芯片测试装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供了一种芯片测试装置，其包括固定架、连接柱、夹持部以及间距调节组件。连接柱设置于固定架上，夹持部设置于固定架，夹持部包括多个夹持单元，夹持单元包括第一夹持部和第二夹持部，第一夹持部与第二夹持部之间形成用于夹持芯片管脚的开口，第一夹持部与第二夹持部中的一者与连接柱电连接，间距调节组件设置于固定架，间距调节组件包括第一调节组件和第二调节组件，第一调节组件与第二调节组件之间通过联动调节件连接，多个第一夹持部和第二夹持部分别连接于第一调节组件和第二调节组件。本发明专利技术实施例提供的芯片测试装置能够使芯片管脚与测试装置快速且有效实现电连接，降低操作难度。操作难度。操作难度。

【技术实现步骤摘要】
芯片测试装置


[0001]本专利技术属于电路测试
，尤其涉及一种芯片测试装置。

技术介绍

[0002]目前，在基站和通信产品的开发测试过程中，通常会使用到各种芯片，例如，通信芯片、电源芯片、ASIC芯片等。随着芯片制造工艺的提升，芯片的尺寸越来越小，管脚也越来越多，从几个到上百个不等，也造成了芯片管脚越来越密集，使得传统测试方法难以适应，在调测过程中很难快速有效的对特定管脚进行定位、测试。
[0003]因此，亟需一种新的芯片测试装置。

