一种用于检测芯片闩锁效应的测试系统及其方法技术方案

本发明专利技术提供了一种用于检测芯片闩锁效应的测试系统及其方法，所述测试系统包括稳压电源、PCB板、待测芯片和万用表，其中，PCB板包括稳压电源电压装置、电信号脉冲产生装置、待测设备插座和触发开关；当进行检测待测芯片闩锁效应测试时，使用万用表测量待测芯片电源管脚的电流值，判断触发的脉冲电压信号是否造成闩锁效应，使得待测芯片的闩锁效应测试具有快速、易实现，测试过程简化且低成本的特点。测试过程简化且低成本的特点。测试过程简化且低成本的特点。

【技术实现步骤摘要】
一种用于检测芯片闩锁效应的测试系统及其方法


[0001]本专利技术涉及集成电路芯片可靠性测试领域
，尤其涉及一种用于检测芯片闩锁效应的测试系统及其方法。

技术介绍

[0002]随着电子技术的发展，电子电路的集成度越来越高，相关的电压瞬变会引起半导体器件失效，即闩锁效应(latch
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up)。闩锁效应可使得器件在电源与地之间形成短路，造成大电流、EOS和器件损坏，是影响器件可靠性的一个潜在的严重问题。所以，通过闩锁测试评价芯片的抗闩锁能力，对于保证芯片的质量具有很重要的意义。本专利针对现有测试过程中存在的问题，提出了一种自主摸底测试的方案。
[0003]现有的测试闩锁效应的方法主要是委外第三方检测机构利用MK2机台进行测试。具体过程为：准备好足够数量的样品，进行闩锁测试前的电性能测试及IV测试，这个过程需要1天时间；然后准备针对此产品的闩锁测试方案发给第三方检测机构，之后将样品寄出到第三方检测机构，第三方检测机构收到样品需要1天时间；第三方检测机构收到样品后需要准备测试环境及测试脚本，然后利用MK2机台进行闩锁测试本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于检测芯片闩锁效应的测试系统，其特征在于，所述测试系统包括稳压电源、PCB板、待测芯片和万用表，其中，PCB板包括稳压电源电压装置、电信号脉冲产生装置、待测设备插座和触发开关；稳定电源通过其电源接口和地接口连接PCB板上的稳压电源电压装置，稳压电源电压装置分别向待测设备插座、电信号脉冲产生装置和触发开关提供电源；触发开关控制稳压电源提供电源，并选择待测芯片待测PIN；待测设备插座连接待测芯片，万用表串联连接待测芯片的电源管脚，测试待测芯片电源管脚的电流值。2.如权利要求1所述的用于检测芯片闩锁效应的测试系统，其特征在于，所述稳压电源电压装置包括稳压电源输入接口和脉冲电压输入接口，稳压电源输入接口与脉冲电压输入接口相互隔离开。3.如权利要求2所述的用于检测芯片闩锁效应的测试系统，其特征在于，所述稳压电源输入接口连接稳定电源，输出电源。4.如权利要求2所述的用于检测芯片闩锁效应的测试系统，其特征在于，所述脉冲电压输入接口连接稳定电源，输出脉冲电压信号。5.如权利要求4所述的用于检测芯片闩锁效应的测试系统，其特征在于，所述脉冲电压输入接口连接万用表，并使用万用表测量脉冲电压输入接口的触发电压值。6.如权利要求1所述的用于检测芯片闩锁效应的测试系统，其特征在于，所述触发开...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘静，陈凝，郭耀华，欧阳睿，赵旭，
申请(专利权)人：紫光同芯微电子有限公司，
类型：发明
国别省市：