一种芯片验证系统、方法、电子设备及存储介质技术方案

本发明专利技术公开了一种芯片验证系统、方法、电子设备及存储介质，芯片验证系统包括：测试装置和验证平台；测试装置包括测试模块和虚拟物理驱动模块，验证平台包括实体物理驱动模块；测试模块用于根据验证平台的启动信息发送测试驱动信息至虚拟物理驱动模块；虚拟物理驱动模块用于将测试驱动信息发送至实体物理驱动模块，实体物理驱动模块用于根据测试驱动信息驱动待测芯片；虚拟物理驱动模块还用于通过实体物理驱动模块获取待测芯片的测试信息，并根据测试信息验证待测芯片。本发明专利技术实施例的技术方案达到了提高测试装置的复用性的效果，并降低了测试装置中测试序列的迁移成本。低了测试装置中测试序列的迁移成本。低了测试装置中测试序列的迁移成本。

A chip verification system, method, electronic device and storage medium

【技术实现步骤摘要】
一种芯片验证系统、方法、电子设备及存储介质


[0001]本专利技术实施例涉及芯片
，尤其涉及一种芯片验证系统、方法、电子设备及存储介质。

技术介绍

[0002]随着集成电路设计规模越来越大，复杂度越来越高，相应的验证方法学也随之越来越丰富。芯片功能验证伴随在芯片从硅前验证到硅后验证的整个生命周期中，每个阶段使用的验证平台和验证手段也不尽相同。
[0003]目前，对不同的验证阶段或验证平台，要实现测试用例的跨平台复用，往往需要改变测试用例结构，改变测试检查手段等，使得测试序列的迁移成本较高而降低了一定的复用性。

