一种芯片验证系统、方法、电子设备及存储介质技术方案

本发明专利技术公开了一种芯片验证系统、方法、电子设备及存储介质，芯片验证系统包括：测试装置和验证平台；测试装置包括测试模块和虚拟物理驱动模块，验证平台包括实体物理驱动模块；测试模块用于根据验证平台的启动信息发送测试驱动信息至虚拟物理驱动模块；虚拟物理驱动模块用于将测试驱动信息发送至实体物理驱动模块，实体物理驱动模块用于根据测试驱动信息驱动待测芯片；虚拟物理驱动模块还用于通过实体物理驱动模块获取待测芯片的测试信息，并根据测试信息验证待测芯片。本发明专利技术实施例的技术方案达到了提高测试装置的复用性的效果，并降低了测试装置中测试序列的迁移成本。低了测试装置中测试序列的迁移成本。低了测试装置中测试序列的迁移成本。

A chip verification system, method, electronic device and storage medium

【技术实现步骤摘要】
一种芯片验证系统、方法、电子设备及存储介质


[0001]本专利技术实施例涉及芯片
，尤其涉及一种芯片验证系统、方法、电子设备及存储介质。

技术介绍

[0002]随着集成电路设计规模越来越大，复杂度越来越高，相应的验证方法学也随之越来越丰富。芯片功能验证伴随在芯片从硅前验证到硅后验证的整个生命周期中，每个阶段使用的验证平台和验证手段也不尽相同。
[0003]目前，对不同的验证阶段或验证平台，要实现测试用例的跨平台复用，往往需要改变测试用例结构，改变测试检查手段等，使得测试序列的迁移成本较高而降低了一定的复用性。

技术实现思路

[0004]本专利技术提供了一种芯片验证系统、方法、电子设备及存储介质，以实现降低测试装置中测试序列的迁移成本，提高测试装置的复用性。
[0005]根据本专利技术的第一方面，提供了一种芯片验证系统，该芯片验证系统包括：测试装置和验证平台；所述测试装置包括测试模块和虚拟物理驱动模块，所述验证平台包括实体物理驱动模块；
[0006]所述测试模块用于根据所述验证平台的启动信息发送测试驱本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种芯片验证系统，其特征在于，包括：测试装置和验证平台；所述测试装置包括测试模块和虚拟物理驱动模块，所述验证平台包括实体物理驱动模块；所述测试模块用于根据所述验证平台的启动信息发送测试驱动信息至所述虚拟物理驱动模块；所述虚拟物理驱动模块用于将所述测试驱动信息发送至所述实体物理驱动模块，所述实体物理驱动模块用于根据所述测试驱动信息驱动待测芯片；所述虚拟物理驱动模块还用于通过所述实体物理驱动模块获取所述待测芯片的测试信息，并根据所述测试信息验证所述待测芯片。2.根据权利要求1所述的芯片验证系统，其特征在于，所述测试模块包括：测试序列单元和测试用例单元；所述测试序列单元包括多个测试序列；所述测试用例单元用于根据所述启动信息从所述测试序列单元中选择相应的所述测试序列，所述测试序列用于发送所述测试驱动信息。3.根据权利要求1所述的芯片验证系统，其特征在于，所述虚拟物理驱动模块包括：数据配置接口单元，用于通过所述实体物理驱动模块向所述待测芯片发送测试驱动信息。4.根据权利要求1所述的芯片验证系统，其特征在于，所述虚拟物理驱动模块还包括：数据检查接口单元，用于将所述待测芯片的测试信息与预设信息进行对比，以验证所述待测芯片。5.根据权利要求4所述的芯片验证系统，其特征在于，所述虚拟物理驱动模块还包括：日志管理接口单元，用于显示所述数据检查接口单元对所述待测芯片的验证结果。6.根据权利要求1所述的芯片验证系统，其特征在于，所述虚拟物理驱动模块还包括：外部交...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈雪煜，
申请(专利权)人：北京燧原智能科技有限公司，
类型：发明
国别省市：