本发明专利技术公开一种阻抗校正电路，用来校正一半导体元件的等效阻抗。该阻抗校正电路包含有：一参考电路，包含有一参考元件以及一第一元件，用来接收一测试信号并输出一第一信号；一第二元件，连接到该半导体元件，其中，该半导体元件与该第二元件构成一测试电路，该测试电路用来接收该测试信号并输出一第二信号；以及，一控制电路，连接到参考电路与该测试电路，用来比较该第一与该第二信号以校正该半导体元件的等效阻抗。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术关于半导体元件的阻抗校正，特别是指一种用来校正一半导体元件的等效阻抗的。
技术介绍
电阻是在各式各样的电路中最常使用到的基本元件。在一般的电路中，有很多不同种类的电组可供设计者选择，但是在集成电路(integratedcircuit，IC)中，设置电阻通常会消耗太多的集成电路面积，因此一般而言都会尽量使用有源元件的特性来取代真实电阻，以有源元件来提供电路所需的等效阻抗。然而，有源元件的特性除了会受到制造工艺误差(process variation)的影响之外，环境参数的变化也常常会造成有源元件特性产生大幅的改变，例如当温度变化时，有源元件所能提供的等效阻抗的值就会产生不小的变动，这对电路的工作难免会造成一定程度的影响，因此电路设计者必须使用特殊的电路来对有源元件的等效组抗进行适当的校正工作。
技术实现思路
因此本专利技术的一个目的在于提供一种用来校正一有源元件的等效组抗的。本专利技术一实施例中所公开的阻抗校正电路用来校正一半导体元件的等效阻抗，该阻抗校正电路包含有一参考电路、一第二元件、以及一控制电路。该参考电路包含有一参考元件以及一第一元件，用来接收一测试信号并输出一第一信号；该第二元件连接到该半导体元件，其中，该半导体元件与该第二元件构成一测试电路，该测试电路用来接收该测试信号并输出一第二信号；该控制电路则连接到参考电路与该测试电路，用来比较该第一与该第二信号以校正该半导体元件的等效阻抗。本专利技术一实施例中所公开的方法则用来以一阻抗校正电路来校正一半导体元件的等效阻抗。其中，该阻抗校正电路包含有一参考电路以及一测试电路，该测试电路包含有该半导体元件。该方法包含有以下步骤输入一测试信号到该参考电路与该测试电路；比较该参考电路所输出的一第一信号与该测试电路所输出的一第二信号；以及，根据比较的结果校正该半导体元件的等效阻抗。附图说明图1为本专利技术的阻抗校正电路的第一实施例示意图。图2为本专利技术的阻抗校正电路的第二实施例示意图。图3为本专利技术的等效阻抗校正方法的一实施例流程图。附图符号说明100、200 阻抗校正电路110、210 参考电路115 参考元件120、140 电容130、230 测试电路135 半导体元件150 比较器170 控制器具体实施方式请参阅图1，图1为本专利技术的阻抗校正电路的第一实施例示意图。图1中的阻抗校正电路100用来校正半导体元件135的等效阻抗，于本实施例中，半导体元件135为一MOS晶体管。阻抗校正电路100包含有一参考电路110，由一参考元件115以及一第一电容120所组成；一第二电容140，其中半导体元件135与第二电容140构成一测试电路130；一比较器150；以及一控制器170。本
的技术人员应可理解，于制造技术中对于半导体电容的参数控制相对来说较为精确，故于本实施例中将第一电容120及第二电容140设计为具有相同的电容值。欲对半导体元件135的等效阻抗进行校正时，首先阻抗校正电路100会于参考电路110与测试电路130的输入端输入一测试信号Vtest，经由参考电路110与测试电路130的电路特性(本实施例为低通滤波器的特性)，这两个电路会分别输出一第一信号V1以及一第二信号V2。假设于本实施例中欲将半导体元件135的等效阻抗校正为与参考元件115的等效阻抗相同，故第一信号V1应该要等于第二信号V2。然而，由于制造工艺误差或是环境参数的变化等因素，很可能造成半导体元件135的等效阻抗并不等于参考元件115的等效阻抗，因此参考电路110所输出的第一信号V1就会不同于测试电路130所输出的第二信号V2，此时比较器150会检测出第一信号V1与第二信号V2之间的差异，而通过控制器170根据比较器150的比较结果来调节半导体元件135的等效阻抗(于本实施例中改变半导体元件135栅极上的电位)，直到第一信号V1相等于第二信号V2，此时半导体元件135的等效阻抗即相等于参考元件115的等效阻抗。本实施例中将第一电容120及第二电容140设计为具有相同的电容值，然而本