技术实现思路

[0004]本专利技术提供了一种芯片验证系统、方法、电子设备及存储介质，以实现降低测试装置中测试序列的迁移成本，提高测试装置的复用性。
[0005]根据本专利技术的第一方面，提供了一种芯片验证系统，该芯片验证系统包括：测试装置和验证平台；所述测试装置包括测试模块和虚拟物理驱动模块，所述验证平台包括实体物理驱动模块；
[0006]所述测试模块用于根据所述验证平台的启动信息发送测试驱动信息至所述虚拟物理驱动模块；
[0007]所述虚拟物理驱动模块用于将所述测试驱动信息发送至所述实体物理驱动模块，所述实体物理驱动模块用于根据所述测试驱动信息驱动待测芯片；
[0008]所述虚拟物理驱动模块还用于通过所述实体物理驱动模块获取所述待测芯片的测试信息，并根据所述测试信息验证所述待测芯片。
[0009]可选地，所述测试模块包括：测试序列单元和测试用例单元；所述测试序列单元包括多个测试序列；
[0010]所述测试用例单元用于根据所述启动信息从所述测试序列单元中选择相应的所述测试序列，所述测试序列用于发送所述测试驱动信息。
[0011]可选地，所述虚拟物理驱动模块包括：
[0012]数据配置接口单元，用于通过所述实体物理驱动模块向所述待测芯片发送测试驱动信息。
[0013]可选地，所述虚拟物理驱动模块还包括：
[0014]数据检查接口单元，用于将所述待测芯片的测试信息与预设信息进行对比，以验证所述待测芯片。
[0015]可选地，所述虚拟物理驱动模块还包括：
[0016]日志管理接口单元，用于显示所述数据检查接口单元对所述待测芯片的验证结
果。
[0017]可选地，所述虚拟物理驱动模块还包括：
[0018]外部交互接口单元，用于获取所述测试模块发送的测试驱动信息，并将所述测试驱动信息发送至所述实体物理驱动模块，还用于获取所述待测芯片的测试信息。
[0019]可选地，所述验证平台还包括启动模块；
[0020]所述启动模块用于发送所述启动信息至所述测试模块。
[0021]根据本专利技术的第二方面，提供了一种芯片验证方法，该芯片验证方法由第一方面任意所述的芯片验证系统实现，所述芯片验证系统包括：测试装置和验证平台；所述测试装置包括测试模块和虚拟物理驱动模块，所述验证平台包括实体物理驱动模块；
[0022]所述芯片验证方法包括：
[0023]所述测试模块根据所述验证平台的启动信息发送测试驱动信息至所述虚拟物理驱动模块；
[0024]所述虚拟物理驱动模块将所述测试驱动信息发送至所述实体物理驱动模块，所述实体物理驱动模块根据所述测试驱动信息驱动待测芯片；
[0025]所述虚拟物理驱动模块通过所述实体物理驱动模块获取所述待测芯片的测试信息，并根据所述测试信息验证所述待测芯片。
[0026]根据本专利技术的第三方面，提供了一种电子设备，所述电子设备包括：
[0027]至少一个处理器；以及
[0028]与所述至少一个处理器通信连接的存储器；其中，
[0029]所述存储器存储有可被所述至少一个处理器执行的计算机程序，所述计算机程序被所述至少一个处理器执行，以使所述至少一个处理器能够执行本专利技术任一实施例所述的芯片验证方法。
[0030]根据本专利技术的第四方面，提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机指令，所述计算机指令用于使处理器执行时实现本专利技术任一实施例所述的芯片验证方法。
[0031]本专利技术实施例的技术方案，在对待测芯片进行验证时，验证平台根据待测芯片的特征发出相应的启动信息，测试模块接收到启动信息后，调用相应的测试序列，使得测试模块可以根据待测芯片的特征发出相应的测试驱动信息至虚拟物理驱动模块，虚拟物理驱动模块通过实体物理驱动模块发送测试驱动信息至待测芯片，使得待测芯片可以工作，虚拟物理驱动模块就可以通过实体物理驱动模块获取待测芯片的测试信息，虚拟物理驱动模块将待测芯片的测试信息与预设信息进行对比，就可以对待测芯片进行验证。测试模块可以根据需要测试的芯片的电路功能对测试序列进行分类，将同类功能的测试序列进行打包，以便测试模块可以根据待测芯片的特征发送相应的测试驱动信息至虚拟物理驱动模块，使得测试模块可以满足不同待测芯片的验证需求，实现不同功能的测试验证，以完成待测芯片在各种场景下的测试激励。并且通过将虚拟物理驱动模块和实体物理驱动模块进行分离，虚拟物理驱动模块和测试模块组成了跨平台复用的测试装置，使得测试装置可以满足不同验证平台的需求，可以对不同的待测芯片进行测试和验证，从而使得不同验证平台可以共用一套测试装置，减少了测试装置中测试序列的迁移成本，提高了测试装置的复用性，也便于维护和后续扩展。本专利技术实施例的技术方案解决了对不同的验证阶段或验证平台，
要实现测试用例的跨平台复用，往往需要改变测试用例结构，改变测试检查手段等，使得测试序列的迁移成本较高而降低了一定的复用性的问题，达到了提高测试装置的复用性的效果，并降低了测试装置中测试序列的迁移成本。
[0032]应当理解，本部分所描述的内容并非旨在标识本专利技术的实施例的关键或重要特征，也不用于限制本专利技术的范围。本专利技术的其它特征将通过以下的说明书而变得容易理解。
附图说明
[0033]为了更清楚地说明本专利技术实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0034]图1是本专利技术实施例提供的一种芯片验证系统结构示意图；
[0035]图2是本专利技术实施例提供的另一种芯片验证系统结构示意图；
[0036]图3是本专利技术实施例提供的一种芯片验证方法的流程图；
[0037]图4是本专利技术实施例提供的另一种芯片验证方法的流程图；
[0038]图5是实现本专利技术实施例的芯片验证方法的电子设备的结构示意图。
具体实施方式
[0039]为了使本
的人员更好地理解本专利技术方案，下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分的实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种芯片验证系统，其特征在于，包括：测试装置和验证平台；所述测试装置包括测试模块和虚拟物理驱动模块，所述验证平台包括实体物理驱动模块；所述测试模块用于根据所述验证平台的启动信息发送测试驱动信息至所述虚拟物理驱动模块；所述虚拟物理驱动模块用于将所述测试驱动信息发送至所述实体物理驱动模块，所述实体物理驱动模块用于根据所述测试驱动信息驱动待测芯片；所述虚拟物理驱动模块还用于通过所述实体物理驱动模块获取所述待测芯片的测试信息，并根据所述测试信息验证所述待测芯片。2.根据权利要求1所述的芯片验证系统，其特征在于，所述测试模块包括：测试序列单元和测试用例单元；所述测试序列单元包括多个测试序列；所述测试用例单元用于根据所述启动信息从所述测试序列单元中选择相应的所述测试序列，所述测试序列用于发送所述测试驱动信息。3.根据权利要求1所述的芯片验证系统，其特征在于，所述虚拟物理驱动模块包括：数据配置接口单元，用于通过所述实体物理驱动模块向所述待测芯片发送测试驱动信息。4.根据权利要求1所述的芯片验证系统，其特征在于，所述虚拟物理驱动模块还包括：数据检查接口单元，用于将所述待测芯片的测试信息与预设信息进行对比，以验证所述待测芯片。5.根据权利要求4所述的芯片验证系统，其特征在于，所述虚拟物理驱动模块还包括：日志管理接口单元，用于显示所述数据检查接口单元对所述待测芯片的验证结果。6.根据权利要求1所述的芯片验证系统，其特征在于，所述虚拟物理驱动模块还包括：外部交...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈雪煜，
申请(专利权)人：北京燧原智能科技有限公司，
类型：发明
国别省市：