一种多工位并行测试方法技术

本发明专利技术公开了一种多工位并行测试方法，本发明专利技术将工位根据测试时间和测试项目分群，每个工位群具有专用的影像测试设备，所有工位群通过切换电路分时复用直流数位测试设备。本发明专利技术提出分群并行式CIS测试流程概念，并行执行直流数位测试及影像测试，大幅减少测试设备闲置时间。本发明专利技术新增在影像测试时为芯片供电的芯片电源板卡，结合切换电路的控制时序及总线架构设计，以达成分群并行式测试的目的，在降低测试成本的同时缩短了测试时间。测试成本的同时缩短了测试时间。测试成本的同时缩短了测试时间。

【技术实现步骤摘要】
一种多工位并行测试方法


[0001]本专利技术涉及一种测试检测技术，具体涉及一种多工位并行测试方法。

技术介绍

[0002]CIS(CMOS Image Sensor，图像传感器)芯片的测试主要包括开路/短路预测试，测试直流电源功耗、输入输出信号特性等的直流数位测试及测试影像成像质量的影像测试。
[0003]直流数位测试会用到数字板卡及芯片电源板卡的测试设备，数字板卡用于测量芯片管脚的输入输出信号特性、是否有开路短路等，芯片电源板卡用于供电给芯片确保芯片正常工作并测量电流及电压；影像测试则会用到接收CIS的影像资料的影像抓取卡(Image Capture Card)及通过软件判断CIS 成像质量的设备如个人计算机。
[0004]两种测试所用的测试设备截然不同，因此测试时也会分成两阶段执行。典型的作法是先做直流数位测试后做影像测试，循序执行，其测试流程时间顺序图如图1所示。从图1也可以看到直流数位测试设备及影像测试设备在不同的测试项目存在设备闲置现象。
[0005]为了满足芯片制造商提升单位时间、单位面积生产量的需求，测试设备商开发出多工位(Multi
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site)并测的CIS测试设备，工位数目目前主流为16工位(同时并测16颗CIS芯片)或32工位(同时并测32颗CIS芯片)，甚至有厂商做到80工位(同时并测80颗CIS芯片)，通过提高并测数来提高同一台设备的单位小时产出量，期在不牺牲品质的基础上达到降低测试成本的效果，目前这类做法是行业当前的主流做法。
[0006]但是提高并测数来提高同一台设备的输出量虽然提升了生产量的需求，但也造成CIS测试设备的成本高涨，特别是数字板卡、芯片电源板卡更是昂贵，造成测试成本居高不下。在不降低并测工位数的条件下降低设备成本的方法之一是将测试设备分时使用，例如将并测的工位分为两群分别为工位群A及工位群B，再利用切换电路，分时使用测试设备，先测试工位群A，之后再测试工位群B，将该方式称之为分群序列式CIS测试，图2所示为分群序列式CIS测试的时间顺序图。
[0007]图2所示的分群序列式CIS测试的测试设备，因为测试设备硬件只用到一半，就算加入切换电路成本，确实会大幅降低测试设备成本，但是CIS的测试时间也会增长一倍(一般切换电路速度极快，可忽略不予计算)，因此单位时间产量会减少一半，每一颗CIS芯片的实际平均测试成本并没有降低，从图2也可以看出根本原因还是存在测试设备闲置的现象，问题没有真正被有效解决。