的技术人员应可理解，亦可将第一电容120及第二电容140设计为具有一比例关系，由于第一信号V1与第二信号V2的信号值于本实施例中分别相关于参考电路110及测试电路130的RC低通特性，因此比较器150及控制器170则可根据这一比例关系以及参考元件115的阻抗值来对半导体元件135的等效阻抗值进行调节。此外，阻抗校正电路100亦可以利用数个开关(未绘示于图1的中)，于完成半导体元件135的校正之后，将半导体元件135与阻抗校正电路100的电连接切断，而将其连接回原先在实际电路中的位置。因此若电路中包含有多个用来提供相似阻抗特性的半导体元件135时，仅需使用同一个阻抗校正电路100，配合适当设计的开关电路，即可依序对多个半导体元件135的等效阻抗进行校正，如此则针对多个半导体元件进行阻抗校正的操作时仅需要一个阻抗校正电路，降低了电路设计的复杂度。在前述本专利技术的第一个实施例中，参考电路110与测试电路130均具有低通滤波器的电路结构，然而实际上电路设计者亦可以使用其他种类的电路结构来作为本专利技术中的参考电路与测试电路，举例来说，高通滤波器。请参阅图2，图2为本专利技术的阻抗校正电路的第二实施例示意图。图2的阻抗校正电路200与图1的阻抗校正电路100两个电路主要的不同点在于图1中的参考电路110与测试电路130均具有低通滤波器的电路结构，然而，图2中的参考电路210与测试电路230则具有高通滤波器的电路结构。除此之外，图1与图2中电路的基本工作原理与功效大致相同，故在此不多作赘述。同样地，若电路中包含有多个用来提供相似电阻特性的半导体元件135时，仅需使用同一个图2所示的阻抗校正电路200，配合适当设计的开关电路，阻抗校正电路200就可以依序对多个半导体元件135的等效阻抗进行校正。虽然在图1与图2的两个例子中都是以电阻、电容所组成的滤波器结构来作为参考电路与测试电路，然而本
的技术人员应可理解，其他种类由各种有源、无源元件所组成的电路结构亦是可行的。只要在输入相同的测试信号时，比较器能够检测出参考电路与测试电路所输出信号之间的差异，并通过控制器校正半导体元件的等效阻抗，即符合本专利技术的精神及所欲保护的范围内。接下来则请参阅图3，图3为本专利技术所提出的等效阻抗校正方法的一实施例流程图，可利用本专利技术图1及图2中的实施例所公开的阻抗校正电路100或200来进行半导体元件的等效阻抗的效正操作。以下将详述图3中的各个步骤步骤310输入一测试信号到该参考电路与该测试电路。步骤320比较该参考电路所输出的一第一信号与该测试电路所输出的一第二信号。步骤330根据比较的结果来校正该半导体元件的等效阻抗。其中，若该第二信号不等于该第一信号，则调节该半导体元件的等效阻抗，以使得该第二信号趋近于该第一信号。以上所述仅为本专利技术的较佳实施例，凡依本专利技术权利要求所进行的等效变化与修改，均应属本专利技术的涵盖范围。权利要求1.一种阻抗校正电路，用来校正一半导体元件的等效阻抗，该阻抗校正电路包含有一参考电路，包含有一参考元件以及一第一元件，用来接收一测试信号并输出一第一信号；一第二元件，连接到该半导体元件，其中，该半导体元件本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种阻抗校正电路，用来校正一半导体元件的等效阻抗，该阻抗校正电路包含有：一参考电路，包含有一参考元件以及一第一元件，用来接收一测试信号并输出一第一信号；一第二元件，连接到该半导体元件，其中，该半导体元件与该第二元件构成一测试 电路，该测试电路用来接收该测试信号并输出一第二信号；以及一控制电路，连接到参考电路与该测试电路，用来比较该第一与该第二信号以校正该半导体元件的等效阻抗。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：张家润，陈宗明，
申请(专利权)人：瑞昱半导体股份有限公司，
类型：发明
国别省市：71[中国|台湾]
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