导电而导致的试验准确度不高的问题。
[0005]为达上述目的，本技术采用以下技术方案：
[0006]一种高温反偏试验系统，包括：
[0007]底座；
[0008]控温箱，其安装于所述底座上；
[0009]固定组件，其设置于所述控温箱内，所述固定组件包括固定座和活动座，所述固定座固定安装于所述底座上，所述活动座可滑动地设置于所述底座上，所述固定座和所述活动座被配置为卡接芯片；
[0010]测试组件，其包括电源箱、测试箱、接电组件和检测组件，所述接电组件包括电极柱，所述检测组件包括检测柱，所述电极柱和所述检测柱均可升降地设置于所述控温箱内，所述电极柱能够分别与所述电源箱和所述芯片的电极插口电连接，所述检测柱能够分别与所述测试箱和所述芯片的测试口电连接。
[0011]进一步地，所述接电组件还包括接电座，所述接电座可升降地设置于所述控温箱内，所述电极柱安装于所述接电座上。
[0012]进一步地，所述接电座上开设有接电口，所述接电口能够分别与所述电源箱和所述电极柱电连接。
[0013]进一步地，所述控温箱上开设有接电孔，所述接电孔能够与所述接电口正对连通，所述电源箱的插头能够穿过所述接电孔，并与所述接电口连接。
[0014]进一步地，所述接电组件还包括接电气缸，所述接电气缸安装于所述控温箱外，所述接电气缸的伸缩端与所述接电座连接。
[0015]进一步地，所述底座上开设有滑槽，所述固定组件还包括滑块，所述滑块与所述活动座连接，所述滑块可滑动地设置于所述滑槽内。
[0016]进一步地，所述固定组件还包括弹簧，所述弹簧的一端与所述滑块连接，另一端与
所述滑槽的槽壁连接。
[0017]进一步地，所述固定组件还包括滑杆，所述滑杆安装于所述滑槽内，所述滑块可滑动地设置于所述滑杆内，所述弹簧套设于所述滑杆上。
[0018]进一步地，所述固定组件还包括伸缩垫板，所述伸缩垫板的固定端与所述固定座连接，所述伸缩垫板的伸缩端与所述活动座连接，所述芯片支撑于所述伸缩垫板上。
[0019]进一步地，所述固定座上开设有第一卡槽，所述活动座上开设有第二卡槽，所述芯片卡接于所述第一卡槽和所述第二卡槽内。
[0020]本技术的有益效果为：
[0021]本技术提供的高温反偏试验系统包括底座、控温箱、固定组件和测试组件，控温箱安装于底座上，固定组件设置于控温箱内，固定组件包括固定座和活动座，固定座固定安装于底座上，活动座可滑动地设置于底座上，固定座和活动座被配置为卡接芯片，测试组件包括电源箱、测试箱、接电组件和检测组件，接电组件包括电极柱，检测组件包括检测柱，电极柱和检测柱均可升降地设置于控温箱内，电极柱能够分别与电源箱和芯片的电极插口电连接，检测柱能够分别与测试箱和芯片的测试口电连接。通过固定组件固定芯片，然后分别升降电极柱和检测柱，使得电极柱与芯片的电极插口电连接，也使得检测柱与芯片的测试口电连接。电源箱通过电极柱实现与芯片电连接的回路，测试箱通过检测柱实现与芯片的电连接的测试回路，检测柱能够测试芯片表面的漏电流，根据测试得到的漏电流的大小，来剔除存在表面效应缺陷的芯片，以保证芯片的出厂质量。测试组件的设置，通过升降电极柱和检测柱来实现导电连接，可避免人工操作的不确定性，减少了试验的误差次数，提高试验的准确度。
附图说明
[0022]为了更清楚地说明本技术实施方式的技术方案，下面将对实施方式描述中所需要使用的附图作简单介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本技术的一些实施方式，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。其中：
[0023]图1是本技术具体实施方式提供的高温反偏试验系统的主视图；
[0024]图2是本技术具体实施方式提供的高温反偏试验系统的剖视图。
[0025]图中：
[0026]1‑
底座；2
‑
控温箱；3
‑
固定组件；4
‑
测试组件；5
‑
芯片；
[0027]11
‑
滑槽；21
‑
箱体；22
‑
箱门；31
‑
固定座；32
‑
活动座；33
‑
滑块；34
‑
伸缩垫板；35
‑
滑杆；36
‑
弹簧；41
‑
电源箱；42
‑
测试箱；43
‑
接电组件；44
‑
检测组件；51
‑
电极插口；52
‑
测试口；53
‑
芯片主体；54
‑
卡接部；
[0028]221
‑
接电孔；222
‑
检测孔；311
‑
第一卡槽；321
‑
第二卡槽；431
‑
接电座；432
‑
电极柱；433
‑
接电口；434
‑
接电气缸；435
‑
安装座；441
‑
检测座；442
‑
检测柱；443
‑
检测口；444
‑
检测气缸；445
‑
连接座。
具体实施方式
[0029]下面结合附图和实施方式对本技术作进一步的详细说明。可以理解的是，此
处所描述的具体实施方式仅仅用于解释本技术，而非对本技术的限定。另外还需说明的是，为了便于描述，附图中仅示出了与本技术相关的部分而非全部结构。
[0030]在本技术的描述中，除非另有明确的规定和限定，术语“相连”、“连接”、“固定”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，可以是机械连接，也可以是电连接，可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本实用本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种高温反偏试验系统，其特征在于，包括：底座(1)；控温箱(2)，其安装于所述底座(1)上；固定组件(3)，其设置于所述控温箱(2)内，所述固定组件(3)包括固定座(31)和活动座(32)，所述固定座(31)固定安装于所述底座(1)上，所述活动座(32)可滑动地设置于所述底座(1)上，所述固定座(31)和所述活动座(32)被配置为卡接芯片(5)；测试组件(4)，其包括电源箱(41)、测试箱(42)、接电组件(43)和检测组件(44)，所述接电组件(43)包括电极柱(432)，所述检测组件(44)包括检测柱(442)，所述电极柱(432)和所述检测柱(442)均可升降地设置于所述控温箱(2)内，所述电极柱(432)能够分别与所述电源箱(41)和所述芯片(5)的电极插口(51)电连接，所述检测柱(442)能够分别与所述测试箱(42)和所述芯片(5)的测试口(52)电连接。2.根据权利要求1所述的高温反偏试验系统，其特征在于，所述接电组件(43)还包括接电座(431)，所述接电座(431)可升降地设置于所述控温箱(2)内，所述电极柱(432)安装于所述接电座(431)上。3.根据权利要求2所述的高温反偏试验系统，其特征在于，所述接电座(431)上开设有接电口(433)，所述接电口(433)能够分别与所述电源箱(41)和所述电极柱(432)电连接。4.根据权利要求3所述的高温反偏试验系统，其特征在于，所述控温箱(2)上开设有接电孔(221)，所述接电孔(221)能够与所述接电口(433)正对连通，所述电源箱(41)的插头能够穿过所述接...

【专利技术属性】
技术研发人员：马云龙，程莹，
申请(专利权)人：辇芯天津科技有限公司，
类型：新型
国别省市：