技术实现思路

[0008]本专利技术针对现有技术的不足，提供一种多工位并行测试方法，在降低测试成本的同时缩短了测试时间。
[0009]本专利技术的目的是通过以下技术方案实现的：一种多工位并行测试方法，用于对图像传感器进行测试，包括：将工位根据测试时间和测试项目分群；
每个工位群具有专用的影像测试设备；所有工位群通过切换电路分时复用直流数位测试设备。
[0010]进一步地，分群数量根据数字板卡的数字通道数与被测图像传感器芯片的管脚数的倍数关系确定。
[0011]进一步地，分群数量K=(B x n)/(A x m)，其中B为图像传感器芯片的管脚数，n为工位数，A为数字板卡的数字通道数，m为数字板卡数量。
[0012]进一步地，在所述直流数位测试设备中设置与切换电路连接的芯片电源板卡A和芯片电源板卡B，分别用于在直流数位测试时为芯片供电、在影像测试时为芯片供电。
[0013]进一步地，所述切换电路包括数字板卡切换电路和芯片电源板卡切换电路，每个切换电路均通过不同的总线连接到不同的工位群。
[0014]进一步地，不同工位群并行执行开路/短路预测试、直流数位测试、影像测试。
[0015]进一步地，各工位群在一个测试周期内，先通过直流数位测试设备执行开路/短路预测试，再依次执行直流数位测试和影像测试，或者依次执行影像测试和直流数位测试。
[0016]进一步地，各工位群在全部执行完开路/短路预测试后，再分别执行直流数位测试/影像测试，或者，每个工位群执行完各自的开路/短路预测试后不等待，直接执行后续的直流数位测试/影像测试。
[0017]进一步地，最后完成开路/短路预测试的工位群，先执行直流数位测试，再执行影像测试。
[0018]进一步地，各工位群在一个测试周期内执行完全部测试后，等待其他工位群，所有工位群均执行完全部测试后，进入下一个测试周期，或者，允许各工位群在直流数位测试和影像测试转换时设置等待时间，使得所有工位群在一个测试周期内同时执行完全部测试，再进入下一个测试周期。
[0019]本专利技术的有益效果是：本专利技术提出分群并行式CIS测试流程概念，并行执行直流数位测试及影像测试，大幅减少测试设备闲置时间。本专利技术新增在影像测试时为芯片供电的芯片电源板卡，结合切换电路的控制时序及总线架构设计，以达成分群并行式测试的目的，在降低测试成本的同时缩短了测试时间。
附图说明
[0020]为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0021]图1是序列式CIS测试流程时间顺序图。
[0022]图2是分群序列式CIS测试流程时间顺序图。
[0023]图3是实施例1提供的分群并行式CIS测试流程时间顺序图。
[0024]图4是实施例1提供的分群并行式CIS测试信号路径图
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第一阶段，工位群A执行开路/短路预测试。
[0025]图5是实施例1提供的分群并行式CIS测试信号路径图
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第一阶段，工位群B执行开
路/短路预测试。
[0026]图6是实施例1提供的分群并行式CIS测试信号路径图
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第二阶段，工位群A执行影像测试，工位群B执行直流数位测试。
[0027]图7是实施例1提供的分群并行式CIS测试信号路径图
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第三阶段，工位群A、工位群B均执行影像测试。
[0028]图8是实施例1提供的分群并行式CIS测试信号路径图
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第四阶段，工位群A执行直流数位测试，工位群B执行影像测试。
[0029]图9是实施例2提供的分群并行式CIS测试流程时间顺序图。
[0030]图10是实施例3提供的分群并行式CIS测试流程时间顺序图。
[0031]图11是序列式CIS芯片实际测试时间示例。
[0032]图12是分群序列式CIS芯片计算测试时间示例。
[0033]图13是分群并行式CIS芯片实际测试时间示例。
具体实施方式
[0034]为了更好的理解本申请的技术方案，下面结合附图对本申请实施例进行详细描述。
[0035]应当明确，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种多工位并行测试方法，用于对图像传感器进行测试，包括：将工位根据测试时间和测试项目分群；每个工位群具有专用的影像测试设备；所有工位群通过切换电路分时复用直流数位测试设备。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，分群数量根据数字板卡的数字通道数与被测图像传感器芯片的管脚数的倍数关系确定。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，分群数量K=(B x n)/(A x m)，其中B为图像传感器芯片的管脚数，n为工位数，A为数字板卡的数字通道数，m为数字板卡数量。4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述直流数位测试设备中设置与切换电路连接的芯片电源板卡A和芯片电源板卡B，分别用于在直流数位测试时为芯片供电、在影像测试时为芯片供电。5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述切换电路包括数字板卡切换电路和芯片电源板卡切换电路，每个切换电路均通过不同的总线连接到不同的工位群。6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，不同工位群并行执行开路/短路预测试...

【专利技术属性】
技术研发人员：晏斌，
申请(专利权)人：浙江瑞测科技有限公司，
类型：发明
国别省市：