技术实现思路

[0004]本专利技术实施例提供了一种芯片测试装置，使芯片管脚与测试装置快速且有效实现电连接，以降低操作难度。
[0005]一方面，本专利技术实施例提供了一种芯片测试装置，包括固定架、连接柱、夹持部以及间距调节组件。其中，连接柱设置于固定架上，夹持部设置于固定架，夹持部包括多个夹持单元，夹持单元包括第一夹持部和第二夹持部，第一夹持部与第二夹持部之间形成用于夹持芯片管脚的开口，第一夹持部与第二夹持部中的一者与连接柱电连接，间距调节组件设置于固定架，间距调节组件包括第一调节组件和第二调节组件，第一调节组件与第二调节组件之间通过联动调节件连接，以使得第一调节组件与第二调节组件联动，多个第一夹持部和第二夹持部分别连接于第一调节组件和第二调节组件，以实现各个夹持单元中的第一夹持部与第二夹持部之间的分合。
[0006]根据本专利技术实施例的一个方面，第一夹持部和第二夹持部均沿第一方向延伸并且延伸出固定架一部分。
[0007]根据本专利技术实施例的一个方面，第一调节组件和第二调节组件上均设置有沿第一方向延伸的连接件，第一夹持部与第二夹持部分别通过连接件连接于第一调节组件和第二调节组件；第一调节组件与第二调节组件均包括多个调节单元，多个调节单元通过第一连接轴依次连接，连接件连接于第一连接轴上；调节单元包括第一连杆和第二连杆，第一连杆与第二连杆通过第二连接轴交叉连接。
[0008]根据本专利技术实施例的一个方面，联动调节件包括第一联动滑轨和第二联动滑轨，第一联动滑轨和第二联动滑轨的两侧均具有与第一连接轴相匹配的连接槽，第一连接轴插接于连接槽并与连接槽滑动配合。
[0009]根据本专利技术实施例的一个方面，固定架包括相对设置的第一固定板和第二固定板，第一调节组件与第二调节组件通过第二连接轴设置于第一固定板与第二固定板之间，第一固定板与第二固定板的内侧表面均具有沿第二方向延伸并与第二连接轴相匹配的限位槽，第二连接轴插接于限位槽与并限位槽滑动配合，第一方向与第二方向相交。
[0010]根据本专利技术实施例的一个方面，第一夹持部与第二夹持部均包括基座和夹持块，
其中，基座固定于连接件，基座与夹持块的一者设置有轴孔，另一者设置有与轴孔相匹配的转轴，转轴插接于轴孔与并轴孔转动配合。
[0011]根据本专利技术实施例的一个方面，基座与夹持块之间设置有弹性块，夹持块与弹性块接触连接，夹持块靠近弹性块的一端为偏心结构，以使夹持块转动时具有向芯片管脚靠近的回弹力；基座的两侧设置有限位块，以将夹持块限制于预设位置；第一夹持部与第二夹持部中与连接柱电连接的一者还包括电连接件，电连接件固定于夹持块朝向相邻的另一夹持块的一侧表面，另一夹持块为绝缘体。
[0012]根据本专利技术实施例的一个方面，第一调节组件进一步包括传动切换机构、第一传动齿条和第二传动齿条，传动切换机构设置于第二固定板且包括第一传动齿轮，第一传动齿轮与第一传动齿条啮合连接，以驱动第一传动齿条，第一传动齿条滑动连接于固定架的一内侧表面并与第二传动齿条通过对向齿轮啮合传动连接，以使第一传动齿条与第二传动齿条的移动方向相反，第一传动齿条与第二传动齿条中一者连接于第一调节组件的第一连杆，另一者连接于第一调节组件上位第二连杆；第一传动齿条一端设置有沿第二方向延伸的第一调节块，第二传动齿条远离第一调节块的一端设置有沿第二方向延伸的第二调节块，第一调节块和第二调节块中的一者活动连接于第一连杆，另一者活动连接于第二连杆；第一传动齿条与第一调节以及第二传动齿条与第二调节块均为一体式结构。
[0013]根据本专利技术实施例的一个方面，传动切换机构进一步包括第二传动齿轮、第一主动齿轮以及第二主动齿轮，其中，第一主动齿轮与第一传动齿轮啮合传动连接，第二主动齿轮与第二传动齿轮啮合传动连接，第一传动齿轮的径向尺寸大于第二传动齿轮的径向尺寸，第一主动齿轮的径向尺寸小于第二主动齿轮的径向尺寸，第一主动齿轮与第一传动齿轮或第二主动齿轮与第二传动齿轮中的一组能够处于啮合状态，使得传动切换机构能够进行速度或精度切换；第一主动齿轮与第二主动齿轮通过转轴同轴连接，第一传动齿轮与第二传动齿轮通过传动轴同轴连接，转轴与传动轴均垂直于第二固定板并与第二固定板可转动连接，第一主动齿轮与第二主动齿轮之间的距离大于第一传动齿轮与第二传动齿轮之间的距离；转轴远离第二固定板的一端固定有旋转钮。
[0014]根据本专利技术实施例的一个方面，第二固定板与第二主动齿轮之间设置有复位弹簧，当复位弹簧被外力压缩，第二主动齿轮与第二传动齿轮处于啮合状态，当外力撤去后，复位弹簧回弹，使得第一主动齿轮与第一传动齿轮处于啮合状态；转轴为伸缩的杆状结构体，复位弹簧套设于转轴上。
[0015]根据本专利技术实施例的一个方面，第二调节组件进一步包括沿第一方向延伸的移动件和与移动件连接的调节机构，移动件分别活动连接于第二调节组件的第一连杆与第二连杆，调节机构通过移动件驱动第二调节组件的多个调节单元往复移动。
[0016]根据本专利技术实施例的一个方面，调节机构包括与第二固定板可转动连接的调节轮，调节轮位于移动件靠近调节单元的一侧且与移动件可接触连接，调节轮为偏心结构，以通过转动调节轮带动移动件沿第二方向往复移动；调节轮与第二固定板通过转轴可转动连接，调节轮具有连接孔，转轴插接于连接孔且与连接孔可接触连接，以使调节轮对转轴施加传动摩擦力；调节机构还包括与调节轮固定连接的调节臂，调节臂与调节轮为一体式结构；调节臂沿第一方向延伸并延伸出第二固定板一部分，第二固定板有与调节臂相应的限位槽，以用于将调节臂限制于第二固定板的预设位置。
[0017]根据本专利技术实施例的一个方面，调节机构进一步包括固定于第二固定板的固定件，固定件位于移动件远离调节轮的一侧，固定件与移动件之间设置有分离弹簧，分离弹簧始终处于压缩状态，以使移动件产生向远离固定件移动的趋势；移动件靠近固定件的一侧设置有滑动杆，固定件设置有与滑动杆相匹配的轴孔，滑动杆插接于轴孔与并轴孔滑动配合，分离弹簧套设在滑动杆上。
[0018]与现有技术相比，根据本专利技术实施例提供的芯片测试装置，夹持部包括多个夹持单元，每个夹持单元固定一个芯片管脚，进而避免多个芯片管脚之间接触短路问题，同时，芯片管脚可通过夹持单元及连接柱与测试探头形成稳定连接，进而避免手扶探头测试带来的信号抖动问题。此外，通过第一调节组件与第二调节组件之间联动调节相邻夹持单元之间的间距，以适应芯片管脚间距不同的芯片，提高普适性，同时，通过第二调节组件调节相邻第二夹持部之间的本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种芯片测试装置，其特征在于，包括：固定架；连接柱，设置于所述固定架上；夹持部，设置于所述固定架，所述夹持部包括多个夹持单元，所述夹持单元包括第一夹持部和第二夹持部，所述第一夹持部与所述第二夹持部之间形成用于夹持芯片管脚的开口，所述第一夹持部与所述第二夹持部中的一者与所述连接柱电连接；间距调节组件，设置于所述固定架，所述间距调节组件包括第一调节组件和第二调节组件，所述第一调节组件与所述第二调节组件之间通过联动调节件连接，以使得所述第一调节组件与所述第二调节组件联动，多个所述第一夹持部和所述第二夹持部分别连接于所述第一调节组件和所述第二调节组件，以实现各个夹持单元中的所述第一夹持部与所述第二夹持部之间的分合。2.根据权利要求1所述的芯片测试装置，其特征在于，所述第一夹持部和所述第二夹持部均沿第一方向延伸并且延伸出固定架一部分。3.根据权利要求1所述的芯片测试装置，其特征在于，所述第一调节组件和所述第二调节组件上均设置有沿第一方向延伸的连接件，所述第一夹持部与所述第二夹持部分别通过所述连接件连接于所述第一调节组件和所述第二调节组件；所述第一调节组件与所述第二调节组件均包括多个调节单元，多个所述调节单元通过第一连接轴依次连接，所述连接件连接于所述第一连接轴上；所述调节单元包括第一连杆和第二连杆，所述第一连杆与所述第二连杆通过第二连接轴交叉连接。4.根据权利要求3所述的芯片测试装置，其特征在于，所述联动调节件包括第一联动滑轨和第二联动滑轨，所述第一联动滑轨和所述第二联动滑轨的两侧均具有与所述第一连接轴相匹配的连接槽，所述第一连接轴插接于所述连接槽并与所述连接槽滑动配合。5.根据权利要求3所述的芯片测试装置，其特征在于，所述固定架包括相对设置的第一固定板和第二固定板，所述第一调节组件与所述第二调节组件通过所述第二连接轴设置于所述第一固定板与所述第二固定板之间，所述第一固定板与所述第二固定板的内侧表面均具有沿第二方向延伸并与所述第二连接轴相匹配的限位槽，所述第二连接轴插接于所述限位槽与并所述限位槽滑动配合，所述第一方向与所述第二方向相交。6.根据权利要求1所述的芯片测试装置，其特征在于，所述第一夹持部与所述第二夹持部均包括基座和夹持块，其中，所述基座固定于所述连接件，所述基座与所述夹持块的一者设置有轴孔，另一者设置有与所述轴孔相匹配的转轴，所述转轴插接于所述轴孔与并所述轴孔转动配合。7.根据权利要求6所述的芯片测试装置，其特征在于，所述基座与所述夹持块之间设置有弹性块，所述夹持块与所述弹性块接触连接，所述夹持块靠近所述弹性块的一端为偏心结构，以使所述夹持块转动时具有向芯片管脚靠近的回弹力；所述基座的两侧设置有限位块，以将所述夹持块限制于预设位置；所述第一夹持部与所述第二夹持部中与所述连接柱电连接的一者还包括电连接件，所述电连接件固定于所述夹持块朝向相邻的另一夹持块的一侧表面，所述另一夹持块为绝缘体。
8.根据权利要求5所述的芯片测试装置，其特征在于，所述第一调节组件进一步包括传动切换机构、第一传动齿条和第二传动齿条，所述传动切换机构设置于所述第二固定板且包括第一传动齿轮，所述第一传动齿轮与所述第一传动齿条啮合连接，以驱动第一传动齿条，所述第一传动齿条滑动连接于所述固定架的一内侧表面并与所述第二传动齿条通过对向齿轮啮合传动连接，以使所述第一传动齿条与所述第二传动齿条的移动方向相反，所述第一传动齿条与所述第二传动齿条中一者连接于所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：何宁，
申请(专利权)人：中国移动通信集团有限公司，
类型：发明
国别省市：